发明授权
- 专利标题: 电阻变化型非易失性存储装置
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申请号: CN200880025595.9申请日: 2008-12-15
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公开(公告)号: CN101779287B公开(公告)日: 2011-12-21
- 发明人: 岛川一彦 , 神泽好彦 , 三谷觉 , 村冈俊作
- 申请人: 松下电器产业株式会社
- 申请人地址: 日本大阪府
- 专利权人: 松下电器产业株式会社
- 当前专利权人: 松下半导体解决方案株式会社
- 当前专利权人地址: 日本大阪府
- 代理机构: 永新专利商标代理有限公司
- 代理商 陈萍
- 优先权: 134815/2008 2008.05.22 JP
- 国际申请: PCT/JP2008/003769 2008.12.15
- 国际公布: WO2009/141857 JA 2009.11.26
- 进入国家日期: 2010-01-21
- 主分类号: H01L27/10
- IPC分类号: H01L27/10 ; H01L45/00 ; H01L49/00
摘要:
提供一种可将存储器单元的晶体管的尺寸最优化的电阻变化型非易失性存储装置。具备存储器单元(300),该存储器单元(300)由电阻变化元件(309)与晶体管(317)串联连接而成,该电阻变化元件(309)包括下部电极(309a)、上部电极(309c)、以及根据向两电极间施加的极性不同的电信号而可逆地变化的电阻变化层(309b),晶体管(317)包括半导体基板(301)和两个N型扩散层区域(302a、302b);电阻变化层(309b)包含缺氧型的过渡金属的氧化物,下部电极(309a)和上部电极(309c)由包含不同元素的材料构成,下部电极(309a)的标准电极电位V1、上部电极(309c)的标准电极电位V2及上述过渡金属的标准电极电位Vt满足Vt<V2且V1<V2的关系,下部电极(309a)与N型扩散层区域(302b)连接。
公开/授权文献
- CN101779287A 电阻变化型非易失性存储装置 公开/授权日:2010-07-14
IPC分类: