一种单颗粒气溶胶质谱仪的质量精度提高方法

    公开(公告)号:CN110954449A

    公开(公告)日:2020-04-03

    申请号:CN201911388897.9

    申请日:2019-12-30

    Applicant: 暨南大学

    Abstract: 本发明涉及一种单颗粒气溶胶质谱仪的质量精度提高方法,包括:S1,通过统计学中位数的方法对已知颗粒的飞行时间谱进行初级校正;S2,根据初级飞行时间谱校正的结果,确定采样颗粒的种类和对应的特征峰的精确质荷比;S3,根据所述精确质荷比实现单个采样颗粒飞行时间谱的精确校正。本发明通过统计的方法已知颗粒的飞行时间谱进行初级校正,根据初级飞行时间谱校正的结果,确定采样颗粒的种类和对应的特征峰的精确质荷比;进一步可以根据精确质荷比实现单个采样颗粒飞行时间谱的精确校正,可提高质量精度,实现更精细化的质量分辨,提高颗粒成分识别准确性。

    水体中微囊藻毒素的检测方法

    公开(公告)号:CN106501345B

    公开(公告)日:2019-11-19

    申请号:CN201510564172.6

    申请日:2015-09-06

    Abstract: 本发明涉及一种水体中微囊藻毒素的检测方法,所述检测方法为直接分析离子源‑质谱法,包括以下步骤:(1)水样前处理制备待测样品;(2)将待测样品用直接电离源电离;(3)质谱检测已离子化的待测样品。该方法对水样只需要简单的过滤或者过滤加快速烘干的前处理,即可直接检测,提高了检测效率,能够满足实时、快速、原位的检测要求,解决了现有检测技术中样品前处理复杂,难以实时快速检测水体中微囊藻毒素的问题。本发明提供的检测方法可同时进行定性和相对定量分析,可以同时分析多种微囊藻毒素,为实际操作提供了便利性。

    石油炼化装置挥发性有机物无组织排放模型的构建方法

    公开(公告)号:CN105550475B

    公开(公告)日:2019-01-08

    申请号:CN201610048678.6

    申请日:2016-01-25

    Applicant: 暨南大学

    Abstract: 本发明提供了一种石油炼化装置挥发性有机物无组织排放模型的构建方法,其通过采集石油炼化装置无组织挥发性有机物的排放信息以对其进行排放量估算,该无组织排放模型的构建方法包括与计算机操作系统连接的排放因子计算模块、基础参数模块、运算函数构建模块及排放模型输出模块四个部分,以及排放模型显示系统。本发明有效地完善了目前以管理为主的石油炼化装置无组织排放挥发性有机物的排放量估算方法所存在的不足,解决了现有方法的缺陷,它能够估算出基于总体和各成分的石油炼化装置无组织排放挥发性有机物的排放量,同时得出基于VOCs的质量浓度和化学活性的优先控制物种和优先控制装置或设备组件,并且能够对VOCs的排放特征和排放量进行预测。

    水体中微囊藻毒素的检测方法

    公开(公告)号:CN106501345A

    公开(公告)日:2017-03-15

    申请号:CN201510564172.6

    申请日:2015-09-06

    Abstract: 本发明涉及一种水体中微囊藻毒素的检测方法,所述检测方法为直接分析离子源-质谱法,包括以下步骤:(1)水样前处理制备待测样品;(2)将待测样品用直接电离源电离;(3)质谱检测已离子化的待测样品。该方法对水样只需要简单的过滤或者过滤加快速烘干的前处理,即可直接检测,提高了检测效率,能够满足实时、快速、原位的检测要求,解决了现有检测技术中样品前处理复杂,难以实时快速检测水体中微囊藻毒素的问题。本发明提供的检测方法可同时进行定性和相对定量分析,可以同时分析多种微囊藻毒素,为实际操作提供了便利性。

    一种自动实现大气颗粒物粒径校正的方法及系统

    公开(公告)号:CN104596900A

    公开(公告)日:2015-05-06

    申请号:CN201510007478.1

    申请日:2015-01-05

    Abstract: 本发明公开了一种自动实现大气颗粒物粒径校正的方法及系统,该系统包括获取单元、计算处理单元及替换单元。该方法包括:A、获取当前的进样测量压力;B、根据大气颗粒物的空气动力学直径、飞行时间以及进样测量压力之间的映射关系数学模型,对获取的进样测量压力进行计算处理,从而计算得出一粒径校正曲线;C、将当前的粒径校正曲线替换为步骤B计算得出的粒径校正曲线。通过使用本发明能克服外在环境气压变化所带来的仪器粒径检测结果的误差,使得仪器在气压变化时也能确保数据结果的准确性。本发明可广泛应用于颗粒物粒径检测装置中。

