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公开(公告)号：CN118133935A
公开(公告)日：2024-06-04
申请号：CN202311635962.X
申请日：2023-12-01
Applicant: 特克特朗尼克公司
Abstract: 公开了机器学习模型分布架构。一种机器学习管理系统，包括：库，其具有一个或多个分区，一个或多个分区被与其它分区分离；通信接口；以及一个或多个处理器，其被配置为执行代码以：通过通信接口从客户接收所选择的模型和针对所选择的模型的相关联的训练数据；将所选择的模型和相关联的训练数据存储在专用于客户的分区中；以及管理所述一个或多个分区以确保客户只能访问该客户的分区。一种方法，包括：从客户接收所选择的模型和针对所选择的模型的相关联的训练数据；将所选择的模型和相关联的训练数据存储在库中的专用于客户的分区中；以及管理一个或多个分区以确保客户只能访问专用于该客户的分区。
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公开(公告)号：CN112822910B
公开(公告)日：2025-02-14
申请号：CN202011277636.2
申请日：2020-11-16
Applicant: 特克特朗尼克公司
IPC: H05K7/20
Abstract: 一种用于测试和测量探针的热管理系统，其包括绝热护罩和流体入口导管。护罩被配置成将探针的探针头的第一部分封闭在护罩的内腔内，同时允许探针头的第二部分延伸出护罩。所述护罩还包括流体出口通道，所述流体出口通道被配置成允许传热流体从所述内腔的探针头端部穿过所述护罩的所述内腔，并且通过所述护罩的进入部分离开所述护罩。流体入口导管通过护罩的进入部分进入护罩、延伸穿过护罩的内腔，并且被配置成将传热流体引入到内腔的探针头端部。
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公开(公告)号：CN118069982A
公开(公告)日：2024-05-24
申请号：CN202311577026.8
申请日：2023-11-23
Applicant: 特克特朗尼克公司
Abstract: 公开了使用机器学习和来自多个供应商的Tx、信道和Rx模型的仓储的互操作性预测器。一种测试系统，包括：组件模型的仓储，其包含针对每个组件模型的特性参数；一个或多个处理器，其用于：通过用户界面接收要被作为组合测试的所选择的组件模型的列表；访问用于每个所选择的组件模型的特性参数；使用特性参数构建张量图像；将张量图像发送到一个或多个经训练的神经网络以预测组合的互操作性；以及接收关于组合的预测。一种方法包括：通过用户界面接收要被作为组合测试的所选择的组件模型的列表；访问用于所选择的组件模型的特性参数；构建用于所选择的组件模型的每个组合的张量图像；将张量图像发送到一个或多个经训练的神经网络以预测组合的互操作性；以及接收关于组合的预测。
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公开(公告)号：CN115023621A
公开(公告)日：2022-09-06
申请号：CN202080078898.8
申请日：2020-11-16
Applicant: 特克特朗尼克公司
Abstract: 一种用于从被测器件(OUT)获取测试和测量信号的系统，包括测试和测量探针、用户界面、机器人和控制器。探针被配置为从DUT获取电子信号。用户界面显示DUT的物理电子电路的数字表示，包括对应于DUT上的实际节点的虚拟节点的描绘。机器人被配置为相对于DUT自动定位探针。控制器被配置为从用户界面接收物理电子电路的数字表示的所选择的节点的电子指示，其中所选择的节点是虚拟节点之一。控制器进一步被配置为向机器人提供指令以将探针自动定位到物理电子电路上与实际节点对应的位置。
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公开(公告)号：CN119310360A
公开(公告)日：2025-01-14
申请号：CN202410941781.8
申请日：2024-07-15
Applicant: 特克特朗尼克公司
IPC: G01R31/00
Abstract: 一种裕度测试器包括：一个或多个端口，用于允许所述裕度测试器连接到测试中设备(DUT)；存储器，所述存储器包含裕度测试器签名；发射机；接收机，用于从所述DUT接收信号；一个或多个处理器，被配置成执行使所述一个或多个处理器执行下述操作的代码：通过所述一个或多个端口从所述接收机接收多个信号；从所述多个信号生成性能指标；将所述性能指标和所述裕度测试器签名发送到一个或多个机器学习网络；以及从所述一个或多个机器学习网络接收包含针对所述DUT的性能测量结果预测的结果。
