公开(公告)号：CN114624009B

公开(公告)日：2023-10-10

申请号：CN202210254802.X

申请日：2022-03-15

Applicant: 河南理工大学

Inventor： 刘小磊 ,  张健坤 ,  秦琴 ,  南佳佳 ,  李文磊 ,  陈苗苗

IPC: G01M11/02

Abstract: 本发明公开了一种基于圆偏光的光隔离器性能自动检测系统，包括以下步骤：将半导体激光器与光开关连接，将主控芯片与光开关连接，光源由光开关切换的光路射出后，经环形器的调节后，经由准直器进入自由空间；然后依次通过由线偏振片、1/4波片组成的圆偏振片、待检光隔离器，最后经另一端的准直器耦合进入光纤；通过待检光隔离器的光信号经环形器的调节被传感器捕获并经由放大电路对信号进行处理；处理完成的信号被传输至主控芯片进行AD转换与滤波处理，并进行逻辑判断，由STM32连接的上位机对待检光隔离器检测数据进行统计并保存，完成对光隔离器的自动检测、分拣以及记录；本发明可以在兼顾成本与测量精度的前提下，进一步地提升测量效率。

公开(公告)号：CN114624009A

公开(公告)日：2022-06-14

申请号：CN202210254802.X

申请日：2022-03-15

Applicant: 河南理工大学

Inventor： 刘小磊 ,  张健坤 ,  秦琴 ,  南佳佳 ,  李文磊 ,  陈苗苗

IPC: G01M11/02

Abstract: 本发明公开了一种基于圆偏光的光隔离器性能自动检测系统，包括以下步骤：将半导体激光器与光开关连接，将主控芯片与光开关连接，光源由光开关切换的光路射出后，经环形器的调节后，经由准直器进入自由空间；然后依次通过由线偏振片、1/4波片组成的圆偏振片、待检光隔离器，最后经另一端的准直器耦合进入光纤；通过待检光隔离器的光信号经环形器的调节被传感器捕获并经由放大电路对信号进行处理；处理完成的信号被传输至主控芯片进行AD转换与滤波处理，并进行逻辑判断，由STM32连接的上位机对待检光隔离器检测数据进行统计并保存，完成对光隔离器的自动检测、分拣以及记录；本发明可以在兼顾成本与测量精度的前提下，进一步地提升测量效率。