发明授权
CN102735152B 一种吸波涂层测厚仪的校准和测量方法
失效 - 权利终止
- 专利标题： 一种吸波涂层测厚仪的校准和测量方法
- 专利标题（英）： Calibrating and measuring method of microwave absorbing coating thickness measuring instrument
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申请号： CN201210184345.8申请日： 2012-06-06
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公开(公告)号： CN102735152B公开(公告)日： 2014-08-27
- 发明人: 程玉华 , 邓龙江 , 姜籍翔 , 谢建良 , 郑晓刚 , 李侃竹 , 窦中杰
- 申请人： 电子科技大学
- 申请人地址： 四川省成都市高新区(西区)西源大道2006号
- 专利权人： 电子科技大学
- 当前专利权人： 电子科技大学
- 当前专利权人地址： 四川省成都市高新区(西区)西源大道2006号
- 代理机构： 成都行之专利代理事务所
- 代理商 温利平
- 主分类号： G01B7/06
- IPC分类号： G01B7/06
摘要：
本发明公开了一种吸波涂层测厚仪的校准和测量方法，通过采用函数模型，即拟合曲线y=a/(K-x)+b来对吸波涂层的厚度进行计算，测量出吸波涂层的厚度y。a、K和b为需要确定的系数，校准的目的就是确定这三个系数。对于确定厚度范围的吸波涂层，并在一定硬件条件下，由这三个参数即可比较准确地计算涂层厚度，同时，采用本发明的校准方法得到的这三个参数很好的反映了电压值x和涂层厚度y的关系。因此，吸波涂层测厚仪的测量精度。
公开/授权文献
- CN102735152A 一种吸波涂层测厚仪的校准和测量方法 公开/授权日：2012-10-17
