- 专利标题: 绝缘体上硅的横向绝缘栅双极晶体管及工艺制造方法
- 专利标题(英): Silicon-on-insulator lateral insulated gate bipolar transistor and process manufacturing method
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申请号: CN200910212763.1申请日: 2009-11-09
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公开(公告)号: CN101764150B公开(公告)日: 2012-01-04
- 发明人: 易扬波 , 李海松 , 王钦 , 刘侠 , 陈文高 , 陶平
- 申请人: 苏州博创集成电路设计有限公司
- 申请人地址: 江苏省苏州市苏州工业园区独墅湖林泉街399号1号楼3层
- 专利权人: 苏州博创集成电路设计有限公司
- 当前专利权人: 苏州博创集成电路设计有限公司
- 当前专利权人地址: 江苏省苏州市苏州工业园区独墅湖林泉街399号1号楼3层
- 代理机构: 南京经纬专利商标代理有限公司
- 代理商 楼高潮
- 主分类号: H01L29/739
- IPC分类号: H01L29/739 ; H01L29/06 ; H01L21/331 ; H01L21/316 ; H01L21/265
摘要:
一种高压绝缘体上硅的横向绝缘栅双极晶体管的工艺制造方法,包括:P型掺杂半导体衬底,在P型掺杂半导体衬底上面设有埋氧层,在氧化层上设有N型漂移区,该绝缘体上硅的横向绝缘栅双极晶体管的场氧化层属于二阶场氧化层,栅极延伸至场氧化层上方形成的场板是二阶场板。二阶场氧化层的形成是用先淀积氧化层,经过刻蚀和热生长形成的。N型掺杂缓冲区是通过二阶场氧化层自对准用高能离子注入形成的。
公开/授权文献
- CN101764150A 绝缘体上硅的横向绝缘栅双极晶体管及工艺制造方法 公开/授权日:2010-06-30
IPC分类: