公开(公告)号：CN111739782B

公开(公告)日：2025-02-14

申请号：CN202010205146.5

申请日：2020-03-20

Applicant: 施佩克斯表面纳米分析股份有限公司

Inventor： G·舍恩亨泽 ,  T·坎彭 ,  S·梅尔 ,  O·沙夫

IPC: H01J49/06 ,  H01J49/48 ,  H01J49/00 ,  G01N23/227

Abstract: 本发明提供一种用于沿发射电子的样本的电子光轴到能量分析仪设备的电子转移的电子成像设备，包括第一透镜组、第二透镜组和偏转器装置，其沿垂直于电子光轴的偏转方向在电子成像设备的出口平面中偏转电子，第一透镜组在第一透镜组内形成第一倒易平面，在第一透镜组和第二透镜组之间形成第一高斯平面，在第一倒易平面中生成电子动量分布的第一动量分布图像，在第一高斯平面中生成样本的第一高斯图像，第二透镜组在第二透镜组分析仪侧形成第二倒易平面，在第二倒易平面中生成电子动量分布的第二动量分布图像，且第一透镜组能够生成具有足够小尺寸的第一高斯图像，使第二动量分布图像是平行图像。还描述电子能谱仪设备、电子转移方法和电子能谱方法。

公开(公告)号：CN119375271A

公开(公告)日：2025-01-28

申请号：CN202411194987.5

申请日：2024-08-29

Applicant: 天津力神新能源科技有限公司

Inventor： 陈荣 ,  李慧芳 ,  张帆

IPC: G01N23/2251 ,  G01N23/2202 ,  G01N23/227

Abstract: 本发明属于电池测试领域，具体涉及一种正极补锂剂种类及含量的测定方法。正极补锂剂种类的确定方法包括下述步骤：利用扫描电镜‑能谱仪对待测样品进行形貌观察及Mapping测试，通过补锂剂的特征元素找出补锂剂颗粒的所在位置，通过扫描电镜‑能谱仪对补锂剂的颗粒进行点分析，通过对点分析的元素含量数据进行分析确定待测样品中补锂剂的种类。本申请的技术方案，可以对正极补锂剂的种类进行判断，此外，通过建立标准曲线，可以获得正极片中补锂剂的含量，最终可以为锂离子电池中极片配方的逆向分析提供相应的数据支持。

公开(公告)号：CN110132939B

公开(公告)日：2024-06-18

申请号：CN201910506433.7

申请日：2019-06-12

Applicant: 江苏省特种设备安全监督检验研究院

Inventor： 文煜 ,  王勤生 ,  许晨旭 ,  杨永强 ,  赵卫芳 ,  程小豹

IPC: G01N21/65 ,  G01N23/227

Abstract: 本发明公开了一种共聚焦拉曼‑光电流测试系统，涉及光电测试及拉曼测试领域，该系统中主控设备通过激光器、分光器、显微物镜和光谱仪的配合可以采集测试台上的待测试样品的拉曼光谱信号，同时通过电学探针和锁相放大器的配合可以采集该待测样品的光电流信号，从而使得该系统可以分别或同时对待测试样品进行拉曼测试和光电流测试，从而对光电器件的物理特性及器件性能进行快速精确表征，为光电器件性能的提升提供分析依据。

公开(公告)号：CN109540956B

公开(公告)日：2024-05-28

申请号：CN201811516766.X

申请日：2018-12-12

Applicant: 深圳市福瑞康科技有限公司

Inventor： 汪孟 ,  陈俊 ,  王琴

IPC: G01N23/227

Abstract: 本发明涉及医疗检测设备领域，公开了一种暗室组件与检测设备，其中暗室组件包括暗室、载物台与动力模块，暗室上设有连通该暗室的内腔的样品开口，载物台可在动力模块的驱动下从样品开口进入或者离开内腔，内腔在样品开口被封闭后形成黑暗空间。本发明设置有暗室、载物台与动力模块，暗室上设有连通该暗室的内腔的样品开口，载物台用于装载待测样品与闪烁体，且载物台可进入暗室的内腔中，协助暗室构造黑暗空间，使得待测样品、闪烁体处于同一黑暗空间内进行检测，从而使得本发明可以适应于低能射线的检测，有利于提升检测效率和检测准确率，操作更加方便。

公开(公告)号：CN117859055A

公开(公告)日：2024-04-09

申请号：CN202280052148.2

申请日：2022-07-04

Applicant: S·R·阿鲁穆甘

Inventor： S·R·阿鲁穆甘

IPC: G01N23/227 ,  G06N10/00 ,  B82Y10/00

Abstract: 本发明涉及一种方法，通过这种方法可以比以前更高的空间分辨率来定位材料中的缺陷，优选地为固体(18)中的缺陷。利用本发明，可以快速且经济地以高空间分辨率对这些缺陷进行成像。最重要的是，利用本发明可以以高灵敏度、高动态范围、大视场和优异的分辨率无接触地、自旋选择性地激发并捕获固体中的缺陷或对固体中的缺陷进行成像，这远远地超出了目前光学检测方法的能力。此外，利用根据本发明的方法，甚至对于在单个图像中检测自旋也有极大的可能性，其中使得自旋态的高对比度和自旋态的再现的更好的保真度成为可能。根据本发明的装置(10)和根据本发明的方法也非常适用于利用固体(18)中的缺陷自旋进行量子计算、能够量子化的捕获以及能够量子化的测量网络。

公开(公告)号：CN117825423A

公开(公告)日：2024-04-05

申请号：CN202311778804.X

申请日：2023-12-22

Applicant: 东南大学 ,  苏州市相城区公路事业发展中心

Inventor： 陈先华 ,  卓上智 ,  陈春 ,  张峰 ,  沈龙 ,  张磊 ,  徐刚

IPC: G01N23/2202 ,  G01N23/2251 ,  G01N23/227 ,  G01N33/42

Abstract: 本发明公开了一种新旧沥青渗透模型，包括由内向外依次设置有用于放置新沥青的新沥青存放管、多层分隔筒和用于放置旧沥青的旧沥青存放池；还包括设置在旧沥青存放池下方的第一加热装置和设置在新沥青存放管上方的第二加热装置和旋转搅拌器；本发明还公开了一种新旧沥青融合程度评估方法，包括：从实地老化后的沥青混合料中抽取得到旧沥青；利用纳米TiO2制备示踪沥青；将旧沥青和示踪沥青添加至新旧沥青渗透模型中，进行渗透模拟试验，得到新旧沥青混溶材料；待新旧沥青渗透模型中的新旧沥青混溶材料冷却固化后，将其从新旧沥青渗透模型中取出，得到环形试件；使用扫描电镜与能谱仪得到不同位置的元素分布状态，分析新沥青渗透范围，评估新旧沥青的融合状态。

公开(公告)号：CN117825208A

公开(公告)日：2024-04-05

申请号：CN202311531600.6

申请日：2023-11-17

Applicant: 北京锐达仪表有限公司

Inventor： 杨永春 ,  呼秀山

IPC: G01N9/24 ,  G01B21/08 ,  G01N23/227 ,  G01N23/02

Abstract: 本申请提供一种具有结疤厚度检测功能的自补偿型核辐射密度计，包括参数补偿模块和辐射检测模块；参数补偿模块用于获取介质温度和位点温度，以根据每个位点温度与介质温度的温差，利用第一预设映射关系，确定与每个位点对应的容器内壁的结疤厚度；辐射检测模块用于射出至少一束检测射线，并接收至少一束衰减射线，以得到至少一个检测路径的辐射衰减信息，以及，获取并通过与每个位点对应的结疤厚度对至少一个检测路径的辐射衰减信息进行补偿，以确定至少一个检测路径下待测介质的精密密度值。本申请能够实现核辐射密度计的密度测量自补偿，有效削减了结疤对测量结果的影响程度，利于降低核辐射密度计的测量误差，提高核辐射密度计的测量精度。

公开(公告)号：CN117761097A

公开(公告)日：2024-03-26

申请号：CN202311542352.5

申请日：2023-11-20

Applicant: 中国科学院上海高等研究院

Inventor： 刘聪 ,  邓彪 ,  王飞翔 ,  陶芬

IPC: G01N23/227 ,  G01N21/95 ,  G06T7/55

Abstract: 本发明提供一种纳米分辨的芯片立体成像检测设备，包括沿X射线的传播方向依次排布的束流阻挡器、单毛细管椭球聚焦镜、针孔、样品台、波带片和成像探测器、与成像探测器连接的处理器；样品台上设有待测芯片，样品台进行旋转以生成待测芯片的不同角度的投影光束；波带片将投影光束中的纳米尺度信息放大到微米量级；成像探测器采集待测芯片在两个不同角度时的投影图像；处理器设置为根据待测芯片在两个不同角度时的投影图像，利用双目立体视觉技术得到深度信息和/或立体图像。本发明还提供相应的方法。本发明的检测设备在纳米分辨下获得具有深度信息的三维立体图像，实现了纳米分辨的芯片缺陷检测。

公开(公告)号：CN117571761A

公开(公告)日：2024-02-20

申请号：CN202311375011.3

申请日：2023-10-23

Applicant: 中国科学技术大学

Inventor： 马萍萍 ,  王冠中

IPC: G01N23/2202 ,  G01N23/2251 ,  G01N23/227 ,  C25C5/02 ,  B22F1/054 ,  B22F9/24 ,  B82Y40/00 ,  C01B32/194

Abstract: 本发明公开了一种标记悬浮石墨烯边缘轮廓的方法，是在电化学鼓泡法转移石墨烯的电解液中引入金属元素，在通电过程中，金属元素在石墨烯边缘发生电结晶形成金属纳米颗粒，从而使得石墨烯边缘轮廓被标记。本发明通过对石墨烯边缘进行金属纳米颗粒修饰，使得在光学显微镜和扫描电镜下观察悬浮石墨烯形貌成为可能，从而实现了对石墨烯层数、层间转角等关键参数的定量测量。

公开(公告)号：CN117517374A

公开(公告)日：2024-02-06

申请号：CN202210900753.2

申请日：2022-07-28

Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所

Inventor： 乔山

IPC: G01N23/227

Abstract: 本发明提供一种多电子谱仪，包括：脉冲激励源、电子光学系统及若干二维图像型电子探测器；脉冲激励源从待测样品中激励出沿不同方向出射的被激励电子；二维图像型电子探测器用于记录激励粒子激励的一个或多个被激励电子各自到达二维图像型电子探测器的位置和飞行时间；电子光学系统用于将沿不同方向出射的被激励电子成像在二维图像型电子探测器上不同的位置。本发明的多电子谱仪在一个电子光学系统中实现多电子测量，可以实现二维全动量空间符合的多电子谱测量；通过在电子光学系统中引入散射靶，可以研究单、双及多电子的散射过程；特别地，通过引入铁磁性散射靶或具有高自旋‑轨道相互作用的散射靶，可以实现自旋分辨的单、双及多电子谱测量。