发明授权
- 专利标题: 包含偶联的电介质层和金属层的半导体器件、其制造方法和用于偶联半导体器件中的电介质层和金属层的材料
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申请号: CN200680031917.1申请日: 2006-09-01
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公开(公告)号: CN101287777B公开(公告)日: 2011-12-21
- 发明人: 亚诺什·法尔卡斯 , 斯尔詹·科尔迪克 , 辛迪·戈德堡
- 申请人: 飞思卡尔半导体公司 , NXP股份有限公司
- 申请人地址: 美国得克萨斯州
- 专利权人: 飞思卡尔半导体公司,NXP股份有限公司
- 当前专利权人: 恩智浦美国有限公司,NXP股份有限公司
- 当前专利权人地址: 美国得克萨斯州
- 代理机构: 中科专利商标代理有限责任公司
- 代理商 陈瑞丰
- 优先权: PCT/EP2005/010688 2005.09.01 EP
- 国际申请: PCT/EP2006/065903 2006.09.01
- 国际公布: WO2007/026010 EN 2007.03.08
- 进入国家日期: 2008-02-29
- 主分类号: C08G77/04
- IPC分类号: C08G77/04 ; C07F7/08 ; C07F7/10 ; C07F7/12 ; C07F7/18 ; C09C1/30 ; C23C18/18 ; C23C18/31 ; C23C18/54 ; H01L21/461
摘要:
一种钝化偶联材料,其一方面用于使半导体器件中的电介质层钝化,另一方面用于在随后的处理步骤中允许或至少促进在其上的液相金属沉积。在一个具体实例中,所述电介质层可以是具有适宜地降低的介电常数k的多孔材料,并且所述钝化偶联材料提供基本上阻挡将环境水分吸附并且吸入到所述多孔电介质层中的空间屏蔽基团。所述钝化偶联材料还提供与不存在所述钝化偶联材料的金属沉积相比,促进金属在其上以液相形式沉积的金属成核部位。使用液相金属沉积处理促进随后制造所述半导体器件。在一个实例中,所述钝化偶联材料在其化学组成中具有多个Si原子,从而适宜地增加所述材料的热稳定性。
公开/授权文献
- CN101287777A 包含偶联的电介质层和金属层的半导体器件、其制造方法和用于偶联半导体器件中的电介质层和金属层的材料 公开/授权日:2008-10-15