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公开(公告)号：CN118396847A
公开(公告)日：2024-07-26
申请号：CN202410815676.X
申请日：2024-04-19
Applicant: 北京友通上昊科技有限公司
IPC: G06T3/4038 , G06T11/00
Abstract: 本发明属于射线成像技术领域，尤其涉及一种用于拼接的射线影像获取方法、射线影像拼接方法和系统。对于第一待拍摄部位、第二待拍摄部位，采用在重叠拍摄区域中选择自动曝光部位，获取第一待拍摄部位的第一射线影像；提取自动曝光部位在第一射线影像中的感兴趣区域；根据自动曝光部位和感兴趣区域，确定探测器的自动曝光控制区和自动曝光控制参数，并对第二个待拍摄部位进行曝光成像；确保自动曝光部位在所述第二待拍摄部位的射线影像中的亮度与在所述第一射线影像中的亮度差距可控，或者亮度相同或相近，提高控制两幅射线影像亮度差异的能力，避免拼接后影像中出现亮暗分隔带，或需要对射线影像进行复杂的亮度处理才能拼接的问题。
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公开(公告)号：CN118330713A
公开(公告)日：2024-07-12
申请号：CN202410475873.1
申请日：2024-04-19
Applicant: 北京友通上昊科技有限公司
Inventor： 邹鲁民
Abstract: 本发明属于射线成像技术领域，尤其涉及一种探测器的定位辅助装置、探测器和探测器定位系统；所述探测器的定位辅助装置，包括设置于探测器上且向远离探测器的方向延伸的延伸臂，该延伸臂与探测器之间具有预设相对位置关系，或者，该延伸臂与探测器之间具有预设相对位置关系和预设尺寸比例关系；通过所述延伸臂增加探测器位置的易确定性，达到当探测器大部分甚至全部被遮挡后仍能确定探测器与待检测对象之间的相对位置。
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公开(公告)号：CN116188330A
公开(公告)日：2023-05-30
申请号：CN202310473374.4
申请日：2023-04-28
Applicant: 北京友通上昊科技有限公司
Inventor： 邹鲁民
Abstract: 本发明属于数据图像处理技术领域，尤其涉及一种拼接图像灰度处理方法、图像拼接方法、装置和介质；拼接图像灰度处理方法包括：获取待拼接图像及重叠区域；统计各个相互重叠的重叠区域的灰度差距的和，得到灰度差距和；判断灰度差距和是否符合灰度阈值；当不符合灰度阈值时，对各待拼接图像进行灰度均衡处理，直至灰度差距和符合灰度阈值，或者对各待拼接图像进行灰度均衡处理的次数达到预设次数。通过判断各个待拼接图像之间的差距，对于不符合灰度阈值的重叠区域对应的各个待拼接图像均进行灰度均衡处理，实现了在拼接前对各个待拼接图像的灰度进行整体处理,使处理后各个待拼接图像的灰度处于相近或相同的灰度区间。
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公开(公告)号：CN109840887B
公开(公告)日：2023-05-12
申请号：CN201910051526.5
申请日：2019-01-18
Applicant: 北京友通上昊科技有限公司
Inventor： 邹鲁民
Abstract: 本发明提供了一种数字化X射线影像拼接方法及装置，其中，该方法包括：输入n个X射线影像的待处理图像，n≥2，n为正整数；分别确定各待处理图像的梯度场；确定第一待处理图像和第二待处理图像的梯度场之间的平移变换的偏移量，并将第一待处理图像和第二待处理图像的重叠区域进行融合，确定第一融合图像；确定第i‑1融合图像与第i+1待处理图像的梯度场之间平移变换的偏移量，并将第i‑1融合图像与第i+1待处理图像进行融合，确定第i‑1个融合图像，2≤i≤n‑1。由此，本发明通过待处理图像的梯度场信息，利用相位相关的图像匹配方法，获得重叠区域的平移变换的偏移量，从而实现图像的拼接。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN110269635A
公开(公告)日：2019-09-24
申请号：CN201910617645.2
申请日：2019-07-09
Applicant: 北京友通上昊科技有限公司
Inventor： 邹鲁民
IPC: A61B6/00
Abstract: 本发明提供了一种X射线成像设备的自动曝光参数的计算方法及装置，该方法包括：对处理对象的拍摄部位进行第一次预曝光，获取第一图像以及所述第一图像的第一ROI区信息；根据所述第一ROI区信息，对所述拍摄部位进行第二次预曝光，获取第二图像；对所述第一图像和第二图像进行能量减影，确定特征图像，以确定部位类别；根据所述第一ROI区信息，并对所述拍摄部位进行主曝光，确定第三图像；根据所述部位类别、特征图像和第一ROI区信息，确定所述第三图像的处理参数。本发明基于实际图像内容的计算，获取曝光参数，对于各种类别图像均可获得较好的处理结果，能有效提高曝光参数的准确性。
