发明公开
- 专利标题: 半导体器件的制造方法
- 专利标题(英): Preparation method of semiconductor device
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申请号: CN201010625100.5申请日: 2010-12-17
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公开(公告)号: CN102543893A公开(公告)日: 2012-07-04
- 发明人: 泽田佳奈子 , 青木秀夫 , 小牟田直幸 , 小木曾浩二
- 申请人: 株式会社东芝
- 申请人地址: 日本东京都
- 专利权人: 株式会社东芝
- 当前专利权人: 东芝存储器株式会社
- 当前专利权人地址: 日本东京都
- 代理机构: 永新专利商标代理有限公司
- 代理商 徐殿军
- 主分类号: H01L23/00
- IPC分类号: H01L23/00 ; H01L21/60 ; B23K1/00 ; B23K1/008
摘要:
一种半导体器件的制造方法。在一个实施方式中,在暂时固定焊料凸点彼此而使具有第一焊料凸点的第一基板和具有第二焊料凸点的第二基板层叠之后配置到炉内。在对炉内排气以形成减压气氛之后,导入羧酸气体。使导入羧酸气体后的炉内温度上升,并且在由羧酸气体对氧化膜的还原温度以上、并且不到焊料凸点的熔融温度的温度区域内,对炉内排气以构成减压气氛。使炉内温度上升到焊料凸点的熔融温度以上的温度区域,并使第一焊料凸点和第二焊料凸点熔融而接合。
公开/授权文献
- CN102543893B 半导体器件的制造方法 公开/授权日:2014-12-17
IPC分类: