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公开(公告)号：CN104704379B
公开(公告)日：2017-04-26
申请号：CN201380050136.7
申请日：2013-05-22
Applicant: 吉林克斯公司
IPC: G01R31/319 , G01R31/28 , G01R31/317
CPC classification number: G01R31/31926 , G01R31/2812 , G01R31/31717 , G01R31/31723 , H01L2224/16225 , H01L2924/15311
Abstract: 一种集成电路(IC)，包括：布线电路系统，其在该集成电路的多个布线层(116，202)中包含复数条讯号线路区段(206，208)；以及复数个微凸块接点(118，204，222)，其被耦合至该布线电路系统。该集成电路包含复数个测试电路(102‑104，220，302)，被耦合至该复数条讯号线路区段所组成的相应子集。每一个测试电路被配置成用以连接该相应子集中的微凸块接点，以便形成第一组(230，320)菊链以及第二组(232，322)菊链。每一个测试电路被配置成用以测试该第一组菊链与第二组菊链的开路，并且测试该第一组菊链与第二组菊链之间的短路。每一个测试电路被配置成用以决定被侦测到之开路的位置并且决定被侦测到之短路的位置。
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公开(公告)号：CN101031809B
公开(公告)日：2012-08-01
申请号：CN200580032872.5
申请日：2005-07-28
Applicant: NXP股份有限公司
Inventor： 罗杰·弗兰克斯·舒德尔特 , 汤姆·瓦叶尔斯
IPC: G01R31/3185
CPC classification number: G01R31/31717 , G01R31/318566
Abstract: 检测集成电路的逻辑电平交叉。根据一个示例性实施例，把复位信号作为集成电路的逻辑电平的函数提供给触发器(314)。集成电路的逻辑电平交叉条件表示为触发器的复位条件的函数。在一个实施方式中，当逻辑电平与期望的逻辑电平不同时，触发器被复位。在另一实施方式中，实现了一对触发器(414，418)，使得在特定的逻辑电平仅仅一个触发器被复位。如果逻辑电平出现交叉，两个触发器都被复位。上述两个触发器被复位的条件用于指示逻辑电平交叉。
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公开(公告)号：CN101064657A
公开(公告)日：2007-10-31
申请号：CN200710096628.6
申请日：2007-04-19
Applicant: 西门子公司
IPC: H04L12/40 , H04L29/02 , G05B19/048
CPC classification number: G05B19/41855 , G01R31/3004 , G01R31/31717 , G05B2219/31138 , H04L12/10 , Y02P90/185
Abstract: 本发明公开了一种在通信网络中应用的分路元件(T1，T2)，其中在两个按照本发明构成的分路元件(T1，T2)协调作用时可以借助检查电流(I)识别出在两个分路元件(T1、T2)之间延伸的、具有电流输入导线(SZ)和电流反馈导线(SR)的通信介质、尤其是线路(H)中已消除的故障，该检查电流通过优选设置在每个分路元件中的馈入检查装置(PE)馈入，并由同样优选设置在每个分路元件(T1、T2)中的终端检查装置(PA)检测，其中每个终端检查装置(PA)在检测检查电流(I)时实施为抑制与相应的分路元件(T1、T2)对应的总线终端(BT)。
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公开(公告)号：CN1781082A
公开(公告)日：2006-05-31
申请号：CN200480011242.5
申请日：2004-02-11
Applicant: 英特尔公司
IPC: G06F11/26
CPC classification number: G01R31/3187 , G01R31/31717 , H04L1/242
Abstract: 根据一个实施方案，公开了内建的自测试(IBIST)体系结构/方法。IBIST用于测试发送器组件和接收器组件之间的互连(例如总线)的功能。IBIST体系结构包括模式生成器和模式校验器。模式校验器用于将接收到的(针对模式生成器的)多个位与前面所存储的多个位进行比较。
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公开(公告)号：CN1536862A
公开(公告)日：2004-10-13
申请号：CN200410034126.7
申请日：2000-03-31
Applicant: 阿尔卡塔尔公司
CPC classification number: H04B3/46 , G01R31/31717 , H04B17/24 , H04B17/309 , H04B17/3912 , H04L25/03006 , H04L27/2608 , H04L2025/03414 , H04L2025/03802 , H04M3/30 , H04M3/306
Abstract: 利用远端终端中采集信息估算远端终端与中心局之间的传输信道的信道特征，从远端终端发送这个信息到中心局和在中心局利用信道和远端终端模拟模型匹配该接收的信息，作为匹配处理的结果确定限定将被估计的信道特性的模型。一般由远端终端采集的信息是由远端终端用于诸如均衡器设置、比特分配等操作目的的自动采集。
