发明公开
- 专利标题: 真空处理装置、真空处理方法以及微细加工装置
- 专利标题(英): Vacuum processing apparatus, vacuum processing method, and micro-machining apparatus
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申请号: CN201110287175.1申请日: 2011-09-15
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公开(公告)号: CN102437001A公开(公告)日: 2012-05-02
- 发明人: 土桥和也 , 布濑晓志 , 星野聪彦 , 妹尾武彦 , 吉野裕
- 申请人: 东京毅力科创株式会社 , 岩谷产业株式会社
- 申请人地址: 日本东京都
- 专利权人: 东京毅力科创株式会社,岩谷产业株式会社
- 当前专利权人: 东京毅力科创株式会社,岩谷产业株式会社
- 当前专利权人地址: 日本东京都
- 代理机构: 北京集佳知识产权代理有限公司
- 代理商 李伟; 舒艳君
- 优先权: 2010-209832 2010.09.17 JP
- 主分类号: H01J37/32
- IPC分类号: H01J37/32 ; C23F4/00
摘要:
本发明涉及真空处理装置、真空处理方法以及微细加工装置。在真空室(31)内设置有喷嘴部(5),按照与喷嘴部(5)的喷出口对置的方式保持硅基板(W)。以0.3MPa~2.0MPa从喷嘴部(5)的基端侧供给例如ClF3气体以及Ar气体,使该混合气体从喷嘴部(5)的顶端侧向1Pa~100Pa的真空气氛喷出。由此混合气体进行绝热膨胀,Ar原子、ClF3的分子结合在一起成为气体团簇(C)。在该气体团簇(C)未离子化的情况下,向硅基板(W)的表面部喷射,使该表面部多孔质化。而且在不破坏真空的情况下,在其它的真空室(41)中对该硅基板(W)的表面进行锂的溅射成膜。