一种利用纤芯失配干涉结构测量折射率的方法

    公开(公告)号:CN106404718A

    公开(公告)日:2017-02-15

    申请号:CN201610741672.7

    申请日:2016-08-26

    Abstract: 本发明提供了一种利用纤芯失配干涉结构测量折射率的方法,所述方法包括如下步骤:a)搭建纤芯错位熔接干涉结构,所述纤芯错位熔接干涉结构包括依次连接的泵浦源,波分复用器,增益光纤,第一单模光纤,第二单模光纤,第三单模光纤和光谱分析仪;b)对第一单模光纤,第二单模光纤和第三单模光纤进行光纤错位熔接;c)计算待测溶液的折射率:针对浓度未知的溶液,在温度与标定温度相同的条件下,将纤芯失配结构浸泡于溶液中,得到纤芯失配结构对外界折射率条件变化的灵敏度,通过逐渐增加浓度的大小,记录梳状谱移动的长度,根据漂移量通过以下公式可以推断出该溶液的折射率:λ=aR+b,其中R为折射率浓度,λ为变化波长,a,b为常数。

    一种采用光纤端面刻槽结构的温度测量方法

    公开(公告)号:CN106248250A

    公开(公告)日:2016-12-21

    申请号:CN201610885225.9

    申请日:2016-10-11

    CPC classification number: G01K11/32 G01K1/00

    Abstract: 本发明提供了一种采用光纤端面刻槽结构的温度测量方法,所述光纤端面刻槽结构的端面开设凹槽,所述凹槽呈长方体结构,凹槽底边与光纤纤芯的直径重合,并且所述凹槽底边的宽度大于所述光纤纤芯的直径,所述凹槽底边的宽度小于光纤包层的外侧圆周直径;所述凹槽沿纤芯中心平面向上贯穿至光纤包层的外侧;所述温度测量方法包括如下步骤:a、搭建温度测量系统;b、将连接光纤端面刻槽结构的一段光纤置于温度可控的环境中;c、逐渐改变所述环境中的温度大小,记录梳状谱移动的长度,绘制梳状谱移动的长度随温度变化的关系曲线;d、利用梳状谱移动的长度随温度变化的关系曲线对待温度进行测量。本发明简化了光路,使结构更加紧凑。

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