一种基于压电材料的精密光偏振控制器

    公开(公告)号:CN115933157A

    公开(公告)日:2023-04-07

    申请号:CN202211577640.X

    申请日:2022-12-09

    Abstract: 本发明公开了一种基于压电材料的精密光偏振控制器,包括压电驱动单元、机械传动单元、偏振单元;所述的压电驱动单元,用于使压电元件按照压电信号产生伸长运动;并反馈偏振元件的旋转角度;机械传动单元,用于将压电驱动单元输出的伸长运动传送到偏振单元;偏振单元,包括偏振元件;用于接收输入光束,并输出横向偏振光束。压电陶瓷元器件具有随外部电场信号的变化而变化的特性,通过传动机构将伸长运动转化为旋转运动,可实现偏振片不大于0.2角秒的旋转;输入电场形式可控,可以实现伸长量与时间的函数关系,最终实现光偏振的旋转效应对光动量等效应的影响。本发明可为后续光偏振在时空领域的微尺度科学研究提供了一种经济实用的方案。

    基于回音壁谐振模式测量光阱捕获微粒半径的方法及装置

    公开(公告)号:CN114624153A

    公开(公告)日:2022-06-14

    申请号:CN202210525423.X

    申请日:2022-05-16

    Abstract: 本发明公开了一种基于回音壁谐振模式测量光阱捕获微粒半径的方法及装置。所述的方法,1)利用光阱捕获并悬浮真空腔中的微粒;2)将锥形光纤的束腰部分靠近该微粒,利用倏逝场将入射光耦合进入捕获的微粒,调整入射光的波长,使微粒达到回音壁谐振模式;3)根据光学回音壁谐振模式的形成条件公式,计算得到谐振腔的半径r;4)根据透射光谱的模式劈裂,计算出微粒的偏心率Ɛ。所述的装置真空光镊装置的基础上,增加了可调谐激光器和锥形光纤,可以在不改变原有悬浮微粒的状态下形成回音壁谐振模式,实现了真空光阱悬浮颗粒半径的原位检测。本发明原位、无损、非接触式、高精度,简化了步骤,结果准确可靠。

    一种测量生物组织或细胞温度的方法及装置

    公开(公告)号:CN111879434B

    公开(公告)日:2022-04-08

    申请号:CN202010724310.3

    申请日:2020-07-24

    Abstract: 本发明公开一种测量生物组织或细胞温度的方法及装置,将含有自旋缺陷的微纳米级尺寸的金刚石颗粒通过生物化学方法导入到生物组织中,或者将含有自旋缺陷的纳米级尺寸的金刚石颗粒通过生物化学方法导入到细胞中,通过微波共振探测金刚石缺陷自旋基态的能级变化或者通过探测缺陷激发态与基态能极差对应的荧光光谱变化,得到金刚石颗粒所在位置的温度,通过光镊精密调控金刚石颗粒在生物组织或细胞中的位置,进而得到生物组织或细胞中的不同位置的温度。本发明的方法和装置能够实现对目标生物组织或细胞进行微纳米级的实时动态温度跟踪探测。

    基于探针的双向电泳力光阱起支方法及装置与应用

    公开(公告)号:CN113436777B

    公开(公告)日:2022-01-14

    申请号:CN202110993558.4

    申请日:2021-08-27

    Abstract: 本发明公开了一种基于探针的双向电泳力光阱起支方法及装置与应用。基于双向电泳力利用微尺度的探针使目标微粒脱离基板并捕获目标微粒;将带有目标微粒的探针移动至光阱上方,在目标微粒极性弛豫时间内在探针与光阱上方的电极板间施加反向电场,使目标微粒从探针上脱附施;打开光阱,在光阱两侧的电极板间施加电场,调节目标微粒速度至光阱可捕获的速度并且位移至光阱的有效捕获范围内,使目标微粒被光阱捕获。光阱起支装置,包括探针、探针基板、电源、光阱、下极板、位移调节器以及控制系统。本发明通过静电微操控技术实现在空气或真空中的固态粒子精准起支,通过制备阵列化的探针系统,可以应用于集成化的高灵敏光阱传感系统。

    基于探针的双向电泳力光阱起支方法及装置与应用

    公开(公告)号:CN113436777A

    公开(公告)日:2021-09-24

    申请号:CN202110993558.4

    申请日:2021-08-27

    Abstract: 本发明公开了一种基于探针的双向电泳力光阱起支方法及装置与应用。基于双向电泳力利用微尺度的探针使目标微粒脱离基板并捕获目标微粒;将带有目标微粒的探针移动至光阱上方,在目标微粒极性弛豫时间内在探针与光阱上方的电极板间施加反向电场,使目标微粒从探针上脱附施;打开光阱,在光阱两侧的电极板间施加电场,调节目标微粒速度至光阱可捕获的速度并且位移至光阱的有效捕获范围内,使目标微粒被光阱捕获。光阱起支装置,包括探针、探针基板、电源、光阱、下极板、位移调节器以及控制系统。本发明通过静电微操控技术实现在空气或真空中的固态粒子精准起支,通过制备阵列化的探针系统,可以应用于集成化的高灵敏光阱传感系统。

