一种消除温度测量系统误差的低温热导率测试方法

    公开(公告)号:CN117368257A

    公开(公告)日:2024-01-09

    申请号:CN202311228619.3

    申请日:2023-09-21

    Abstract: 本发明公开了一种消除温度测量系统误差的低温热导率测试方法,其特征在于,包括低温热导率测试装置,所述低温热导率测试装置包括防辐射冷屏、被测样件、制冷机,所述被测样件固定在制冷机的二级冷头顶部,所述被测样件背离二级冷头的一端为热端,与二级冷头相连的一端为绝热端,所述热端与绝热端之间设有冷端,所述热端、绝热端、冷端上分别设有加热器和温度传感器,所述防辐射冷屏与制冷机的一级冷头相连并形成低温等温腔体;本发明中,消除了使用两个测量传感器的带来的测量误差,以及原有的冷端与热端之间的温差。

    一种基于低温自调节的低温恒温器

    公开(公告)号:CN116634650A

    公开(公告)日:2023-08-22

    申请号:CN202310418923.8

    申请日:2023-04-13

    Abstract: 本发明公开了一种恒温器冷质量支架组件,包括恒温器底板、冷质量支架支撑部、底座支撑,所述冷质量支撑部通过恒温器底板固定连接在底座支撑顶部,所述冷质量支撑部包括冷质量支架,所述冷质量支架上预偏移安装有超导腔及超导磁体,所述冷质量支架高度上预设有低温冷缩量,所述底座支撑用于为恒温器底板提供水平安装平面。本发明中,通过在常温下将、超导腔、超导磁体进行预偏移安装,使得整个冷质量支架组件在低温下可进行冷缩,冷质量支架高度上预设有低温冷缩量,使其在低温下冷缩后达到正常作业高度,防止对超导腔及超导磁体产生影响。

    一种适用于高纯锗探测的零蒸发液氮储罐

    公开(公告)号:CN115711359A

    公开(公告)日:2023-02-24

    申请号:CN202211345668.0

    申请日:2022-10-31

    Abstract: 本发明公开了一种适用于高纯锗探测的零蒸发液氮储罐,包括制冷机、液氮杜瓦、储罐、注入口封头组件,所述储罐内设有真空腔体,所述液氮杜瓦悬吊设于真空腔体内,且液氮杜瓦底部与储罐底部内壁之间留有间隙,所述注入口封头组件通过穿过罐体顶部的主颈管波纹管与液氮杜瓦相连,所述制冷机设于罐体顶部。本发明中,通过使用钢铝接头和不锈钢波纹管可实现双颈管的设置,使用钢铝接头可保证不锈钢波纹管可与液氮杜瓦、注入口封头组件、制冷机等铝合金结构进行连接,不但延长了热传导的距离,降低了制冷机的横向震动,更是极大限度减少系统的漏热,降低液氮的蒸发率,可实现更长时间的静态测试与更短的回凝时间,延长制冷机使用寿命。

    一种低温热导率测量装置和测量方法

    公开(公告)号:CN115266814A

    公开(公告)日:2022-11-01

    申请号:CN202210703822.0

    申请日:2022-06-21

    Abstract: 本发明公开了一种低温热导率测试装置和测量方法,二极冷屏具有二极冷板,待测样品的一端安装在二极冷板上,铜板安装在待测样品的另一端,第一温度传感器和第一加热块安装在铜板上;第二温度传感器和第二加热块安装在二极冷板上;二极冷屏安装在一级冷屏的内部,一级冷屏安装在真空腔体的内部;真空腔体和制冷机均固定安装在支架上,制冷机的一级冷头和二极冷头分别与一级冷屏和二极冷屏连通;第一温度传感器和第二温度传感器均与温控仪的输入端连接,温控仪的输出端与第二加热块连接,第一加热块与热端加热电源连接,第一冷屏的一级冷板与快速回温加热电源连接。本测试装置的漏热少,能够准确测量热导率。

    一种用于流体传输的真空密封管接装置

    公开(公告)号:CN115163947A

    公开(公告)日:2022-10-11

    申请号:CN202210569202.2

    申请日:2022-05-24

    Abstract: 本发明公开了一种用于流体传输的真空密封管接装置,包括真空腔颈管、真空腔颈管法兰、内接管、波纹管、密封环、内接管内法兰和活套法兰,真空腔颈管一端连接外部真空腔体,另一端连接真空腔颈管法兰,内接管贯穿真空腔颈管,内接管上套设波纹管,波纹管一端通过密封环密封固定在真空腔颈管上,另一端伸入真空腔颈管内部并连接内接管内法兰,真空腔颈管法兰和内接管内法兰均连接活套法兰,活套法兰的内径大于波纹管外径。本发明的优点在于,该管接装置减少了真空腔颈管因为低温而结水或结霜的现象发生,降低了拆卸成本;并且不受真空腔内部操作空间的限制,避免了操作人员进入腔内断开连接的情况,能够适应空间小的环境操作。

    一种低液体挥发损耗的杜瓦装置

    公开(公告)号:CN108533947A

    公开(公告)日:2018-09-14

    申请号:CN201810424201.2

    申请日:2018-05-04

    Abstract: 本发明提供了一种降低低温液体挥发损耗的杜瓦装置,包括顶盖、安装于顶盖下侧相互嵌套的外筒和内筒,内筒内注有低温液体,其特征在于,还包括安装于所述内筒和外筒之间的排空盘管,所述顶盖上设有低温液体挥发气体的排空口,所述排空盘管的进口与出口设于所述顶盖上,所述排空口与所述排空盘管进口相连,低温液体挥发气体依次经排空口、排空盘管进口、排空盘管出口排出。本发明提供的杜瓦装置,减少了杜瓦的漏热量,提高了杜瓦的保温性能,降低了低温液体的挥发损耗。

    一种带低温泵的表面分析系统

    公开(公告)号:CN103383322A

    公开(公告)日:2013-11-06

    申请号:CN201310291315.1

    申请日:2013-07-11

    Abstract: 本发明公开了一种带低温泵的表面分析系统,包括有真空腔体,真空腔体顶部样品架中心直管伸入真空腔体内,且直管底端安装有方形铜块,低温泵的泵体安装在真空腔体底部,制冷机的二级冷头与泵体中的吸附阵侧部接触以冷却吸附阵,铜块底部连接的多根铜丝分别连接至泵体中的吸附阵上。本发明样品的最低温度可以低至25K,完全满足于表面分析实验需要,无须耗费液氮或液氦,并且比一般的液氮或液氦降温获得的温度更低,进而获得更多的实验信息。

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