Invention Publication
- Patent Title: 一种测量物质有效原子序数的方法和装置
- Patent Title (English): Method and device for measuring effective atomic number of substance
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Application No.: CN200810116760.3Application Date: 2008-07-16
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Publication No.: CN101629917APublication Date: 2010-01-20
- Inventor: 李树伟 , 王义 , 李元景 , 李金 , 康克军 , 李玉兰 , 杨祎罡 , 岳骞 , 张清军 , 赵书清 , 朱维彬 , 孔祥众
- Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
- Applicant Address: 北京市海淀区清华园北京100084-82信箱
- Assignee: 清华大学,同方威视技术股份有限公司
- Current Assignee: 清华大学,同方威视技术股份有限公司
- Current Assignee Address: 北京市海淀区清华园北京100084-82信箱
- Agency: 北京路浩知识产权代理有限公司
- Agent 戚传江
- Main IPC: G01N23/087
- IPC: G01N23/087

Abstract:
本发明公开了一种测量物质有效原子序数的装置,所述装置包括:X射线源,向被测物体发射不同能量的X射线;切伦科夫探测器,接收通过所述被测物体的X射线,并生成第一电信号;能量沉积类探测器,接收通过所述被测物体的X射线,并生成第二电信号;处理器,用于根据所述第一电信号和第二电信号,获取所述被测物体的有效原子序数。本发明还公开了一种测量物质有效原子序数的方法。本发明通过将切伦科夫探测器和能量沉积类探测器相结合测量物质有效原子序数的方法,相对于能量较低的X的光子,能量较高的X射线光子在切伦科夫探测器探测时更容易形成较大的信号,从而增强了获取的物质有效原子序数的分辨效果。
Public/Granted literature
- CN101629917B 一种测量物质有效原子序数的方法和装置 Public/Granted day:2011-09-14
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