发明授权
- 专利标题: 光刻机掩模预对准系统
- 专利标题(英): Pre-aligning system for mask of photo-etching machine
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申请号: CN200810202699.4申请日: 2008-11-13
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公开(公告)号: CN101403865B公开(公告)日: 2011-03-30
- 发明人: 朱立荣 , 储兆祥
- 申请人: 上海微电子装备有限公司
- 申请人地址: 上海市张江高科技园区张东路1525号
- 专利权人: 上海微电子装备有限公司
- 当前专利权人: 上海微电子装备(集团)股份有限公司
- 当前专利权人地址: 上海市张江高科技园区张东路1525号
- 代理机构: 上海思微知识产权代理事务所
- 代理商 屈蘅; 李时云
- 主分类号: G03F9/00
- IPC分类号: G03F9/00 ; G03F7/20
摘要:
本发明提供一种光刻机掩模预对准系统。本发明所公开的光刻机掩模预对准系统包括:位于掩模台的第一标记和第二标记;第一光路系统,包括第一照明模块、第一成像模块和第一探测模块;第二光路系统,包括第二照明模块、第二成像模块和第二探测模块;所述第一照明模块包括第一光源单元和第一准直单元,所述第二照明模块包括第二光源单元和第二准直单元,其中,所述第一光路系统与所述第二光路系统的结构相同。本发明具有对准精度高,测量范围大的特点,可实现掩模和掩模夹具与物镜工件台的预对准,使掩模进入到精密对准系统的捕获范围内以提高精密对准的效率,并使掩模位于物镜扫描范围内。
公开/授权文献
- CN101403865A 光刻机掩模预对准系统 公开/授权日:2009-04-08