    一种基于临界孔切割进样的微纳米单颗粒质量仪

    公开(公告)号:CN117059470A

    公开(公告)日:2023-11-14

    申请号:CN202310735474.X

    申请日:2023-06-20

    Applicant: 暨南大学

    Abstract: 本发明公开了一种基于临界孔切割进样的微纳米单颗粒质量仪,涉及单颗粒质谱仪技术领域,包括微纳米气溶胶切割进样单元、微纳米气溶胶聚焦进样单元、测径单元和质量分析单元,气溶胶由进样口进入,第二撞击板位于扩散锥的一端且与临界孔相对设置,缓冲腔位于扩散锥的外侧,缓冲腔与微纳米气溶胶聚焦进样单元的连通,微纳米气溶胶聚焦进样单元、测径单元和质量分析单元依次连通,微纳米气溶胶聚焦进样单元设置有第一差分室出口和第二差分室出口,质量分析单元设置有第三差分室出口。本发明可以实现在不借助外部气溶胶切割进样装置和额外抽气泵的条件下,实现单颗粒质谱仪对几十至两三百纳米气溶胶颗粒的在线监测。

    电离装置及质谱仪
    87.
    发明公开

    公开(公告)号:CN115132563A

    公开(公告)日:2022-09-30

    申请号:CN202210765674.5

    申请日:2022-06-30

    Applicant: 暨南大学

    Abstract: 本发明公开了一种电离装置,涉及质谱仪技术领域,包括真空腔室,所述真空腔室内由前至后依次设置有灯源和离子传输区,所述离子传输区靠近所述灯源的一端连接有样品气管,所述样品气管能够向所述真空腔室内输入样品气;所述灯源安装于所述真空腔室的前端,且能够对所述样品气进行电离;所述真空腔室内前端还安装有套筒,所述套筒套设于所述灯源外侧,且所述套筒连接有电源,所述电源能够对所述套筒施加电压,以对所述套筒内的样品气分子进行电离,并控制所述套筒内离子运动轨迹。本发明还提供一种质谱仪,包括上述的电离装置。本发明能够减少灯源镜面污染,避免灯源的光强损失,而且能够控制套筒内离子飞行轨迹。

    一种气溶胶颗粒电离方法、电离系统及质谱分析装置

    公开(公告)号:CN114112818A

    公开(公告)日:2022-03-01

    申请号:CN202111473539.5

    申请日:2021-11-29

    Applicant: 暨南大学

    Abstract: 本发明提供一种气溶胶颗粒电离方法、电离系统及质谱分析装置,气溶胶颗粒电离方法包括:确定多段粒径范围;初始化每段粒径范围的计数为0;开始计时,并对空气中的气溶胶颗粒进行采样,得到颗粒信号;在每个单位采样周期内,根据颗粒信号确定对应气溶胶颗粒的粒径及粒径所属的粒径范围;判断粒径范围的计数是否为1;若粒径范围的计数为1,则继续对空气中的气溶胶颗粒进行采样;若粒径范围的计数为0,则产生电离信号,对气溶胶颗粒进行电离,并将对应的粒径范围的计数置1,继续对空气中的气溶胶颗粒进行采样。通过限定对某一段粒径范围的颗粒打击一次后,不再进行此粒径段的再次打击,提高了对大颗粒和小颗粒的打击概率。

    一种质谱仪器极片清洗装置及清洗质谱仪器极片的方法

    公开(公告)号:CN112676270A

    公开(公告)日:2021-04-20

    申请号:CN202011548548.1

    申请日:2020-12-24

    Applicant: 暨南大学

    Abstract: 本发明提供了一种质谱仪器极片清洗装置,包括微波组件和矩管;所述矩管包括由内向外嵌套设置的内管、中管和外管;所述中管一端的管壁上设有开口;所述微波组件包括电连接的固态微波源和耦合环;所述固态微波源设置于矩管外;所述耦合环设置于所述中管上的开口处。本发明提供的质谱仪器极片清洗装置在使用时在中管和内管中通入放电气体,利用固态微波源驱动微波放电,通过耦合环将微波能传输至中管,中管的放电气体点燃等离子体,与内管的放电气体在矩管的管口形成等离子炬焰,形成的等离子炬焰在极片外部进行烧蚀,利用高温使极片上沉积的电绝缘体涂层在真空中升华而蒸发,在无需破真空取出极片就可以实现质谱仪器极片的清洗,简化了清洗工艺。

    一种用于清洁质谱仪离子源极片的自动清洗装置

    公开(公告)号:CN112605069A

    公开(公告)日:2021-04-06

    申请号:CN202011479929.9

    申请日:2020-12-15

    Applicant: 暨南大学

    Abstract: 本发明公开一种用于清洁质谱仪离子源极片的自动清洗装置,包括离子源单元、红外激光单元和仪器壳体,其中,红外激光单元包括激光发射组件和聚焦透镜,使用时,调整红外激光单元的位置,使其位于离子源极片的底部,激光发射组件开启,调整聚焦透镜与激光发射组件的位置,便于激光光斑聚焦,移动红外激光单元以便将离子源极片中的离子束孔周围的区域临时加热到80‑250℃之间,并保持10min左右的时间,使得沉积在离子源极片中的离子束孔周围的区域的电绝缘体涂层在真空高温中升华而蒸发,从而实现在不需要手动拆卸仪器的情况下自动清洗离子源极片,同时,聚焦透镜与激光发射组件之间的距离能够调整,提高自动清洗装置的使用效率。

Patent Agency Ranking