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公开(公告)号：CN107436217A
公开(公告)日：2017-12-05
申请号：CN201610364728.1
申请日：2016-05-28
Applicant: 富泰华工业(深圳)有限公司 , 鸿海精密工业股份有限公司
IPC: G01M7/08
CPC classification number: G01R31/31717 , G01R1/04 , G01R1/07328 , G01R31/2853 , G01R31/2889 , G01R31/2891 , G01R31/31702 , G01R31/31937 , H01L22/14 , G01M7/08
Abstract: 本发明提供一种屏幕测试装置，用于测试一电子装置的屏幕，该测试装置包括一承载部、一第一支架、多个第二支架、多个气缸及一控制器，该承载部用于承载该电子装置，该第一支架用于固定该多个第二支架，该第二支架用于固定该气缸，该气缸对准该电子装置的屏幕，该控制器用于控制该气缸向该电子装置移动而对该电子装置的屏幕进行击打。本发明采用控制气缸击打屏幕的方式对电子装置的屏幕进行可靠性测试，从而有效地保证了电子装置的屏幕的质量。
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公开(公告)号：CN104698334A
公开(公告)日：2015-06-10
申请号：CN201510151226.6
申请日：2015-04-01
Applicant: 友达光电股份有限公司
IPC: G01R31/02
CPC classification number: G01R31/2896 , G01R31/31717 , G01R31/31937
Abstract: 本发明公开了一种集成电路及判断集成电路的接脚连接状况的方法，该集成电路包含感测输出接脚、驱动器、第一感测输入接脚、第二感测输入接脚及感测器。驱动器用以经由感测输出接脚输出脉冲宽度调制信号。第一感测输入接脚经由第一外部线路耦接于感测输出接脚，用以接收脉冲宽度调制信号。第二感测输入接脚经由第二外部线路耦接于感测输出接脚，用以接收脉冲宽度调制信号。感测器用以将第一感测输入接脚及第二感测输入接脚所分别接收的脉冲宽度调制信号分别与时脉信号进行比较以产生第一比较结果及第二比较结果。
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公开(公告)号：CN102753984B
公开(公告)日：2015-05-20
申请号：CN201080062117.2
申请日：2010-01-21
Applicant: 飞思卡尔半导体公司
IPC: G01R31/317 , G01R31/28
CPC classification number: G01R31/31717 , H01L2924/0002 , H01L2924/00
Abstract: 一种芯片损伤检测设备(10)，该芯片损伤检测设备(10)包括至少一个双稳态电路(12)，该至少一个双稳态电路(12)包括穿过半导体集成电路芯片(20)的观察区域(16，18，34)以用于观察区域的损伤监视的第一导电线路(14)。该至少一个双稳态电路被布置成：当第一导电线路的第一端(22)与第二端(24)之间的电位差改变时或者当泄漏电流过驱动在第一导电线路处的状态保持电流时，该至少一个双稳态电路从第一稳定状态翻转到第二稳定状态。另外，半导体集成电路设备(60)包括芯片损伤检测设备(10)，而安全关键系统(70)包括半导体集成电路设备(60)或芯片损伤检测电路(10)。
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公开(公告)号：CN101248363B
公开(公告)日：2012-01-18
申请号：CN200680031092.3
申请日：2006-08-22
Applicant: 日本电气株式会社
Inventor： 斋藤英彰
IPC: G01R31/28 , H01L21/822 , H01L27/04
CPC classification number: G01R31/2812 , G01R31/2853 , G01R31/31717
Abstract: 本发明的半导体器件具有一结构，包括：用于电连接第一半导体芯片和第二半导体芯片的第一芯片间互连(110)，用于预备的第二芯片间互连(120)，用于经由第一芯片间互连从第一半导体芯片传送测试信号到第二半导体芯片的测试信号发生电路(4)，用于在接收该测试信号时，经由第一芯片间互连提供第一控制信号和当未接收到测试信号时提供第二控制信号的判定电路(8)，该第二控制信号是第一控制信号的反转信号，以及当从判定电路接收第一控制信号作为输入时，设置第一芯片间互连作为路径和当接收第二控制信号作为输入时设置第二芯片间互连的切换电路(5，6)。
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公开(公告)号：CN102292647A
公开(公告)日：2011-12-21
申请号：CN201080005560.6
申请日：2010-01-22
Applicant: 晶像股份有限公司
IPC: G01R31/317
CPC classification number: G01R31/31717
Abstract: 本发明的实施例大体上针对内连线的故障测试。一故障分析装置的实施例包含一测试样式源以提供一测试样式于一传输器与一接收器间之内连线，所述内连线具有一传输器端及一接收器端，此内连线包含一第一导线及一第二导线，且此传输器于所述第一导线中传送此测试样式至所述接收器。所述装置更包含一第一开关，用以开启和关闭于第一导线的第一连结；以及一第二开关，用以开启和关闭于第二导线的第二连结。所述第一开关及第二开关对应于一架构所设置，并设置一测试路径的至少一部分以对内连线中的一或多个故障的侦测。
