塞孔装置
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1358344A

    公开(公告)日:2002-07-10

    申请号:CN00809368.7

    申请日:2000-06-21

    Inventor: 木村悟

    Abstract: 在插塞的插入途中,使接触片相互间不产生短路,防止与塞孔装置相连的设备、装置中的过电流导致的误动作。在沿插入方向具有多个塞孔的单头插塞(50)所插入连接的塞孔装置中,具有与配置于插塞(50)前端的第1塞极(塞极54)接触的接触片(11)和与邻接第1塞极配置的第2塞极(塞极52)接触的接触片(10),使得两接触片(11)、(10)的沿插塞插入方向的间隔充分地扩大地将两接触片(11)、(10)的插塞接触部(11p)、(10p)相互间的间隔D设为与第1塞极(塞极54)的长度L相同的程度或比其大的宽度,当第1塞极(塞极54)接触接触片(11)时,入口侧的接触片(10)与第2塞极(塞极52)接触。

    塞孔装置
    4.
    发明授权

    公开(公告)号:CN1191663C

    公开(公告)日:2005-03-02

    申请号:CN00809368.7

    申请日:2000-06-21

    Inventor: 木村悟

    Abstract: 在插塞的插入途中,使接触片相互间不产生短路,防止与塞孔装置相连的设备、装置中的过电流导致的误动作。在沿插入方向具有多个塞孔的单头插塞(50)所插入连接的塞孔装置中,具有与配置于插塞(50)前端的第1塞极(塞极54)接触的接触片(11)和与邻接第1塞极配置的第2塞极(塞极52)接触的接触片(10),使得两接触片(11)、(10)的沿插塞插入方向的间隔充分地扩大地将两接触片(11)、(10)的插塞接触部(11a)、(10a)相互间的间隔D设为与第1塞极(塞极54)的长度L相同的程度或比其大的宽度,当第1塞极(塞极54)接触接触片(11)时,入口侧的接触片(10)与第2塞极(塞极52)接触。

    对焦位置检测方法
    5.
    发明授权

    公开(公告)号:CN1050253C

    公开(公告)日:2000-03-08

    申请号:CN94108760.3

    申请日:1994-07-30

    CPC classification number: G03F9/70 G03F7/70 G06T7/44 G06T2207/10148

    Abstract: 一种对焦位置检测方法,它主要包含:目标物摄像过程:累积浓淡比运算过程:部分图像设定过程;区域设定过程;左区域运算过程;右区域运算过程;和浓淡比运算过程。按照本发明的对焦位置检测方法,由于取从部分图像中的基准像素的特定方向的左右区域中的浓度数据获得的运算结果的比,所以不用复杂的算法就能消除图像全局浓度变动的影响。

    对焦位置检测方法
    6.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1103227A

    公开(公告)日:1995-05-31

    申请号:CN94108760.3

    申请日:1994-07-30

    CPC classification number: G03F9/70 G03F7/70 G06T7/44 G06T2207/10148

    Abstract: 一种对焦位置检测方法,它主要包含:目标物摄像过程;累积浓淡比运算过程;部分图像设定过程;区域设定过程;左区域运算过程;右区域运算过程;和浓淡比运算过程。按照本发明的对焦位置检测方法,由于取从部分图像中的注目像素的特定方向的左右区域中的浓度数据获得的运算结果的比,所以不用复杂的算法就能消除图像全局浓度变动的影响。

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