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公开(公告)号：CN101252016B
公开(公告)日：2016-01-20
申请号：CN200810082036.3
申请日：2003-10-01
Applicant: LG电子株式会社
IPC: G11B20/18
CPC classification number: G11B20/1883 , G11B2020/1873 , G11B2220/20
Abstract: 一种一次写入型光盘和在一次写入型光盘分配备用区的设备和方法。所述方法包括在一次写入型记录介质上分配数据区和在记录介质上在该数据区内分配用户数据区和至少一个备用区。所述至少一个备用区具有可变大小，其中记录介质上的所述至少一个备用区的最大记录容量比在可重写型光盘上的至少一个可变备用区的最大记录容量小。
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公开(公告)号：CN101183550B
公开(公告)日：2014-08-27
申请号：CN200710194086.6
申请日：2003-09-26
Applicant: LG电子株式会社
IPC: G11B20/18
CPC classification number: G11B20/1883 , G11B2020/1893 , G11B2220/20 , G11B2220/218 , G11B2220/2541
Abstract: 提供了一种一次性写入记录介质以及一种用于管理该记录介质上的缺陷区的方法和装置。该方法包括：在数据写操作中，当数据被写到数据区上时检测记录介质的数据区中的缺陷区的存在；如果检测到缺陷区，则把写在缺陷区中的数据写到另一数据用户区上；以及把与该缺陷区相关的缺陷管理信息写到记录介质上的至少一个缺陷管理区上。
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公开(公告)号：CN102163434A
公开(公告)日：2011-08-24
申请号：CN200910254091.0
申请日：2003-10-01
Applicant: LG电子株式会社
CPC classification number: G11B20/1883 , G11B7/00745 , G11B2007/0013 , G11B2020/1873 , G11B2220/20
Abstract: 本发明涉及一次写入型光盘以及用于管理该光盘上的缺陷信息的方法和设备。利用临时缺陷管理区(TDMA)提供了一种一次写入型光盘、一种用于管理该一次写入光盘，例如，BD-WO上的缺陷信息的方法和设备。该方法包括：准备临时缺陷管理区(TDMA)，在该临时缺陷管理区上，将临时缺陷列表(TDFL)记录为用于管理光盘上的缺陷区的缺陷管理信息；在临时缺陷管理区上，利用先前的临时缺陷列表累积记录最近临时缺陷列表；以及除了临时缺陷列表，还在临时缺陷管理区上记录用于指出最近临时缺陷列表的位置的位置信息，以更有效地管理临时缺陷列表。
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公开(公告)号：CN101572099A
公开(公告)日：2009-11-04
申请号：CN200910148814.9
申请日：2003-11-27
Applicant: LG电子株式会社
IPC: G11B7/0045 , G11B7/007 , G11B20/12 , G11B20/18 , G11B27/32
Abstract: 一种在光学记录介质上记录的方法和装置，其中包括管理信息的记录，它作为一次写入蓝色激光盘的标准被描述。管理信息记录在光盘的管理区，诸如临时缺陷管理区(TDMA)中，同时包括记录状态信息和更新信息。记录状态信息是指示记录操作是否为了光盘的某一预定区域已经被执行的空间位图(SBM)，同时更新信息是指示该记录状态信息是否将被持续管理的SBM更新信息。所述SBM更新信息记录在TDMA内并且存储在光学记录/重写器件的存储器中用于在记录和重写操作中使用。在记录时，SBM－开状态使在需要时可执行逻辑重写操作。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN100385512C
公开(公告)日：2008-04-30
申请号：CN200380109904.8
申请日：2003-10-01
Applicant: LG电子株式会社
CPC classification number: G11B20/1883 , G11B2020/1873 , G11B2220/20
Abstract: 本发明提供了一次性写入光学记录介质，用于分配所述一次性写入光学记录介质的缺陷管理区的方法，以及用于分配所述一次性写入光学记录介质的备用区的方法。这里提供的具有至少一个记录层的一次性写入光学记录介质上的缺陷的管理方法包括下列步骤：分别分配至少一个具有固定大小的临时缺陷管理区和至少一个具有可变大小的临时缺陷管理区至所述光学记录介质，将缺陷管理信息记录在所述至少一个具有固定大小的临时缺陷管理区和所述至少一个具有可变大小的临时缺陷管理区上；以及使用所述至少一个具有固定大小的临时缺陷管理区和所述至少一个具有可变大小的临时缺陷管理区。
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公开(公告)号：CN100383860C
公开(公告)日：2008-04-23
申请号：CN200380109805.X
申请日：2003-10-01
Applicant: LG电子株式会社
CPC classification number: G11B20/1883 , G11B2020/1873 , G11B2220/20
Abstract: 一种一次写入型光盘和在一次写入型光盘分配备用区的设备和方法。所述方法包括在一次写入型记录介质上分配数据区和在记录介质上在该数据区内分配用户数据区和至少一个备用区。所述至少一个备用区具有可变大小，其中记录介质上的所述至少一个备用区的最大记录容量比在可重写型光盘上的至少一个可变备用区的最大记录容量小。
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公开(公告)号：CN100362575C
公开(公告)日：2008-01-16
申请号：CN03801864.0
申请日：2003-09-26
Applicant: LG电子株式会社
CPC classification number: G11B20/1883 , G11B2020/1893 , G11B2220/20 , G11B2220/218 , G11B2220/2541
Abstract: 提供了一种一次性写入记录介质以及一种用于管理该记录介质上的缺陷区的方法和装置。该方法包括：检测记录介质的数据区中缺陷区的存在；如果检测到缺陷区，则把写到缺陷区中的数据写到至少一个备用区的置换区；以及把与该缺陷区相关的缺陷管理信息写到记录介质上的至少一个缺陷管理区上，其中记录介质上的至少一个缺陷管理区是记录介质的数据区中的至少一个备用区的一部分。
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公开(公告)号：CN1768378A
公开(公告)日：2006-05-03
申请号：CN200480008748.0
申请日：2004-02-25
Applicant: LG电子株式会社
Abstract: 一种用于光学记录媒体的缺陷管理的方法，使用多个临时缺陷管理区域(TDMA)使缺陷管理信息可记录在诸如只写一次Blu－ray盘的光学记录媒体的指定区域，以包括在各临时缺陷管理区域中指定最后缺陷管理区域的位置的信息，以表示最近记录区域并因此包含最新的信息。缺陷管理信息记录(更新)在两个临时缺陷管理区域之一中，其中使用中盘的缺陷管理信息记录在一个TDMA中，而退出盘的缺陷管理信息记录在另一TDMA中，从而在退出该盘时记录使用中盘最后的缺陷管理信息。
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公开(公告)号：CN1757071A
公开(公告)日：2006-04-05
申请号：CN200380110102.9
申请日：2003-11-27
Applicant: LG电子株式会社
Abstract: 一种在光学记录介质上记录的方法和装置，其中包括管理信息的记录，它作为一次写入蓝色激光盘的标准被描述。管理信息记录在光盘的管理区，诸如临时缺陷管理区(TDMA)中，同时包括记录状态信息和更新信息。记录状态信息是指示记录操作是否为了光盘的某一预定区域已经被执行的空间位图(SBM)，同时更新信息是指示该记录状态信息是否将被持续管理的SBM更新信息。所述SBM更新信息记录在TDMA内并且存储在光学记录/重写器件的存储器中用于在记录和重写操作中使用。在记录时，SBM－开状态使在需要时可执行逻辑重写操作。
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