-
公开(公告)号:CN107835055B
公开(公告)日:2020-09-15
申请号:CN201710905212.8
申请日:2017-09-29
Applicant: 北京大学
IPC: H04B10/61
Abstract: 本发明公开了一种微波源相位噪声测量方法及系统。本方法为:将待测微波源的信号分成两路信号;将第一路信号与载波信号分别输入电光调制器,利用该第一路信号对该载波信号进行强度调制,并将调制后的光信号依次经一光纤延迟线、光环形器后输入一光电探测器,该光电探测器将输入的光信号转化成电信号,该电信号经放大器放大后输入混频器的射频输入端;将第二路信号经过移相器保持与第一路信号的相位成正交,该移相器输出的信号输入该混频器的本振输入端;该混频器的输出信号依次通过低通滤波、放大后输入基带信号分析仪,然后根据得到的不同频偏点处的基带噪声的噪声电平计算该待测微波源的信号相位噪声。本发明能够提高相位噪声测量的灵敏度。
-
公开(公告)号:CN107835055A
公开(公告)日:2018-03-23
申请号:CN201710905212.8
申请日:2017-09-29
Applicant: 北京大学
IPC: H04B10/61
CPC classification number: H04B10/6165
Abstract: 本发明公开了一种微波源相位噪声测量方法及系统。本方法为:将待测微波源的信号分成两路信号;将第一路信号与载波信号分别输入电光调制器,利用该第一路信号对该载波信号进行强度调制,并将调制后的光信号依次经一光纤延迟线、光环形器后输入一光电探测器,该光电探测器将输入的光信号转化成电信号,该电信号经放大器放大后输入混频器的射频输入端;将第二路信号经过移相器保持与第一路信号的相位成正交,该移相器输出的信号输入该混频器的本振输入端;该混频器的输出信号依次通过低通滤波、放大后输入基带信号分析仪,然后根据得到的不同频偏点处的基带噪声的噪声电平计算该待测微波源的信号相位噪声。本发明能够提高相位噪声测量的灵敏度。
-