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公开(公告)号：CN1751443A
公开(公告)日：2006-03-22
申请号：CN200480004129.4
申请日：2004-06-18
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: H03M13/03
CPC classification number: G11B20/1217 , G11B20/1833 , G11B2020/1222 , G11B2020/1272 , H03M13/2954
Abstract: 一种纠错编码方法，包括：通过以预定的方式将用户数据进行纠错编码来产生预定数量字节长的纠错码数据；产生突发指示子码数据，该突发指示子码数据为预定数量的字节长并且被用于探测在用户数据中发生的错误；将该纠错码数据划分为多个子纠错码数据，每一子纠错码数据具有小于该纠错码数据的长度；将该突发指示子码数据划分为多个具有小于可纠错编码的最小数据单元的长度的子突发指示子码数据；和交替排列该多个子纠错码数据与该多个子突发指示子码数据。
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公开(公告)号：CN1745417A
公开(公告)日：2006-03-08
申请号：CN200480003154.0
申请日：2004-07-07
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G11B7/007
Abstract: 提供了一种记录和/或再现设备，包括：信号处理单元，其执行第一地址和第二地址的信号处理以区分位于信息记录介质的数据可记录区域中的第一区域和位于数据可记录区域中的第二区域，所述第二区域使用与使用在第一区域中的记录和/或再现单元块的尺寸不同的记录和/或再现单元块，以及将数据记录在信息记录介质上或从信息记录介质读取数据；以及控制单元，其使用信息记录介质的第一区域中的第一地址和第二区域中的第二地址控制信号处理单元以用于记录和/或再现数据。
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公开(公告)号：CN1723490A
公开(公告)日：2006-01-18
申请号：CN200480001804.8
申请日：2004-04-22
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G11B7/0045
CPC classification number: G11B7/00375 , G11B7/00736 , G11B20/1883 , G11B27/329 , G11B2020/1873 , G11B2220/20 , G11B2220/218
Abstract: 一种用于记录介质缺陷管理的方法和驱动器，以及一种缺陷管理记录介质。该缺陷管理方法包括：当TDMS的更新开始时写入指定临时缺陷管理结构(TDMS)的更新周期被打开的第一状态信息，TDMS包含关于临时缺陷管理的信息；当数据被写入信息存储介质或从信息存储介质中被读取时更新TDMS；和当TDMS的更新完成时写入指定TDMS的更新周期被关闭的第二状态信息。
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公开(公告)号：CN1705986A
公开(公告)日：2005-12-07
申请号：CN200480001415.5
申请日：2004-04-29
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G11B7/007
Abstract: 一种将临时缺陷列表记录在一次写入记录介质上的方法，一种再现该临时缺陷列表的方法，一种用于记录和/或再现临时缺陷列表的设备，以及一次写入记录介质。将用于缺陷管理的临时缺陷列表记录在一次写入记录介质上的方法包括：将当数据被记录在一次写入记录介质上时被创建的临时缺陷列表记录在一次写入记录介质的至少一簇中，并且检验在该至少一簇中是否产生缺陷。随后，该方法包括：将原始记录在缺陷簇中的数据重新记录在另一簇中，并且将指示记录临时缺陷列表的该至少一簇的位置的指针信息记录在一次写入记录介质上。
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公开(公告)号：CN1705983A
公开(公告)日：2005-12-07
申请号：CN200380101600.7
申请日：2003-10-14
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G11B7/007
CPC classification number: G11B7/00736 , G11B20/1883 , G11B2020/10972 , G11B2020/1826 , G11B2020/1873 , G11B2020/1893 , G11B2220/20 , G11B2220/218 , G11B2220/2537
Abstract: 提供了一种使用可被更新的缺陷管理区域的盘缺陷管理方法和装置，和一次写入盘。该一次写入盘是导入区域、数据区域、和导出区域被顺序地置于其中的单记录层盘，该盘包括在导入区域和导出区域中至少出现一次的缺陷管理区域(DMA)，其中根据记录操作缺陷信息和缺陷管理信息被重复地记录在DMA中。因此，盘缺陷管理方法和装置可应用于一次写入盘并且能够有效地使用缺陷管理区域。
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公开(公告)号：CN1571058A
公开(公告)日：2005-01-26
申请号：CN200410055275.1
申请日：2004-03-17
Applicant: 三星电子株式会社
CPC classification number: G11B20/1883 , G11B2020/1873
Abstract: 一种记录方法、记录装置、光学记录介质、和计算机可读记录介质，所述记录介质中存储了用于所述记录方法的程序，其中所述方法包括：将在整个临时缺陷信息之中的具有大小等于预定大小(K)的倍数(N＝0、1、2、…)的临时缺陷信息以及在该整个临时缺陷信息之中的排除大小等于K×N的临时缺陷信息之外的剩余的临时缺陷信息分别记录到光学记录介质中。
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公开(公告)号：CN1542824A
公开(公告)日：2004-11-03
申请号：CN200410047287.X
申请日：2002-02-04
Applicant: 三星电子株式会社
CPC classification number: H03M13/2909 , G11B20/1217 , G11B20/1809 , G11B20/1866 , G11B2020/1222 , G11B2020/1295 , G11B2220/2537 , H03M13/1515 , H03M13/27
Abstract: 提供了一种数据记录装置和光信息再现装置。该用于在光信息记录介质上记录数据的装置包括：纠错码(ECC)编码器，ECC编码主数据以产生多个ECC块，每个ECC块由扇区组成以及每个扇区具有一个标识符；交错器，从所述ECC块中提取和安排所述标识符以产生记录块，使相邻标识符属于不同的ECC块；调制单元，调制所产生的记录块；和记录单元，记录所调制的记录块。结果是，所提供的数据记录装置和光信息再现装置具有更高的纠错率。
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公开(公告)号：CN1427397A
公开(公告)日：2003-07-02
申请号：CN02144313.0
申请日：2002-10-09
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G11B7/0045 , G11B7/007 , G11B20/10 , G11B20/12
CPC classification number: G11B20/18 , G11B7/00745 , G11B7/24085 , G11B20/1217 , G11B27/24 , G11B2020/1222 , G11B2020/1269 , G11B2220/215 , G11B2220/216 , G11B2220/218 , G11B2220/2545 , G11B2220/2562 , G11B2220/2566 , G11B2220/257 , G11B2220/2575
Abstract: 提供了一种在具有多个可寻址单元区域的光学记录介质上记录数据的方法。在每个可寻址单元区域中都记录了62个同步帧，每个同步帧都具有同步代码和数据。这样，用户数据就可以以较高密度记录在可记录的光学盘片上，特别是可记录的致密光盘上。
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