绝缘缺陷检测方法、装置、存储介质及电子设备

    公开(公告)号:CN118604534A

    公开(公告)日:2024-09-06

    申请号:CN202410410385.2

    申请日:2024-04-07

    Abstract: 本发明公开了一种绝缘缺陷检测方法、装置、存储介质及电子设备。其中,该方法包括:在检测到开关柜存在特征气体的情况下,获取开关柜所在的当前环境参数,以及特征气体中预定组分对应的第一表征含量,其中,预定组分的含量累积程度与当前环境参数关联;确定参考环境参数,以及表征参考环境参数下预定组分的含量与绝缘缺陷风险等级之间的参考映射关系;基于当前环境参数转换至参考映射关系中的参考环境参数,确定由第一表征含量转换得到的校正表征含量;在参考映射关系中,确定校正表征含量对应的绝缘缺陷风险等级,作为开关柜的目标风险等级。本发明解决了相关技术中存在绝缘缺陷检测准确性不理想的技术问题。

    柱上开关的绝缘材料性能的检测装置及其控制方法

    公开(公告)号:CN117872046A

    公开(公告)日:2024-04-12

    申请号:CN202311636385.6

    申请日:2023-11-30

    Abstract: 本申请提供了一种柱上开关的绝缘材料性能的检测装置及其控制方法,其中,该检测装置包括:腔室,腔室用于放置待检测绝缘材料检测,腔室包括第一连接模块和第二连接模块;加压单元,与第一连接模块电连接,加压单元用于向腔室提供电压;调节单元,与腔室连通,调节单元用于调节腔室的检测参数,检测参数至少包括腔室的压力、腔室的温度、腔室的气体浓度以及腔室的湿度;检测单元,与第二连接模块电连接,检测单元用于获取待检测绝缘材料的检测结果,其中,检测结果至少包括待检测绝缘材料的电性参数。该检测装置解决了现有技术中柱上开关的绝缘材料性能检测不够全面的问题。

    柱上开关的检测方法和柱上开关的检测装置

    公开(公告)号:CN117665556A

    公开(公告)日:2024-03-08

    申请号:CN202311635873.5

    申请日:2023-11-30

    Abstract: 本申请提供了一种柱上开关的检测方法和柱上开关的检测装置。该方法包括:包括:对处于检测环境的柱上开关进行红外检测,得到第一检测结果,第一检测结果至少包括柱上开关的温度,检测环境为模拟柱上开关受潮情况下的环境;对处于检测环境的柱上开关进行紫外检测,得到第二检测结果,第二检测结果至少包括柱上开关的辐射强度;对处于检测环境的柱上开关进行电流检测,得到第三检测结果,第三检测结果至少包括柱上开关的局部放电参数;将第一检测结果、第二检测结果以及第三检测结果展示在显示界面上。该方法解决了现有技术中无法尽早检测柱上开关故障的技术问题。

    高压断路器操作机构的故障诊断方法及装置、电子设备

    公开(公告)号:CN111060813B

    公开(公告)日:2022-05-10

    申请号:CN201911252345.5

    申请日:2019-12-09

    Abstract: 本发明公开了一种高压断路器操作机构的故障诊断方法及装置、电子设备。其中,该方法包括:采集高压断路器上的分合闸线圈的电流信号,并从分合闸线圈的电流信号中提取电流特征数据;基于分合闸线圈的电流信号建立第一样本集合,并基于电流特征数据建立第一特征集合;基于第一样本集合和第一特征集合,建立故障样本集合;计算第一特征集合中每个特征数据的重要度,并统计重要度小于预设重要度阈值的特征数据,得到目标特征子集和;基于目标特征子集合构建高压断路器操作机构的故障诊断模型,其中,第一特征集合划分为训练集和测试集;利用故障诊断模型测试新电流测试样本,输出高压断路器操作机构发生故障的故障类型。

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