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公开(公告)号:CN1448696A
公开(公告)日:2003-10-15
申请号:CN02132339.9
申请日:2002-09-24
Applicant: 佳能株式会社
Inventor: 高桥秀和
IPC: G01C3/00
Abstract: 本发明提供了用一片芯片实现具有高性能的AE功能和多点AF功能的测光测距用固体摄像装置及使用该装置的摄像装置,其中在同一半导体基板(107)上集成了用于相对于摄像区域的多个位置进行自动聚焦的多点测距的多个测距用光电变换元件列(1A~7A、1B~7B),用于点式地进行多个测距位置的测光的点测光用光电变换元件(S1~S7)和用于进行摄像区域全部的测光的全体测光用光电变换元件(W0)。进而,根据本发明,通过进行点测光和全体测光并比较计算各自的测光值,可以判别是顺光状态还是逆光状态。
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公开(公告)号:CN1225540A
公开(公告)日:1999-08-11
申请号:CN98126331.3
申请日:1998-12-25
Applicant: 佳能株式会社
Inventor: 高桥秀和
CPC classification number: G02B7/28 , H04N5/23212
Abstract: 为了校正摄象装置的光学系统中光电转换装置上产生的象差及光量不均匀,在光电转换区域,进行光电转换的光圈的位置互不相同。进行光电转换的光圈区域的光圈比以排列位置为单位被改变。象素的间距被错开,从而使光圈区域的位置错开,或者光屏蔽图形的位置被错开,使得逐渐错开光圈区域的位置。此外,改变在水平方向或垂直方向的象素串的间距,并改变光屏蔽层的图形,使得在一个平面内沿水平方向和垂直方向错开光圈的位置。
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