发明授权
CN101665905B 铝诱导低温制备大晶粒多晶硅薄膜的方法
失效 - 权利终止
- 专利标题: 铝诱导低温制备大晶粒多晶硅薄膜的方法
- 专利标题(英): Aluminum-induced low temperature preparation method of large grain size polysilicon film
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申请号: CN200910145177.X申请日: 2009-10-13
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公开(公告)号: CN101665905B公开(公告)日: 2011-01-05
- 发明人: 沈鸿烈 , 唐正霞 , 鲁林峰 , 漆海平 , 江丰
- 申请人: 南京航空航天大学 , 江西斯若普能源有限公司
- 申请人地址: 江苏省南京市白下区御道街29号
- 专利权人: 南京航空航天大学,江西斯若普能源有限公司
- 当前专利权人: 南京航空航天大学,江西斯若普能源有限公司
- 当前专利权人地址: 江苏省南京市白下区御道街29号
- 代理机构: 南京经纬专利商标代理有限公司
- 代理商 唐小红
- 主分类号: C23C14/06
- IPC分类号: C23C14/06 ; C23C14/10 ; C23C14/18 ; C23C14/35 ; C23C14/46 ; C23C14/24 ; C23C14/58 ; C30B28/12
摘要:
本发明公开一种铝诱导低温制备大晶粒多晶硅薄膜的方法,制备的多晶硅薄膜晶粒达100微米以上且表面光滑平整。包括如下过程:(1)在衬底上沉积非晶硅薄膜2;(2)继续生成二氧化硅薄膜;(3)继续沉积铝薄膜,得到衬底/a-Si/SiO2/Al叠层;(4)将衬底/a-Si/SiO2/Al叠层置于真空退火炉中,在惰性气氛保护下,分三步退火;(5)用铝腐蚀液腐蚀去除表面残留的铝。本发明是一种在廉价的衬底上低温制备大晶粒,并且结晶取向和表面粗糙度可控的多晶硅薄膜的方法,在薄膜太阳能电池等领域有广阔的应用前景。
公开/授权文献
- CN101665905A 铝诱导低温制备大晶粒多晶硅薄膜的方法 公开/授权日:2010-03-10
IPC分类: