发明授权
- 专利标题: 一种改进型折叠结构ADC
- 专利标题(英): Improved ADC in stacking structure
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申请号: CN200810065349.8申请日: 2008-02-03
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公开(公告)号: CN101499802B公开(公告)日: 2014-04-23
- 发明人: 王韧 , 刘敬波 , 胡江鸣 , 常军锋 , 石岭
- 申请人: 深圳艾科创新微电子有限公司
- 申请人地址: 广东省深圳市南山区高新区中区科技中二路软件园一期4栋4楼406室
- 专利权人: 深圳艾科创新微电子有限公司
- 当前专利权人: 深圳开阳电子股份有限公司
- 当前专利权人地址: 广东省深圳市南山区高新区中区科技中二路软件园一期4栋4楼406室
- 主分类号: H03M1/10
- IPC分类号: H03M1/10 ; H03M1/34
摘要:
本发明公开了一种改进型折叠结构ADC,包括粗量化器、细量化器,还包括细量化区间选择器和纠错模块;其中,输入模拟信号分别输入至粗量化器和细量化器,经粗量化器得到的N1位输出MSB[N1-1:0]连接至纠错模块的一输入端,同时经细量化区间选择器得到区间值输入到细量化器中,所述细量化器的N2+2位输出LSB[N2+1:0]作为纠错模块的另一输入端,纠错模块的输出为该ADC的数字输出信号。本发明所述改进型折叠结构ADC节省了芯片的面积,且在细量化器精度允许的情况下,能够在一定程度上纠正粗量化器的精度导致在折叠点处的误差,具有较好的容错性。
公开/授权文献
- CN101499802A 一种改进型折叠结构ADC 公开/授权日:2009-08-05