-
公开(公告)号：CN109782555A
公开(公告)日：2019-05-21
申请号：CN201811305968.X
申请日：2018-11-05
Applicant: 株式会社理光
IPC: G03G15/00
Abstract: 本发明涉及图像形成装置和图像形成方法，其目的在于以相较于推算膜厚更高的精度来计算与当前时刻的行走距离对应的预测膜厚范围。图像形成装置具备根据有关充电辊上的充电偏压的电压V以及有关感光体中的输出电流的电流I求出感光体膜厚的膜厚计算部(30a)、计算感光体在带电状态下的行走距离L的行走距离计算部(30h)、将求出的计算膜厚Dc与行走距离L相关联保存的计算膜厚保存部(30i)、根据取得的多个时刻的计算膜厚Dc和行走距离L求出当前时刻的推算膜厚De的膜厚推算部(30c)、以及根据推算膜厚De求出与当前时刻的行走距离L对应的预测膜厚范围Dmin～Dmax的膜厚范围预测部(30d)。
-
公开(公告)号：CN104656389A
公开(公告)日：2015-05-27
申请号：CN201410646235.8
申请日：2014-11-14
Applicant: 株式会社理光
CPC classification number: G03G15/065 , G03G15/0121 , G03G15/0266 , G03G15/50
Abstract: 本发明提供一种在抑制因充电偏压或显影偏压的输出误差而导致的背最污染或载体附着的发生的同时，还能够抑制制造成本的增加的图像形成装置。其根据通过处理控制来变更的充电偏压的目标值以及显影偏压的目标值的组合，在这些目标值中仅对充电偏压的目标值补正后，设置存储用于计算补正值的算法的补正值算法的非挥发性存储器(30c)，所述补正值降低因充电偏压的输出误差和显影偏压的输出误差而引起的背景电位偏离希望值的量，并且，根据采用补正值算法求得的补正值来仅对充电偏压的目标值进行补正。
-
公开(公告)号：CN109782555B
公开(公告)日：2021-11-02
申请号：CN201811305968.X
申请日：2018-11-05
Applicant: 株式会社理光
IPC: G03G15/00
Abstract: 本发明涉及图像形成装置和图像形成方法，其目的在于以相较于推算膜厚更高的精度来计算与当前时刻的行走距离对应的预测膜厚范围。图像形成装置具备根据有关充电辊上的充电偏压的电压V以及有关感光体中的输出电流的电流I求出感光体膜厚的膜厚计算部(30a)、计算感光体在带电状态下的行走距离L的行走距离计算部(30h)、将求出的计算膜厚Dc与行走距离L相关联保存的计算膜厚保存部(30i)、根据取得的多个时刻的计算膜厚Dc和行走距离L求出当前时刻的推算膜厚De的膜厚推算部(30c)、以及根据推算膜厚De求出与当前时刻的行走距离L对应的预测膜厚范围Dmin～Dmax的膜厚范围预测部(30d)。
-
公开(公告)号：CN104656389B
公开(公告)日：2018-01-16
申请号：CN201410646235.8
申请日：2014-11-14
Applicant: 株式会社理光
CPC classification number: G03G15/065 , G03G15/0121 , G03G15/0266 , G03G15/50
Abstract: 本发明提供一种在抑制因充电偏压或显影偏压的输出误差而导致的背最污染或载体附着的发生的同时，还能够抑制制造成本的增加的图像形成装置。其根据通过处理控制来变更的充电偏压的目标值以及显影偏压的目标值的组合，在这些目标值中仅对充电偏压的目标值补正后，设置存储用于计算补正值的算法的补正值算法的非挥发性存储器(30c)，所述补正值降低因充电偏压的输出误差和显影偏压的输出误差而引起的背景电位偏离希望值的量，并且，根据采用补正值算法求得的补正值来仅对充电偏压的目标值进行补正。
-
-
-
Search Results
4
records
(took 0.025 seconds)
