一种测量物质有效原子序数的方法和装置
Abstract:
本发明公开了一种测量物质有效原子序数的装置,所述装置包括:X射线源,向被测物体发射不同能量的X射线;切伦科夫探测器,接收通过所述被测物体的X射线,并生成第一电信号;能量沉积类探测器,接收通过所述被测物体的X射线,并生成第二电信号;处理器,用于根据所述第一电信号和第二电信号,获取所述被测物体的有效原子序数。本发明还公开了一种测量物质有效原子序数的方法。本发明通过将切伦科夫探测器和能量沉积类探测器相结合测量物质有效原子序数的方法,相对于能量较低的X的光子,能量较高的X射线光子在切伦科夫探测器探测时更容易形成较大的信号,从而增强了获取的物质有效原子序数的分辨效果。
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