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公开(公告)号：CN116193046A
公开(公告)日：2023-05-30
申请号：CN202310191380.0
申请日：2023-02-24
Applicant: 北京紫光青藤微系统有限公司
Inventor： 黄金煌
Abstract: 本申请涉及图像获取技术领域，公开一种用于获取灰度图像的方法，包括：发送配置指令给图像获取设备，触发图像获取设备在每反馈一帧同步信号之后，按照配置后的输出数据格式反馈一帧图像数据。在接收到图像获取设备反馈的同步信号的情况下，利用第一直接存储器访问交替将接收到的各字节数据搬运到第一设定存储空间和第二设定存储空间；按照各字节数据存入第一设定存储空间的顺序将第一设定存储空间中的各字节数据传输到第三设定存储空间，直到第三设定存储空间中的字节数据的数量等于设定数量。这样能够在不利用主控设备的内核的情况下，实现色彩图像数据和灰度图像数据的分类。本申请还公开一种用于获取灰度图像的装置、主控设备及存储介质。
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公开(公告)号：CN115932641A
公开(公告)日：2023-04-07
申请号：CN202310224972.8
申请日：2023-03-10
Applicant: 北京紫光青藤微系统有限公司
IPC: G01R31/40
Abstract: 本申请涉及电源上电检测技术领域，公开一种电源检测电路，包括：电源域分别与采样电路和比较器电路电连接；采样电路与比较器电路电连接，采样电路用于对电源域进行采样，获得并输出电源电压给比较器电路；比较器电路分别与整形电路的输入端和反相器的输出端电连接；比较器电路用于根据电源电压生成并发送第一电平信号给整形电路；整形电路与反相器的输入端电连接；整形电路用于对第一电平信号进行滤波和整形处理，生成电源状态指示信号；反相器在第一电平信号为0的情况下，根据电源状态指示信号生成并发送第二电平信号给比较器电路，以断开比较器电路和整形电路之间的连接。这样能够在电源域上电完成的情况下，减小电源检测电路的功耗。
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公开(公告)号：CN115580507A
公开(公告)日：2023-01-06
申请号：CN202211576540.5
申请日：2022-12-09
Applicant: 北京紫光青藤微系统有限公司
Inventor： 黄金煌
IPC: H04L12/40
Abstract: 本申请公开了一种通信总线结构及通信方法，所述通信总线结构包括主设备和至少一个从设备；所述主设备包括第一输入接口、第一输出接口、时钟信号输出接口以及第一片选接口；所述从设备包括第二输出接口、第二输入接口、时钟信号输入接口以及第二片选接口；所述第一输入接口与所述第二输出接口相连，所述第一输出接口与所述第二输入接口相连，所述时钟信号输出接口与所述时钟信号输入接口相连，以及所述第一片选接口与所述第二片选接口相连；其中，所述第一片选接口和所述第二片选接口为开漏输出。由于所述第二片选接口为开漏输出，从设备可通过对第二片选接口的信息输出的控制，可使主设备与从设备建立通信窗口，从而可由所述从设备给所述主设备发送数据。
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公开(公告)号：CN115580322A
公开(公告)日：2023-01-06
申请号：CN202211446985.1
申请日：2022-11-18
Applicant: 北京紫光青藤微系统有限公司
Inventor： 黄金煌
Abstract: 本申请涉及近场通信技术领域，公开一种用于检测故障的方法，包括：在所述微控制单元发送设定电流强度的第一高频信号给所述匹配电路的情况下，获取流经所述微控制单元的电流；根据所述电流确定所述环形天线是否发生故障。这样不需要人工将环形天线从近场通信装置上取下，更不需要将环形天线接入专门的检测设备进行故障检测。而在近场通信装置上就能够直接确定环形天线是否发生故障，从而节约了故障检测的成本。本申请还公开一种用于检测故障的装置、近场通信装置及存储介质。
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公开(公告)号：CN115512738A
公开(公告)日：2022-12-23
申请号：CN202211323229.X
申请日：2022-10-27
Applicant: 北京紫光青藤微系统有限公司
Inventor： 黄金煌
Abstract: 本申请涉及非易失存储器技术领域，公开一种双沿采样电路，包括解码电路，该解码电路包括：第一解码移位寄存器，被配置为使用外部时钟的上升沿对双向数据输出装置的外部数据进行采样，以获得上升沿数据；第二解码移位寄存器，被配置为使用外部时钟的下降沿对双向数据输出装置的外部数据进行采样，以获得下降沿数据；拼位运算器，被配置为使用拼位运算将上升沿数据和下降沿数据拼成两位，得到两个时钟沿的数据；地址寄存器，被配置为使用外部时钟完成两个时钟沿的数据的地址拼接。双沿采样电路采用双沿采样的方式进行数据通信，能够有效提高数据传输速率。本申请还公开一种用于双沿采样电路的数据采样方法、装置及系统。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN115458024A
