发明授权
CN101435695B 一种图片几何特征参数测量系统
失效 - 权利终止
- 专利标题: 一种图片几何特征参数测量系统
- 专利标题(英): System for measuring geometrical characteristic parameter of picture
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申请号: CN200810236725.5申请日: 2008-12-09
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公开(公告)号: CN101435695B公开(公告)日: 2010-10-13
- 发明人: 刘宏 , 宋恩民 , 潘宁 , 代四广
- 申请人: 华中科技大学
- 申请人地址: 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号
- 专利权人: 华中科技大学
- 当前专利权人: 华中科技大学
- 当前专利权人地址: 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号
- 代理机构: 华中科技大学专利中心
- 代理商 曹葆青
- 主分类号: G01B11/00
- IPC分类号: G01B11/00
摘要:
本发明公开了一种图片几何特征参数测量系统,属于计算机辅助测量分析技术的应用领域。它包括位置信号采集器、数据处理器和显示屏、功能选择器和信号发射器;信号发射器用于在待测图片的表面上发射用户选择的位置点的信号;位置信号采集器从其面对的图片区域内采集由发射器发射的位置点的信号,确定用户感兴趣的区域。数据处理器接收位置信号采集器传送的采集相对坐标,将其转换为实际相对坐标,再根据功能选择器提供的功能选择信号,处理将结果传送至显示屏。本发明系统采用数字化的测量方法,可帮助图片阅读者在阅读图片时方便地测量和比较图片中感兴趣的几何特征参数,如:距离、角度、形状和面积等。
公开/授权文献
- CN101435695A 一种图片几何特征参数测量系统 公开/授权日:2009-05-20