发明公开
- 专利标题: 采样部件、进样装置及离子迁移谱仪
- 专利标题(英): Sampling part, sample introduction device and ion mobility spectrometer
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申请号: CN200910243787.3申请日: 2009-12-24
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公开(公告)号: CN102109434A公开(公告)日: 2011-06-29
- 发明人: 王耀昕 , 张阳天 , 林津 , 薛斌 , 贺文 , 彭华 , 焦鹏
- 申请人: 同方威视技术股份有限公司
- 申请人地址: 北京市海淀区双清路同方大厦A座2层
- 专利权人: 同方威视技术股份有限公司
- 当前专利权人: 同方威视技术股份有限公司
- 当前专利权人地址: 北京市海淀区双清路同方大厦A座2层
- 代理机构: 北京清亦华知识产权代理事务所
- 代理商 宋合成
- 主分类号: G01N1/44
- IPC分类号: G01N1/44 ; G01N27/62
摘要:
本发明公开一种采样部件,采样部件包括采样本体,所述采样本体能够被通电加热且所述采样本体的外表面上具有擦拭采样区;以及绝缘手柄,所述绝缘手柄与采样本体的纵向一端相连。根据本发明的采样部件置入解析腔后直接与外接电源的触点相接触,接通电源加热采样本体,从而实现样品解析,而采样部件取走时立刻断电。这样,可使进样器的电源实现间断工作,减小系统功耗,同时可避免因进样装置长期高温工作导致的系统故障。本发明还公开一种具有上述采样部件的进样装置和具有该进样装置的离子迁移谱仪。
公开/授权文献
- CN102109434B 采样部件、进样装置及离子迁移谱仪 公开/授权日:2013-02-20