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公开(公告)号：CN1879029A
公开(公告)日：2006-12-13
申请号：CN200480033310.8
申请日：2004-11-26
申请人： 爱德万测试株式会社
发明人： 艾利克·霸尔·库许尼克 , 稻叶健司 , 三浦稔幸
IPC分类号： G01R31/319 , G01R31/28
CPC分类号： G01R1/0408 , G01R1/06772 , G01R31/2889 , G01R31/3167 , G01R31/31905 , G01R31/31926
摘要： 本发明披露了一种使开放架构测试站点中的数字和模拟/混合信号模块同步化的方法和装置。事件触发器被发送到模拟同步(ASYNC)模块，被选择性的分配它们到模拟/混合信号模块。当一个事件发生时，该触发器可以激活一个模拟/混合信号模块执行某种操作。ASYNC模块也可以接收来自模拟/混合信号模块的触发器并选择性的分配它们返回到数字模块。该数字模块可以被程序化来等待模拟/混合信号模块完成一个操作，其受来自该模拟/混合信号模块的触发器指示，之后继续。因为本发明的实施例能够使数字和模拟/混合信号模块在模式控制下同步化，因此该同步化与来自站点控制器的同步化相比能够非常精确且可重复。
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公开(公告)号：CN1879027A
公开(公告)日：2006-12-13
申请号：CN200580000297.0
申请日：2005-07-12
申请人： 爱德万测试株式会社
IPC分类号： G01R31/28
CPC分类号： G01R31/31928 , G01R31/31919
摘要： 本发明测试待测设备的测试装置具有主存储器，其包括存储和从待测设备的端子依次输出的多数个输出图像依次进行比较的期待值图像列的期待值图像存储区域；测试图像输出部，其通过将多数个测试图像依次输入到待测设备，而使输出图像从待测设备中依次输出；截取部，其将所输出的输出图像依次取入到主存储器上的输出图像记忆区域；存储器读取部，其在将输出图像取入到输出图像记忆区域中的取入处理结束后，将包含所取入的多数个输出图像的输出图像列，及期待值图像列，从主存储器中读取出来；以及期待值比较部，其将所读取的期待值图像列，以及输出图像列加以比较。
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公开(公告)号：CN1875282A
公开(公告)日：2006-12-06
申请号：CN200480032658.5
申请日：2004-10-27
申请人： 爱德万测试株式会社 , 古河电气工业株式会社
IPC分类号： G01R31/28
CPC分类号： G01R31/31905
摘要： 一种测试装置以及电缆导引单元，以提供能满足多条光缆的曲率限制的排设技术为目的，测试装置100包括检测头102、主要框架104、光纤缆器106、光塞107、光缆108、周长差吸收装置110与电缆导引单元112。检测头102具有多块检测基板，此多块检测基板外加检测模型在被测试元件中。主要框架104根据检测头102控制检测程序。光纤缆器106具有多条平坦型缆线200，此平坦型缆线200用以旋光性连接检测头102和主要框架104。光塞107连接光纤缆器106和光缆108。周长差吸收装置110吸收平坦型缆线200之间的周长差。电缆导引单元112使光缆108保持弯曲，光缆108连接有主要框架104的检测基板612。
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公开(公告)号：CN1849519A
公开(公告)日：2006-10-18
申请号：CN200480026143.4
申请日：2004-09-10
申请人： 爱德万测试株式会社
发明人： 佐藤浩
CPC分类号： G06F11/24 , G01R31/31908
摘要： 本发明提供一种写入控制电路，为一种将从多个主计算机所接收的多个命令数据写入多个寄存器部的写入控制电路。该写入控制电路包括多个要求信号保存部、主选择部与写入部。要求信号保存部与上述这些主计算机对应设置，并保存来自对应的主计算机的写入要求信号。主选择部依次选择多个要求信号保存部，且接收并输出所选择的要求信号保存部保存的保存数据。写入部接收主选择部输出的保存数据、应写入寄存器部的命令数据、及用于寄存器部指定数据，其中寄存器部指定数据是用来指定一个用来指定写入命令数据的寄存器部。当写入部所接收的保存数据为写入要求信号时，向由寄存器部指定数据所指定的寄存器部写入命令数据。
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公开(公告)号：CN1846140A
公开(公告)日：2006-10-11
申请号：CN200480025255.8
申请日：2004-09-01
申请人： 爱德万测试株式会社
发明人： 谷浩一
IPC分类号： G01R31/28
CPC分类号： G01R31/31907 , G01R31/319 , G01R31/31926
