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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN111964782B
公开(公告)日：2022-09-30
申请号：CN202010824785.X
申请日：2020-08-17
Applicant: 桂林电子科技大学
IPC: G01J4/00
Abstract: 本发明提供的是一种空间调制偏振成像对偏振片特定偏振角度检测的方法。其过程包括：A1，对中心波长为λ的入射光进行空间调制偏振成像，得到包含偏振信息的干涉图像；A2，对干涉图像进行变换在频域中找到中心波长λ窄带宽入射光的Stokes矢量被调制的位置；A3，确定频域中Stokes矢量的数量和位置；A4，通过结合偏振片的特定偏振角度0度、90度和45度和频域中Stokes矢量分布的关系判断偏振片的特定偏振角度是否存在偏差，最后将偏振片调到正确的特定偏振角度。本发明可用于偏振片偏振角度的检测调节，可广泛用于偏振成像等领域。
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公开(公告)号：CN111982471B
公开(公告)日：2022-08-26
申请号：CN202010823317.0
申请日：2020-08-17
Applicant: 桂林电子科技大学
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明提供的是一种基于空间调制偏振成像系统检测滤光片带宽的方法。其过程包括：A1，由待测滤光片的中心波长λ1和带宽d选择空间调制偏振成像系统的参数使得滤光片允许通过波段是空间调制偏振成像系统解调的结果正好处在不混叠的极限波段；A2，使用标准的滤光片对空间调制偏振成像系统进行测试，并记录下使用标准滤光片后解调出来的偏振度DOP1；A3，对待测滤光片进行测试进行解调后得到相应的偏振度DOP2；A3，对得到的两个偏振度进行比较，如果两者相等则待测滤光片的带宽在限定的带宽之内，否者表示待测滤光片的带宽过大。本发明可用于滤光片带宽检测，可广泛用于光学滤波器件检测标定等领域。
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公开(公告)号：CN112326203A
公开(公告)日：2021-02-05
申请号：CN202011171212.8
申请日：2020-10-28
Applicant: 桂林电子科技大学
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明提供的是一种通过干涉条纹中心区域数据确定成像系统参数的方法。其过程包括：A1，对一定带宽的入射光进行空间调制偏振成像，得到包含偏振信息的干涉图像；A2，提取得到的干涉图的中心区域的干涉条纹数据；A3，对提取的干涉条纹进行变换得到偏振信息在频域中的分布情况；A4，通过结合偏振信息在频域中的分布情况可以更加精确的确定偏振成像系统的相关参数。本发明可用于偏振成像系统的相关参数的确定，可广泛用于偏振成像等领域。
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公开(公告)号：CN112326033A
公开(公告)日：2021-02-05
申请号：CN202011174121.X
申请日：2020-10-28
Applicant: 桂林电子科技大学
Abstract: 本发明提供的是一种使用高通滤波解调出偏振图像高频信息的方法。其过程包括：A1，入射光进行空间调制偏振成像，得到包含偏振信息的干涉图像；A2，对干涉图进行变换得到用Stokes矢量表示的偏振信息在频域中的分布情况；A3，对除需要解调出来的Stokes矢量外的其他Stokes矢量所在的位置使用高通滤波处理；A4，对滤波后的数据进行后续的变换处理后得到带有高频信息的偏振图像。本发明可用于空间调制偏振成像偏振信息的解调，可广泛用于遥感偏振成像等领域。
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公开(公告)号：CN111982288A
公开(公告)日：2020-11-24
申请号：CN202010824851.3
申请日：2020-08-17
Applicant: 桂林电子科技大学
Abstract: 本发明提供的是一种在空间调制偏振成像频域解调中降低干扰的方法。其过程包括：A1，中心波长为λ的窄带宽入射光进行空间调制偏振成像，得到包含偏振信息的干涉图像；A2，对干涉图像进行变换在频域中找到中心波长λ窄带宽入射光的Stokes矢量被调制的位置；A3，在进行滤波处理前需要将除了要解调的Stokes矢量所在峰值点之外，其它Stokes矢量峰值点附近区域需要用附近值进行覆盖处理；A4，以各Stokes矢量峰值点的位置为中心对频域进行低通滤波处理，将目标的偏振信息分别解调出来。本发明可用于空间调制偏振成像各偏振信息的频域解调，可广泛用于遥感偏振成像等领域。
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