发明授权
- 专利标题: 半导体集成电路的布局设计仪器
- 专利标题(英): Semiconductor integrated circuit layout designing apparatus
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申请号: CN200710181212.4申请日: 2003-09-11
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公开(公告)号: CN101162481B公开(公告)日: 2010-06-23
- 发明人: 野中义弘
- 申请人: 日本电气株式会社
- 申请人地址: 日本东京
- 专利权人: 日本电气株式会社
- 当前专利权人: NLT科技股份有限公司
- 当前专利权人地址: 日本东京
- 代理机构: 中原信达知识产权代理有限责任公司
- 代理商 孙志湧; 陆锦华
- 优先权: 265067/2002 2002.09.11 JP
- 分案原申请号: 031581277 2003.09.11
- 主分类号: G06F17/50
- IPC分类号: G06F17/50 ; H01L27/02
摘要:
本发明涉及一种布局设计仪器,含有:存储装置,用于存储由多个晶体管构成的电路的电路数据;搜索装置,用于搜索一组路径,使得通路对任一晶体管只通过一次且一组中路径的组合覆盖电路数据表示的整个电路网络;抽选装置,用于从所述搜索出的各组路径中选出路径数最少的一组路径;布局宽度确定装置,依据每个晶体管的源极和漏极的宽度、源极和漏极之间区域的宽度、未结合成公共电极的相邻晶体管对的源极和漏极之间区域的宽度、晶体管数和所选出的路径组中包含路径数,确定布局宽度;布局确定装置,用于形成关于布局的信息,其中,所述电路中包括的晶体管的源、漏和栅极都位于布局宽度的小宽度区域内;以及输出装置,用于输出所述关于布局的信息。
公开/授权文献
- CN101162481A 半导体集成电路的布局设计仪器 公开/授权日:2008-04-16