一种陶瓷涂层孔隙和分形维数的测定方法及应用

    公开(公告)号:CN114018780A

    公开(公告)日:2022-02-08

    申请号:CN202111182450.3

    申请日:2021-10-11

    Inventor: 王小飞 张涛 邹涛

    Abstract: 本发明涉及一种陶瓷涂层孔隙和分形维数的测定方法及应用,测定方法包括利用压汞法对陶瓷涂层样品孔隙测定以及衍生计算分形维数步骤,孔隙测定包括孔径测定,其计算公式为:R=‑2γcos(θ)/Δp;还包括孔隙率的测定,其是通过对压汞法测试所得孔隙率进行修正而得到;所述修正的计算公式为陶瓷涂层分形维数的计算公式为:其中,D为分形维数,采用本发明方法能够准确测定涂层的孔隙和分形维数,可应用于涂层性能表征,进而为涂层的性能和结构之间的关系提供了更多的参考因素,为其宏观性能的深入表征开辟了新方向。

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