公开(公告)号：CN114746729A

公开(公告)日：2022-07-12

申请号：CN202180006868.0

申请日：2021-06-21

Applicant: ams传感器新加坡私人有限公司

Inventor： 彼得.伦琴 ,  石崎幸太郎 ,  哈维尔.米格尔桑切斯

IPC: G01J3/26 ,  G01J3/28 ,  G01J3/45

Abstract: 一种光学传感器。光学传感器包括基板、法布里‑珀罗干涉仪以及第一光电检测器和第二光电检测器。法布里‑珀罗干涉仪包括第一反射镜和第二反射镜，并且安装在基板上，使得光透射通过干涉仪到达基板。第一光电检测器和第二光电检测器被配置为检测透射通过标准具和基板的光。第一光电检测器对第一波长范围敏感，并且第二光电检测器对第二波长范围敏感，并且其中第一波长范围和第二波长范围各自对应于干涉仪的不同模式。

公开(公告)号：CN111065886B

公开(公告)日：2022-05-06

申请号：CN201880056228.9

申请日：2018-07-18

Applicant: ams传感器新加坡私人有限公司

Inventor： 德米特里·巴金 ,  马尔库什·罗西

IPC: G01B11/25 ,  G02B27/10

Abstract: 结构光投影系统包括发光器件的阵列，其被配置成发射光的图案。投影透镜被配置成从阵列接收光的图案并将其投影到第一光学元件。第一光学元件改变光的图案以产生不规则的光的第一发射图案。光的第一发射图案被传输到第二光学元件，第二光学元件被配置成接收光的第一图案并沿着第二发射图案再现第一发射图案，第二发射图案包括以平铺图案排列的第一发射图案的多个实例。

公开(公告)号：CN114026901A

公开(公告)日：2022-02-08

申请号：CN202080047066.X

申请日：2020-07-30

Applicant: ams传感器新加坡私人有限公司

Inventor： 布莱特.汉森

IPC: H04W12/122 ,  H04W12/069 ,  H04W12/61 ,  G07C9/00

Abstract: 本发明阐述用于使用飞行时间基于邻近性而无线地认证装置的系统及方法。

公开(公告)号：CN113557126A

公开(公告)日：2021-10-26

申请号：CN202080020318.X

申请日：2020-03-11

Applicant: ams传感器新加坡私人有限公司

Inventor： 尼古拉.斯普林 ,  余启川

IPC: B29D11/00 ,  G02B3/00 ,  G02B13/00 ,  G02B7/02

Abstract: 一种制造多个光学元件(140)的方法，该方法包括:提供第一晶圆(120)，该第一晶圆(120)具有在第一晶圆(120)的第一侧上形成光学元件(140)的硬化复制材料；提供第二晶圆(121)，该第二晶圆(121)具有在第二晶圆(121)的第一侧上形成光学元件(140)的硬化复制材料；在光学元件(140)之间在第一晶圆(120)的第一侧上沉积液滴(180)，使第一晶圆(120)的第一侧与第二晶圆(121)的第一侧对准；以及将两个晶圆(120，121)放在一起，使得第一晶圆(120)的第一侧上的液滴(180)粘附到第二晶圆(121)的第一侧上。

公开(公告)号：CN113167645A

公开(公告)日：2021-07-23

申请号：CN201980075162.2

申请日：2019-11-13

Applicant: ams传感器新加坡私人有限公司

Inventor： 詹姆斯.艾勒森 ,  哈维尔.米格尔桑切斯

IPC: G01J3/02 ,  G01J3/10 ,  G01J3/28 ,  G01J3/36

Abstract: 一种示例系统包括光源、第一光谱仪、第二光谱仪和电子控制模块。光源可操作以在照射场中在第一波长范围内发射光。第一光谱仪可操作以在第二波长范围内并且在第一检测场中测量从对象反射的第一样本光。第二光谱仪可操作以在第三波长范围内并且在第二检测场中测量从对象反射的第二样本光。电子控制模块可操作以基于所测量的第一样本光和所测量的第二样本光来确定系统和对象之间的距离，以及基于所测量的第一样本光和所测量的第二样本光来确定对应于对象的光的光谱分布。