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公开(公告)号：CN109840887A
公开(公告)日：2019-06-04
申请号：CN201910051526.5
申请日：2019-01-18
Applicant: 北京友通上昊科技有限公司
Inventor： 邹鲁民
Abstract: 本发明提供了一种数字化X射线影像拼接方法及装置，其中，该方法包括：输入n个X射线影像的待处理图像，n≥2，n为正整数；分别确定各待处理图像的梯度场；确定第一待处理图像和第二待处理图像的梯度场之间的平移变换的偏移量，并将第一待处理图像和第二待处理图像的重叠区域进行融合，确定第一融合图像；确定第i-1融合图像与第i+1待处理图像的梯度场之间平移变换的偏移量，并将第i-1融合图像与第i+1待处理图像进行融合，确定第i-1个融合图像，2≤i≤n-1。由此，本发明通过待处理图像的梯度场信息，利用相位相关的图像匹配方法，获得重叠区域的平移变换的偏移量，从而实现图像的拼接。
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公开(公告)号：CN106983518A
公开(公告)日：2017-07-28
申请号：CN201710279048.4
申请日：2017-04-25
Applicant: 北京友通上昊科技有限公司
Inventor： 邹鲁民
IPC: A61B6/00
CPC classification number: A61B6/502 , A61B6/4411 , A61B6/544 , A61B6/56
Abstract: 本发明实施例提供了一种乳腺机及乳腺机自动曝光控制方法，乳腺机包括高压发生器、DIOS自动曝光控制装置、DIOS控制装置、压力控制装置及终端等部件；压力控制装置使目标物压迫至最佳压迫强度，并将目标物的厚度传输至终端，终端根据目标物的厚度计算出最佳的曝光参数，通过DIOS控制装置，传输曝光参数中的曝光时间长度至DIOS自动曝光控制装置，传输曝光参数中的电流值和电压值至高压发生器；高压发生器按所获得的曝光参数产生X射线进行曝光，当曝光时间到达DIOS自动曝光控制装置所获得的曝光时间长度后，DIOS自动曝光控制装置控制高压发生器结束曝光，本发明实施例，实现了自动曝光控制，避免了人为设定曝光参数所造成的过曝光或欠曝光的问题。
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公开(公告)号：CN118096521B
公开(公告)日：2024-07-19
申请号：CN202410475886.9
申请日：2024-04-19
Applicant: 北京友通上昊科技有限公司
IPC: G06T3/4038 , G06T11/00
Abstract: 本发明属于射线成像技术领域，尤其涉及一种用于拼接的射线影像获取方法、射线影像拼接方法和系统。对于第一待拍摄部位、第二待拍摄部位，采用在重叠拍摄区域中选择自动曝光部位，获取第一待拍摄部位的第一射线影像；提取自动曝光部位在第一射线影像中的感兴趣区域；根据自动曝光部位和感兴趣区域，确定探测器的自动曝光控制区和自动曝光控制参数，并对第二个待拍摄部位进行曝光成像；确保自动曝光部位在所述第二待拍摄部位的射线影像中的亮度与在所述第一射线影像中的亮度差距可控，或者亮度相同或相近，提高控制两辐射线影像亮度差异的能力，避免拼接后影像中出现亮暗分隔带，或需要对射线影像进行复杂的亮度处理才能拼接的问题。
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公开(公告)号：CN118266977A
公开(公告)日：2024-07-02
申请号：CN202410475880.1
申请日：2024-04-19
Applicant: 北京友通上昊科技有限公司
Abstract: 本发明属于射线成像技术领域，尤其涉及一种射线成像方法、系统和介质；所述方法包括：获取待检测对象处于探测器前方的实时图像；对实时图像进行识别，确定其中探测器对应的区域得到图像探测器区域，和确定待检测对象对应的区域得到图像对象区域；根据图像对象区域和图像探测器区域确定待检测对象与探测器之间的第一位置关系；基于第一位置关系确定待检测对象需要移动的位移；在待检测对象需要移动的位移小于阈值时发出曝光信号。根据重叠程度确定曝光开始时机，有效解决了现有技术中需要技师在待检测对象周围根据经验调整待检测对象与探测器或电离室之间的相对位置，过于依赖技师经验，和容易造成成像质量差或成像效率低等问题。
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