公开(公告)号：CN104729691B

公开(公告)日：2016-09-14

申请号：CN201510133838.2

申请日：2015-03-25

Applicant: 西安应用光学研究所

Inventor： 李宏光 ,  杨鸿儒 ,  薛战理 ,  袁良 ,  康登魁 ,  于东钰 ,  卢飞 ,  韩占锁 ,  常伟军 ,  腾国奇

IPC: G01J1/00

Abstract: 本发明提出一种太赫兹探测器参数测量装置及测量方法，用于测量各种太赫兹探测器的响应度等参数。本发明采用具有绝对响应度的标准太赫兹探测器和待测太赫兹探测器比对测量的方法：参考太赫兹辐射源的太赫兹辐射，与液氮制冷黑体的背景辐射，被斩光片调制成周期性变化的太赫兹辐射信号，在一个周期内交替入射到光学系统，最终入射到标准太赫兹探测器或待测太赫兹探测器上，转换为周期性变化的电压信号，再经过锁相放大器处理得到测量电压信号；根据由标准太赫兹探测器的绝对响应度值计算得到待测太赫兹探测器的响应度、噪声等效功率等参数。本发明装置放置在液氮制冷的低温真空背景通道中，大大降低了背景噪声对太赫兹探测器参数准确测量的影响。

公开(公告)号：CN104568156B

公开(公告)日：2016-08-24

申请号：CN201510001605.7

申请日：2015-01-04

Applicant: 西安应用光学研究所

Inventor： 占春连 ,  李燕 ,  卢飞 ,  李正琪 ,  袁良 ,  李涛 ,  袁林光

IPC: G01J3/51

Abstract: 本发明提出一种目标彩色对比度测试装置及测试方法，装置由光学成像系统、RGB滤光系统、面阵CCD采集系统、计算机测量与处理系统以及光学平台组成；光学成像系统对准目标及背景，目标及背景或者仅是背景发射的光信号经过光学成像系统后，再经过RGB滤光系统分光，最后在面阵CCD采集系统上成像；面阵CCD采集系统的输出信号送入计算机测量与处理系统。本发明采用CIE1964?UCS标准色度理论评价系统，对明度指数W*和色品指数U*、V*等颜色的三属性综合计算，同时考虑到目标的亮度和色度两个方面的影响，更为全面评价客观的评价目标彩色对比度，解决了可见光隐身目标彩色对比度测量的难题。

公开(公告)号：CN104729691A

公开(公告)日：2015-06-24

申请号：CN201510133838.2

申请日：2015-03-25

Applicant: 西安应用光学研究所

Inventor： 李宏光 ,  杨鸿儒 ,  薛战理 ,  袁良 ,  康登魁 ,  于东钰 ,  卢飞 ,  韩占锁 ,  常伟军 ,  腾国奇

IPC: G01J1/00

Abstract: 本发明提出一种太赫兹探测器参数测量装置及测量方法，用于测量各种太赫兹探测器的响应度等参数。本发明采用具有绝对响应度的标准太赫兹探测器和待测太赫兹探测器比对测量的方法：参考太赫兹辐射源的太赫兹辐射，与液氮制冷黑体的背景辐射，被斩光片调制成周期性变化的太赫兹辐射信号，在一个周期内交替入射到光学系统，最终入射到标准太赫兹探测器或待测太赫兹探测器上，转换为周期性变化的电压信号，再经过锁相放大器处理得到测量电压信号；根据由标准太赫兹探测器的绝对响应度值计算得到待测太赫兹探测器的响应度、噪声等效功率等参数。本发明装置放置在液氮制冷的低温真空背景通道中，大大降低了背景噪声对太赫兹探测器参数准确测量的影响。

公开(公告)号：CN104344890A

公开(公告)日：2015-02-11

申请号：CN201410625103.7

申请日：2014-11-07

Applicant: 西安应用光学研究所

Inventor： 李燕 ,  杨鸿儒 ,  卢飞 ,  占春连 ,  李正琪

IPC: G01J3/28

Abstract: 本发明提出一种微弱光信号光谱的快速测量装置及方法，在分光型光谱测量系统的光源光谱功率分布测试方法的基础上，采用面阵CCD替代原有的线阵CCD，可以对微弱光信号同时完成多次测量，通过对测量结果的处理，可以提高输出信号的强度，同时又去除了随机噪声，实现了微弱光信号光谱功率分布的快速测量。本发明微弱光信号光谱快速测量方法测量速度快，精度高，操作简单，通用性强，为其他类型光谱仪的光谱测试提供了技术支持。