- 专利标题: 非易失性存储器件和系统及非易失性存储器件编程方法
- 专利标题(英): Nonvolatile memory device, method of programming the same and memory system including the same
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申请号: CN201010260571.0申请日: 2010-08-24
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公开(公告)号: CN101996681A公开(公告)日: 2011-03-30
- 发明人: 姜东求 , 金亨埈
- 申请人: 三星电子株式会社
- 申请人地址: 韩国京畿道
- 专利权人: 三星电子株式会社
- 当前专利权人: 三星电子株式会社
- 当前专利权人地址: 韩国京畿道
- 代理机构: 北京市柳沈律师事务所
- 代理商 钱大勇
- 优先权: 78194/09 2009.08.24 KR; 12/859,860 2010.08.20 US
- 主分类号: G11C16/02
- IPC分类号: G11C16/02 ; G11C16/14
摘要:
一种对包括N比特多电平单元(MLC)存储单元的非易失性存储器编程的方法包括:对该MLC存储单元执行递增步长脉冲编程(ISPP)操作,其中该ISPP操作包括第一至第N页编程操作的编程序列,其中N是2或更大的整数。该编程序列还包括在第(N-1)页编程操作之后且在第N页编程操作之前执行的擦除编程,其中该擦除页编程增大该MLC存储单元当中的擦除单元的阈值电压分布。
公开/授权文献
- CN101996681B 非易失性存储器件和系统及非易失性存储器件编程方法 公开/授权日:2015-04-01