摘要： 本发明提供一种试验装置，用于试验电子元件，此试验装置包括：多个测试模块、多个返回电路、多个汇总部与多个分配部。其中，测试模块进行电子元件和信号的授受。返回电路与测试模块对应设置，并接收用于表示在电子元件输出的输出图案上产生故障的时序的故障时序信号。汇总部接收返回电路输出的故障时序信号，并计算故障时序信号中的一个以上的故障时序信号的逻辑和，且输出1位的信号。分配部与汇总部对应设置，并将对应的汇总部的运算结果分配到测试模块。
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公开(公告)号：CN1829918A
公开(公告)日：2006-09-06
申请号：CN200480021574.1
申请日：2004-09-10
申请人： 爱德万测试株式会社
IPC分类号： G01R31/28
CPC分类号： G01R31/31928 , G01R31/31922
摘要： 一种测试装置，用于测试电子元件，本测试装置包括：多个测试模组、基准时脉产生部、产生电路、多个时序提供部，以及控制部。多个测试模组是把用于测试电子元件的测试图案供给至电子元件。基准时脉产生部是用以产生基准时脉。产生电路是根据基准时脉，产生使测试模组动作的时序信号。多个时序提供部是对应测试模组而设置，并将时序信号供给到对应的测试模组。控制部是使各测试模组依照时序信号输出测试图案的时序约略相同，以此方式控制时序提供部供给到各测试模组的时序信号的相位。
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公开(公告)号：CN1774642A
公开(公告)日：2006-05-17
申请号：CN200480009920.4
申请日：2004-02-16
申请人： 爱德万测试株式会社
IPC分类号： G01R31/319
摘要： 本发明描述一种用于半导体测试系统的分布式操作系统，如自动化测试设备(ATE)。该操作系统包括一用于藉由一系统控制器实现对一个或多个现场控制器进行控制的主操作系统。一个或多个本地操作系统，每个都与一现场控制器相关联，藉由一相关联的现场控制器实现对一个或多个测试模块的控制。每个测试模块在一测试现场执行对一个对应的被测元件的测试。
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公开(公告)号：CN1774641A
公开(公告)日：2006-05-17
申请号：CN200480010037.7
申请日：2004-03-24
申请人： 爱德万测试株式会社
发明人： 藤崎健一
IPC分类号： G01R31/3181 , G11C29/00
CPC分类号： G01R31/31935 , G11C29/56 , G11C2029/5606
摘要： 一种测试装置，包括产生向被测试元件供给的位址信号及测试信号，以及被供给测试信号的被测试元件应输出的期望值信号的图形生成器、将被测试元件输出的输出信号和期望值信号进行比较，并在不一致的情况下产生失效信号的逻辑比较器、储存逻辑比较器产生的失效信号的不良解析记忆体。不良解析记忆体具有将图形生成器产生的位址信号的值即失效位址值，及逻辑比较器产生的失效信号的值即失效数据值，作为1组数据依次进行储存的第1储存部、从第1储存部读出失效位址值及失效数据值的组合，并在失效位址值表示的位址将失效数据值进行储存的第2储存部。
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公开(公告)号：CN1764846A
公开(公告)日：2006-04-26
申请号：CN200480008269.9
申请日：2004-03-18
申请人： 爱德万测试株式会社
发明人： 涉谷敦章
IPC分类号： G01R31/3181 , G01R35/00
CPC分类号： G01R31/31907 , G01R31/2886 , G01R35/00
摘要： 本发明是有关于一种进行电子组件的测试的测试装置，其具备有：测试模块，进行与电子组件的测试信号的收发；测试头，具有能够装卸的保持测试模块的多个TH槽；诊断模块，进行测试模块的诊断；连接装置，分别与多个TH槽电性连接，且具有能够装卸的保持诊断模块的多个PB槽。在设定的PB槽中所保持的设定的诊断模块可诊断与设定的PB槽电性连接的设定的TH槽中所保持的设定的测试模块。
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公开(公告)号：CN1701239A
公开(公告)日：2005-11-23
申请号：CN03825350.X
申请日：2003-09-25
申请人： 爱德万测试株式会社
IPC分类号： G01R31/316
CPC分类号： G01R31/2886
摘要： 一种半导体组件测试装置中的锁定装置和负载板组件。该负载板组件包括一块装有测试中的组件的印刷电路板，和一块固定在此印刷电路板底部的接口板。该接口板具有两个之间具有空隙的部份。垫片连接此两个部分已形成开孔给测试头上的接触针。负载板组件被放置在固定于测试头顶面的锁定装置的顶部。通过使两个不同横截面的针延伸穿过负载板组件中接口板和印刷电路板上的两孔把负载板安放在锁定装置上。当负载板组件被安放在锁定装置上时，固定在接口板上的滚轮被锁定装置的凸轮件的凸轮槽孔所容纳。当凸轮件移动时，这些滚轮跟随凸轮槽孔运动。基于凸轮槽孔的轮廓，负载板组件可被逐渐降低，而建立印刷电路板和测试头接触针之间的电接触以锁定接口板。
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