发明授权
- 专利标题: 腔室环境的控制方法
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申请号: CN200910084869.8申请日: 2009-05-19
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公开(公告)号: CN101894737B公开(公告)日: 2011-12-21
- 发明人: 吴桂龙
- 申请人: 北京北方微电子基地设备工艺研究中心有限责任公司
- 申请人地址: 北京市朝阳区酒仙桥东路1号
- 专利权人: 北京北方微电子基地设备工艺研究中心有限责任公司
- 当前专利权人: 北京北方微电子基地设备工艺研究中心有限责任公司
- 当前专利权人地址: 北京市朝阳区酒仙桥东路1号
- 代理机构: 北京集佳知识产权代理有限公司
- 代理商 逯长明; 王宝筠
- 主分类号: H01L21/00
- IPC分类号: H01L21/00 ; C23C16/30 ; H01L21/20 ; H01L21/3065 ; H01L21/311 ; C23F4/00
摘要:
本发明提供一种腔室环境的控制方法,包括:对晶片进行等离子体加工工艺前,在腔室内原位沉积钝化层,使得腔室内部环境均被该钝化层覆盖,接着进行该晶片的等离子体加工工艺,于是各个晶片在加工过程中腔室内均为被钝化层覆盖的环境。在以后其他晶片的等离子体加工时,可以每隔几个晶片重复沉积一次所述钝化层,可选的,每连续加工一定数量的晶片后,在下一晶片加工前重新沉积一次钝化层。优选的,在腔室内原位沉积钝化层之后还包括:对所述钝化层进行等离子体清洗,以去除所述钝化层表面的附着物。采用本发明提供的控制方法在批量晶片的等离子体加工过程中控制腔室内的环境,有利于提高等离子体加工的生产效率和降低成本。
公开/授权文献
- CN101894737A 腔室环境的控制方法 公开/授权日:2010-11-24
IPC分类: