发明授权
- 专利标题: 用来对基板进行化学机械抛光的方法
- 专利标题(英): Method for chemical mechanical polishing of a substrate
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申请号: CN201010184693.6申请日: 2010-04-28
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公开(公告)号: CN101875182B公开(公告)日: 2012-12-05
- 发明人: 刘振东 , 郭毅
- 申请人: 罗门哈斯电子材料CMP控股股份有限公司
- 申请人地址: 美国特拉华州
- 专利权人: 罗门哈斯电子材料CMP控股股份有限公司
- 当前专利权人: 罗门哈斯电子材料CMP控股股份有限公司
- 当前专利权人地址: 美国特拉华州
- 代理机构: 上海专利商标事务所有限公司
- 代理商 陈哲锋; 周承泽
- 优先权: 12/432,021 2009.04.29 US
- 主分类号: B24B37/04
- IPC分类号: B24B37/04 ; H01L21/304
摘要:
一种用来对基板进行化学机械抛光的方法,该方法包括:提供一种基板,所述基板包含二氧化硅;提供一种化学机械抛光组合物,该化学机械抛光组合物包含:水,磨料;式(I)所示的双季阳离子;以及任选的季烷基铵化合物;提供化学机械抛光垫;在所述化学机械抛光垫和基板之间的界面处建立动态接触;以及在所述化学机械抛光垫和基板之间的界面处或界面附近将所述化学机械抛光组合物分配在所述化学机械抛光垫上;所述化学机械抛光组合物的pH为2-6;所述化学机械抛光组合物的二氧化硅去除速率至少为1,500/分钟。
公开/授权文献
- CN101875182A 用来对基板进行化学机械抛光的方法 公开/授权日:2010-11-03