公开(公告)日：2022-12-09
申请号：CN202211094932.8
申请日：2022-09-08
Applicant: 北京紫光青藤微系统有限公司
Inventor： 黄金煌
IPC: G11C29/08 , G06F30/327 , G11C29/56
Abstract: 本申请公开了一种适用于存储器芯片测试程序的生成方法及装置，该方法中确定待测试存储器芯片的封装类型，根据接收到的测试需求指令对待测试存储器芯片的测试程序进行修改得到修改后的测试程序，根据封装类型对应的指令解析方式对测试需求指令进行解析得到测试结果，根据封装类型对应的校验方式对测试结果进行校验，当校验通过时输出修改后的测试程序作为待测试存储器芯片的测试程序。本申请根据不同的封装类型对应的不同的指令解析方式对测试需求指令进行解析得到测试结果以及对应的不同的校验方式对测试结果进行校验，并在校验通过时输出测试程序。全程无需人为参与，避免人为修改测试程序出现错误，降低测试程序出现错误的概率，提高测试效率。
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公开(公告)号：CN115291812A
公开(公告)日：2022-11-04
申请号：CN202211205765.X
申请日：2022-09-30
Applicant: 北京紫光青藤微系统有限公司
Inventor： 黄金煌
IPC: G06F3/06
Abstract: 本发明公开了一种通信芯片的数据存储方法及装置，所述方法应用于第一通信芯片，包括：根据待存储数据，确定数据存储请求；将所述数据存储请求发送至至少一个第二通信芯片；以使所述第二通信芯片确定存储状态信息，并在所述存储状态信息与所述数据存储请求匹配时反馈响应请求；当所述响应请求满足预设条件，将所述响应请求对应的第二通信芯片确定为目标通信芯片，并将所述待存储数据存储至所述目标通信芯片；根据所述目标通信芯片，确定所述待存储数据对应的第一存储索引，并保存所述第一存储索引；所述方法实现了多个通信芯片之间存储空间的共享，从而改善存储空间利用不均衡的状况，提高存储空间的利用效率。
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公开(公告)号：CN114942892B
公开(公告)日：2022-10-28
申请号：CN202210882324.7
申请日：2022-07-26
Applicant: 北京紫光青藤微系统有限公司
Inventor： 黄金煌
Abstract: 本申请涉及通信领域，公开一种用于与待测试软件通信的方法，包括：利用预设的卡片模型接收待测试软件发送的第一近场通信NFC信号；卡片模型用于根据预设的卡片技术类型和预设的卡片协议类型解析第一NFC信号和调制第二NFC信号；利用卡片模型根据第一NFC信号与待测试软件进行通信。这样，可以使用卡片模型替代实体NFC卡片来测试待测试软件。而采用卡片模型不需要人工进行放置和更换，能够提高NFC软件的测试效率。同时，由于采用卡片模型来测试待测试软件，不需要采购很多的实体卡片，因此，也能降低待测试软件的测试成本。本申请还公开一种用于与待测试软件通信的装置、设备、存储介质。
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公开(公告)号：CN115102583A
公开(公告)日：2022-09-23
申请号：CN202211024563.5
申请日：2022-08-25
Applicant: 北京紫光青藤微系统有限公司
Inventor： 黄金煌
IPC: H04B5/00
Abstract: 本发明公开了一种NFC通信方法、装置、可读介质及电子设备，所述方法应用于第一类NFC设备，所述方法包括：确定目标NFC协议，根据所述目标NFC协议确定所述第一类NFC设备对应的波形描述信息；根据所述波形描述信息，确定波形协定指令；并将所述波形协定指令发送至所述第一类NFC设备对应的第二类NFC设备；在发送所述波形协定指令后，向所述第二类NFC设备发送激活指令，以使所述第二类NFC设备回复反馈信息；根据所述第二类NFC设备的反馈信息确定所述波形协定指令对应的协定结果；通过第一类NFC设备向第二类NFC设备发送波形协定指令，实现了二者之间的通信信号波形协定；避免了不同设备之间波形的差异性，解决了不同设备之间出现兼容性问题，提升了通信效率。
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公开(公告)号：CN114942871A
公开(公告)日：2022-08-26
申请号：CN202210847754.5
申请日：2022-07-19
Applicant: 北京紫光青藤微系统有限公司
Inventor： 黄金煌
Abstract: 本发明公开了一种NFC芯片的测试方法、装置、可读介质及电子设备，包括：根据断电设置信息，确定断电设置参数；根据所述断电设置参数，确定相应的控制流程；当接收到断电触发指令，执行所述控制流程，以控制所述NFC芯片的供电状态；在所述控制流程执行完成后，确定所述NFC芯片的断电测试结果；本发明通过控制流程实现了对于断电保护测试的精确控制，可以精准的控制断电的时长、次数、频率等关键要素；而且对于断电的控制时间可以覆盖NFC芯片进行数据擦写的全部时间范围，使得对NFC芯片的断电保护功能的评估更为准确高效。
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