公开(公告)号：CN112188715A

公开(公告)日：2021-01-05

申请号：CN202011050307.4

申请日：2020-09-29

Applicant: 北京环境特性研究所

Inventor： 孙金海 ,  郑岩 ,  蔡禾 ,  张旭涛 ,  朱先立 ,  刘永强 ,  孙新学

IPC: H05H1/24

Abstract: 本申请提供了一种等离子发生装置及方法，其中，等离子发生装置包括：反应壳、两个极性相反的电极、抽气装置、供气装置，气压检测装置以及控制装置。本申请提供的等离子发生装置，抽气装置以第一速率强力、快速地将反应室内的空气抽走，当反应室达到第一设定气压时，通过供气装置向反应室内提供用于电离的气体，当反应室达到第二设定气压时，高压脉冲电源对两个电极供电以对气体进行电离，以使反应室内产生等离子，抽气装置以第二速率持续、缓慢地抽取反应室内的气体，让被电离的气体缓慢地动态平衡地在反应室内流动，以在反应室内产生密度相对稳定的低气压气流，防止了电离后气体的疲劳的同时提供了相对较为稳定的等离子体电离介质。

公开(公告)号：CN111879238A

公开(公告)日：2020-11-03

申请号：CN202010761630.6

申请日：2020-07-31

Applicant: 北京环境特性研究所

Inventor： 张旭涛 ,  李粮生 ,  蔡禾 ,  孙金海 ,  李进春

IPC: G01B11/00 ,  G02B17/06 ,  G02B7/182

Abstract: 本发明涉及一种快速调整太赫兹时域光谱测量静区尺寸的装置及方法，包括太赫兹天线、第一反射镜、第二反射镜、第三反射镜、主反射镜、第一电移台、第二电移台和调整部件，第一、第二电移台均架设在光学平台上，太赫兹天线架设在第一电移台上，第一、第三反射镜分别架设在两个调整部件上，两个调整部件分别架设在第一、第二电移台上，第二反射镜固连在第二电移台一侧的光学平台上，主反射镜固连在第二电移台另一侧的光学平台上；第一反射镜移动将太赫兹天线发射的波束反射到第二反射镜或第三反射镜上，第二反射镜和第三反射镜反射波束至主反射镜上，本发明提高太赫兹时域光谱散射测量系统目标测试尺寸选择灵活性的优点。

公开(公告)号：CN109188105B

公开(公告)日：2020-10-13

申请号：CN201811219803.0

申请日：2018-10-19

Applicant: 北京环境特性研究所

Inventor： 蔡禾 ,  张景 ,  孙金海 ,  郑岩 ,  张旭涛 ,  徐颖

IPC: G01R27/26

Abstract: 本发明涉及一种适用于太赫兹频段高反射材料介电参数测量装置及方法，该装置包括参考板、透射测量模块、反射测量模块和计算模块；该方法采用部分透射、部分反射的材料作为参考板，通过对参考板的透射测量，获得其复折射率，并推算其在设定入射角度下的反射率；分别测量参考板和待测材料板在同一设定入射角度下反射的太赫兹波能量，并结合推算的参考板的反射率，计算待测材料板的反射率；根据测量频段待测材料板的反射率及外推反射率，计算待测材料板引起的相移，从而得到待测材料板的复介电参数。该装置及方法基于光纤耦合的太赫兹时域光谱技术，特别适用于太赫兹频段高反射材料的介电参数的测量，有助于提高反射率、介电参数测量的准确度。

公开(公告)号：CN106092966B

公开(公告)日：2019-03-26

申请号：CN201610366147.1

申请日：2016-05-27

Applicant: 北京环境特性研究所

Inventor： 张少华 ,  孙金海 ,  蔡禾 ,  张旭涛 ,  张景

IPC: G01N21/41

Abstract: 公开了一种太赫兹频段RCS测量用支架材料的选取方法，包括：选取M种泡沫材料作为测试样品；对于选取的每种泡沫材料，通过太赫兹时域光谱测量系统测量未放置测试样品时的时域光谱Er,i(t)、以及放置测试样品时的时域光谱Es,i(t)；对Er,i(t)、Es,i(t)进行傅里叶变换，以获取频域光谱Er,i(w)、Es,i(w)；然后，根据Er,i(w)、Es,i(w)、以及泡沫材料的厚度di，计算该泡沫材料的折射率谱ni(w)；对于选取的每种泡沫材料，计算其折射率谱的折射率均值以及的值，并且，将取最小值的泡沫材料作为太赫兹频段RCS测量用支架材料。本发明通过太赫兹时域光谱技术，便于快速、无损的分析材料的电磁散射特性，进而在样品中迅速找到适用于太赫兹频段RCS测量的支架材料。

公开(公告)号：CN109188105A

公开(公告)日：2019-01-11

申请号：CN201811219803.0

申请日：2018-10-19

Applicant: 北京环境特性研究所

Inventor： 蔡禾 ,  张景 ,  孙金海 ,  郑岩 ,  张旭涛 ,  徐颖

IPC: G01R27/26

CPC classification number: G01R27/2682

Abstract: 本发明涉及一种适用于太赫兹频段高反射材料介电参数测量装置及方法，该装置包括参考板、透射测量模块、反射测量模块和计算模块；该方法采用部分透射、部分反射的材料作为参考板，通过对参考板的透射测量，获得其复折射率，并推算其在设定入射角度下的反射率；分别测量参考板和待测材料板在同一设定入射角度下反射的太赫兹波能量，并结合推算的参考板的反射率，计算待测材料板的反射率；根据测量频段待测材料板的反射率及外推反射率，计算待测材料板引起的相移，从而得到待测材料板的复介电参数。该装置及方法基于光纤耦合的太赫兹时域光谱技术，特别适用于太赫兹频段高反射材料的介电参数的测量，有助于提高反射率、介电参数测量的准确度。