发明授权
CN101140365B 不均匀检查方法、显示面板的制造方法以及不均匀检查装置
失效 - 权利终止
- 专利标题: 不均匀检查方法、显示面板的制造方法以及不均匀检查装置
- 专利标题(英): Unevenness inspection method, method for manufacturing display panel, and unevenness inspection apparatus
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申请号: CN200710153625.1申请日: 2007-09-07
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公开(公告)号: CN101140365B公开(公告)日: 2011-02-16
- 发明人: 谷崎广幸 , 丰嶋直穂子 , 冈本阳介 , 高濑康徳
- 申请人: 株式会社东芝
- 申请人地址: 日本东京都
- 专利权人: 株式会社东芝
- 当前专利权人: 株式会社东芝
- 当前专利权人地址: 日本东京都
- 代理机构: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所
- 代理商 曲瑞
- 优先权: 2006-243274 2006.09.07 JP
- 主分类号: G02F1/13
- IPC分类号: G02F1/13 ; G01J1/00
摘要:
本发明提供一种能够得到与检查员的官能检查结果相近的结果的不均匀检查方法、使用该不均匀检查方法的显示面板的制造方法、以及不均匀检查装置。在检查面板材料中有无不均匀的不均匀检查方法中,按照多个水平的条件拍摄作为检查对象的面板材料(步骤S1),从该拍摄结果中取得多张一次图像(步骤S2),对这些一次图像实施强调图像变化的处理,生成多张二次图像(步骤S3),按照规定的加权合成这些二次图像,生成合成图像(步骤S4),根据该合成图像来判定有无不均匀(步骤S5)。而且,将规定的加权决定成,使得在针对产生不均匀的示范用的面板材料生成二次图像、合成这些二次图像而生成了合成图像时,可以区分产生不均匀的区域及其以外的区域。
公开/授权文献
- CN101140365A 不均匀检查方法、显示面板的制造方法以及不均匀检查装置 公开/授权日:2008-03-12