激光直写系统刻写方法、装置及计算机设备

    公开(公告)号:CN116382043A

    公开(公告)日:2023-07-04

    申请号:CN202310399542.X

    申请日:2023-04-14

    Abstract: 本申请涉及一种激光直写系统刻写方法、装置及计算机设备。所述激光直写系统包括图像传感模块、振镜、位移台,所述方法包括:确定所述位移台移动的第一距离与所述图像传感模块像素点对应移动的第二距离之间的第一关系;基于所述第一关系和预设系数确定振镜电压与刻写长度的第二关系;基于所述第二关系对待刻写文件进行刻写。本申请通过确定振镜电压与刻写长度的第二关系,可以在刻写前直接确定当前刻写环境中的最佳系统参数,根据需要刻写的长度精确控制振镜电压,有效提高实际刻写长度的精确度,解决了多视场刻写可能存在的拼接错位问题,无论是在单视场范围内刻写还是大面积刻写的应用场景都能够有效提高刻写准确率,进而提高刻写成功率。

    一种基于振镜的超分辨激光直写系统的刻写方法及装置

    公开(公告)号:CN114415482B

    公开(公告)日:2022-07-15

    申请号:CN202210324232.7

    申请日:2022-03-30

    Abstract: 本发明公开了一种基于振镜的超分辨激光直写系统的刻写方法及装置,该方法包括:获取待刻写数据和基于振镜的超分辨激光直写系统的单次扫描范围;根据所述单次扫描范围,将所述待刻写数据分割为若干个子数据;根据全局坐标系,对所述子数据进行旋转,得到旋转数据;获取振镜的X极性和Y极性;根据所述X极性和Y极性,对所述旋转数据进行翻转,得到翻转数据;对所述翻转数据之间的拼接重合区域进行拟合,得到刻写数据;根据所述刻写数据,利用基于振镜的超分辨激光直写系统进行刻写。该方法解决振镜与全局坐标系之间存在角度偏差、振镜X/Y轴向与全局坐标轴向不一致和拼接刻写均匀性不一致的问题。

    一种超分辨激光直写与成像方法及装置

    公开(公告)号:CN114019764A

    公开(公告)日:2022-02-08

    申请号:CN202111240495.1

    申请日:2021-10-25

    Abstract: 本发明公开了一种超分辨激光直写与成像方法与装置,该装置包括三个光源,分别为引发光刻胶产生聚合反应的激发光光源,激发光刻胶中发光的荧光染料分子从基态到激发态的激发光,抑制光刻胶聚合并同时使荧光染料分子产生受激辐射的抑制光光源或损耗光光源,抑制光与损耗光为同一个光源。其中,引发光刻胶聚合的激发光经过准直最后通过物镜在样品面上汇聚成圆形实心光斑;抑制光经过准直后,再通过相位掩膜调制相位,最后由物镜汇聚到样品面上形成环形空心光斑;光刻胶中荧光染料的激发光经过准直最后通过物镜在样品面上汇聚形成圆形实心光斑。本发明可以实现纳米结构刻写完成后直接的光学成像,无需进行电镜成像,使操作更为简单。

    可连续像旋转调制的超分辨高速并行激光直写方法与装置

    公开(公告)号:CN113985708A

    公开(公告)日:2022-01-28

    申请号:CN202111247035.1

    申请日:2021-10-26

    Abstract: 本发明公开了一种可连续像旋转调制的超分辨高速并行激光直写方法与装置。本发明利用空间光调制器产生多束刻写光与多束抑制光,抑制光与刻写光在空间上重合形成调制后的多光束。利用像旋转器对调制后的多光束排布方向进行旋转,使得多光束排布方向与转镜扫描方向连续可调,实现了五种不同的高速扫描策略。本发明通过引入抑制光,相较于现有双光子并行激光直写具有更高的分辨率。并通过不同的扫描策略,解决了现有系统由于扫描策略单一导致扫描效果与扫描速度不佳的问题。

Patent Agency Ranking