    基于电偶极旋转散射光探测的纳米微粒识别装置和方法

    公开(公告)号:CN112730334A

    公开(公告)日:2021-04-30

    申请号:CN202011542755.6

    申请日:2020-12-23

    Abstract: 本发明公开一种基于电偶极旋转散射光探测的纳米微粒识别装置和方法,依据纳米微粒的散射模型,通过微粒悬浮操控和散射光探测分离的方法,实现光阱中的微粒形态的原位探测。具体为利用两束线偏振激光,第一束激光悬浮纳米微粒,并通过偏振方向调节旋转纳米微粒;第二束线偏振光偏振方向不变,激发特定偶极方向散射光;通过监测固定位置处第二束激光激发的散射光光强的变化推知纳米微粒极化率的变化,进而实现粒子形态识别。本发明的方法可以为真空光镊领域纳米微粒的原位结构如单球、双球等判定提供高效解决方案;同时对于生物化学以及材料应用领域中的纳米微粒标定提供辅助方法。

    一种标定光阱中微粒数量、尺寸的方法及装置

    公开(公告)号:CN111562200A

    公开(公告)日:2020-08-21

    申请号:CN202010674589.9

    申请日:2020-07-14

    Abstract: 本发明公开一种标定光阱中微粒数量、尺寸的方法及装置,利用光阱稳定悬浮待测微粒,利用光电探测器收集微粒的散射光信号,多次重复捕获不同的微粒,记录每次的散射光光强,统计光功率的光强分布情况;微粒数量与散射光强存在一一对应关系,微粒数量越多,散射光强越大,根据光强分布情况,获取光阱捕获不同数量的微粒时对应的预期光强,从而对微粒数量进行标定。本发明的方法和装置能够实现原位测量,也无需限制为真空环境,并且采用了光学非接触式的方式获取光阱中捕获微粒的信息,无需改变微粒的物理和化学特性。

    重力测量装置
    58.
    发明授权

    公开(公告)号:CN117111163B

    公开(公告)日:2024-08-02

    申请号:CN202310988309.5

    申请日:2023-08-07

    Abstract: 本公开是关于一种重力测量装置,包括测量室、电极组件、透镜、第一生光组件和第二生光组件;测量室包括壳体,所述壳体设有腔室;电极组件设于所述壳体,所述电极组件通电后在所述腔室内产生电场;透镜设于所述壳体;第一生光组件用于产生第一激光光束,并使所述第一激光光束穿过所述透镜,在所述腔室内形成使待测物悬浮并捕获所述待测物的光阱区域;第二生光组件用于产生第二激光光束,并使所述第二激光光束传输至所述腔室内,以探测所述待测物的带电量。如此,使重力测量装置空间光路简单、系统体积小、移动便利。

    基于电偶极旋转散射光探测的纳米微粒识别装置和方法

    公开(公告)号:CN112730334B

    公开(公告)日:2024-03-22

    申请号:CN202011542755.6

    申请日:2020-12-23

    Abstract: 本发明公开一种基于电偶极旋转散射光探测的纳米微粒识别装置和方法,依据纳米微粒的散射模型,通过微粒悬浮操控和散射光探测分离的方法,实现光阱中的微粒形态的原位探测。具体为利用两束线偏振激光,第一束激光悬浮纳米微粒,并通过偏振方向调节旋转纳米微粒;第二束线偏振光偏振方向不变,激发特定偶极方向散射光;通过监测固定位置处第二束激光激发的散射光光强的变化推知纳米微粒极化率的变化,进而实现粒子形态识别。本发明的方法可以为真空光镊领域纳米微粒的原位结构如单球、双球等判定提供高效解决方案;同时对于生物化学以及材料应用领域中的纳米微粒标定提供辅助方法。

    电场强度测量装置及其测量方法
    60.
    发明公开

    公开(公告)号:CN117665404A

    公开(公告)日:2024-03-08

    申请号:CN202311348043.4

    申请日:2023-10-17

    Abstract: 本申请提供一种电场强度测量装置及其测量方法。该装置包括光纤激光器、光纤分束器、第一支路、第二支路、信号处理器及放电模块。光纤激光器通过光纤与光纤分束器连接,光纤分束器通过光纤分别与第一支路和第二支路连接。光纤分束器用于将光纤激光器出射的激光分成两路,分别进入到第一支路和第二支路。第一支路包括用于探测参考光的第一探测模块,第二支路包括光阱捕获模块及第二探测模块,光阱捕获模块用于形成光阱捕获微粒,第二探测模块用于探测捕获光场经过微粒形成的散射光。放电模块用于调节微粒的电荷量。信号处理器基于第一探测模块的探测信号和第二探测模块的探测信号来确定微粒所处位置的电场强度。

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