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公开(公告)号：CN119204253A
公开(公告)日：2024-12-27
申请号：CN202410846800.9
申请日：2024-06-27
Applicant: 特克特朗尼克公司
IPC: G06N20/00 , G06N3/04 , G06F18/2135
Abstract: 一种测试和测量系统包括：第一测试和测量仪器，具有：输入，以允许所述测试和测量仪器从一个或多个测试中设备(DUT)接收信号；以及一个或多个数字化器，以将来自所述一个或多个DUT的信号转换成数字波形；机器学习网络；以及一个或多个处理器，用于：执行所述数字波形的一个或多个测量结果；将所述数字波形的所述一个或多个测量结果发送到所述机器学习网络作为输入；使用所述机器学习网络，以将所述一个或多个测量结果转译成由参考仪器作出的测量结果，以产生一个或多个经转译的测量结果，所述参考仪器比所述第一测试和测量仪器更准确；以及基于所述一个或多个经转译的测量结果来确定所述DUT是否满足性能要求。
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公开(公告)号：CN113868066A
公开(公告)日：2021-12-31
申请号：CN202110733579.2
申请日：2021-06-30
Applicant: 特克特朗尼克公司
IPC: G06F11/26 , G06F11/263
Abstract: 用于分析被测设备的测试和测量系统。一种用于分析被测设备的测试和测量系统，包括：数据库，其被配置成存储与用一个或多个先前被测设备执行的测试相关的测试结果；接收器，用于接收关于新的被测设备的新的测试结果；数据分析仪，其被配置成基于存储的测试结果来分析新的测试结果；以及健康分数生成器，其被配置成基于来自数据分析仪的分析针对新的被测设备生成健康分数。
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公开(公告)号：CN116802510A
公开(公告)日：2023-09-22
申请号：CN202180091737.7
申请日：2021-11-23
Applicant: 特克特朗尼克公司
IPC: G01R31/3161
Abstract: 一种用于在裕量测试的同时的数据创建、存储、分析和训练的系统，包括：裕量测试生成器，其通过接口耦合到待测试设备(DUT)。裕量测试生成器被构造为修改测试信号，以用于在测试会话的一个或多个测试状态期间测试DUT，以创建测试结果。测试结果连同在测试会话期间测试的DUT的DUT标识符一起存储在数据仓库中。比较器确定DUT测试结果中的任何结果是否与基于来自先前DUT测试的分析的预测结局匹配。如果是，则消息生成器产生所测试的DUT与预测结局匹配的指示。
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公开(公告)号：CN116745630A
公开(公告)日：2023-09-12
申请号：CN202180091738.1
申请日：2021-11-23
Applicant: 特克特朗尼克公司
IPC: G01R31/317
Abstract: 一种裕量测试设备，包括：至少一个接口，其被构造为连接到待测试设备(DUT)；一个或多个控制器，其被构造为基于伪随机数据序列和一个或多个预定义参数创建测试信号集合；和输出，其被构造为将所述测试信号集合发送到所述DUT。还描述用于用所公开的裕量测试器和其它测试设备测试DUT的方法和系统。
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公开(公告)号：CN114460434A
公开(公告)日：2022-05-10
申请号：CN202111319437.8
申请日：2021-11-09
Applicant: 特克特朗尼克公司
IPC: G01R31/28 , G05B19/042
Abstract: 公开了用于高速输入/输出容限测试的系统、方法和设备。用于高速I/O容限测试的系统、设备和方法可以筛选高批量预生产和生产部件并且标识其中电气特性已经改变得足够多以至于影响操作的情况。所公开的容限测试器与传统的BERT和示波器相比成本更低、更易于使用并且更快速，并且可以在具有满负载和串扰的完整多通道I/O链路的标准操作状态下在完整多通道I/O链路上操作。容限测试器同时评估与受测试设备的操作多通道高速I/O链路在的任一方向或两个方向上的电接收器容限。在特定技术的形式中，容限测试器的实施例可以被实现为插入卡容限测试器以测试受测试主板的主板插槽，或者被实现为具有插槽的主板以测试插入卡。
