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公开(公告)号：CN102297655A
公开(公告)日：2011-12-28
申请号：CN201010209400.5
申请日：2010-06-24
Applicant: 上海电缆研究所 , 上海赛克力光电缆有限责任公司
Abstract: 本发明公开了一种能在一个装置上进行双向定位和同步测试的测试方法，将光纤的一端剥离涂覆层、切割裸光纤端面后固定在近端调节架上，另一端切割光纤涂覆层端面后固定在远端调节架上；调节近端调节架和远端调节架的位置，使近端端面和远端端面在CCD中心位置成像清晰；降下近端反射镜，使近端反射镜不阻挡近端光源至近端的光，调节远端反射镜和中间反射镜的位置，使远端成像在CCD上；升起近端反射镜，降下远端反射镜，调节近端反射镜和中间反射镜的位置，使近端成像在CCD上。本发明通过上述步骤能够对裸光纤的端面和涂覆层的端面同步进行测试。本发明还可实现对光线注入端光纤位置的精确定位。本发明还可分别对裸光纤端面和涂覆层端面的成像光路进行标定校准，提高测试精度。
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公开(公告)号：CN101676732A
公开(公告)日：2010-03-24
申请号：CN200810200066.X
申请日：2008-09-18
Applicant: 上海电缆研究所 , 上海赛克力光电缆有限责任公司
CPC classification number: G01R31/021
Abstract: 本发明公开了一种高频接线盘。包括盘体和第一夹具，所述第一夹具包括第一底座，和与第一底座枢轴连接的盖板，所述第一底座和盖板之间设有锁紧机构，第一底座上设有触点，盖板在相应于触点的位置上设有压柱。与现有技术相比，本发明涉及的高频接线盘采用了翻盖式夹具，可大大缩短剥线长度，能够高频测试。
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公开(公告)号：CN101387568A
公开(公告)日：2009-03-18
申请号：CN200710045790.5
申请日：2007-09-11
Applicant: 上海电缆研究所 , 上海赛克力光电缆有限责任公司
Abstract: 一种六氟化硫泄漏点的定位方法及其定位系统，所述方法包括如下步骤：步骤一：采用六氟化硫吸收谱所对应波长范围的第一光源扫描被测设备的测试区域，获得第一图像；步骤二：采用不同于第一光源对应波长范围的第二光源扫描该测试区域，获得第二图像；步骤三：比较第一图像和第二图像的对应位置是否存在阴影暗区变化，若不存在变化，则判断该测试区域无气体泄漏；若第二图像中对应于第一图像的阴影暗区位置变亮，则判断有气体泄漏。一种六氟化硫泄漏点定位系统，包括：光源发生装置，图像采集装置。本发明可以准确地对六氟化硫气体泄漏点进行定位，避免了对六氟化硫泄漏点的误判。
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公开(公告)号：CN101126790A
公开(公告)日：2008-02-20
申请号：CN200610030215.3
申请日：2006-08-18
Applicant: 上海电缆研究所 , 上海赛克力光电缆有限责任公司
Abstract: 本发明涉及一种测试通道共同与分立标定方法，在以某一通道为公共通道，对所有通道进行共同标定的基础上，通过对标准件的测试结果分析，对某个通道进行单独标定，或对某些雷同的通道进行共同标定，解决了传统的标定方法调整误差操作复杂，费时费力的问题。采用本发明所述的测试通道共同与分立标定方法不仅保证了测试数据的准确性，提高了生产效率，也有效的减少了原材料的浪费。
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公开(公告)号：CN112255729B
公开(公告)日：2022-04-01
申请号：CN202011203354.8
申请日：2020-11-02
Applicant: 上海电缆研究所有限公司 , 上海理工大学 , 上海工程技术大学 , 上海赛克力光电缆有限责任公司
IPC: G02B6/25
Abstract: 本申请公开了一种夹紧装置、光纤切割装置及光纤切割方法，涉及光纤切割相关技术领域，夹紧装置包括活动组件和固定组件，活动组件配置有与光纤部分外表面接触并能够钩住光纤的钩部；固定组件与活动组件相隔预设距离，且配置有朝向活动组件的倾斜面；光纤悬垂述钩部与倾斜面之间，活动组件向靠近固定组件的方向移动至预设位置后，活动组件的钩部钩住光纤，且倾斜面与光纤暴露于钩部之外的外表面线性接触并与钩部共同限制光纤移动。本申请中利用钩部和倾斜面共同限定出用于容纳光纤的空间，并将光纤限制在该空间内，且夹紧装置夹紧光纤前不需校准，只需根据光纤的直径设定好预设位置即可，简化了操作步骤。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN114236303A
公开(公告)日：2022-03-25
申请号：CN202010938876.6
申请日：2020-09-09
Applicant: 上海电缆研究所有限公司 , 上海赛克力光电缆有限责任公司
Abstract: 本申请提供一种大容量电缆网络状态的快速测试方法及测试系统。所述快速测试方法包括：将预定数量的电缆进行分组；将每组内的电缆划分为多个测试单元；根据测试需求确定出每个测试单元中的需测试的连接点集；对一个测试单元中的连接点集与该组内其他测试单元中的连接点集分别进行电缆网络状态参数。的测试。本申请中的快速测试方法通过将大量的电缆进行分组，只对组内的电缆网络状态进行测试，避免了没有关联关系的电缆之间的不必要的测试，大大缩减测试量。同时，大量的电缆被划分为多个分组，每个分组内的电缆数量成倍数减少，用于测试的测试终端的体积随之大大减小，进而使测试系统的结构大大简化，系统故障减少，测试效率提高。
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公开(公告)号：CN114236302A
公开(公告)日：2022-03-25
申请号：CN202010937761.5
申请日：2020-09-09
Applicant: 上海电缆研究所有限公司 , 上海赛克力光电缆有限责任公司
Abstract: 本申请公开了一种用于电缆状态的测试方法及系统，涉及电缆测试相关技术领域，该测试方法包括区分并确定出待测试电缆的种类；对于每一种类的电缆，根据电缆所包含的芯线的种类确定出该类电缆中的芯线并集；将每个种类的电缆的芯线并集进行汇总确定出芯线总集；根据芯线总集构建测试终端；测试终端设有与芯线总集连接点一一对应的连接端口；利用测试终端对预定数量的电缆进行电缆状态的测试。本申请根据电缆的种类、电缆所包含芯线的种类构建出测试终端，该测试终端适用于对不同种类的电缆进行电缆状态测试，且便于携带、易于操作；利用该测试终端对电缆进行电缆状态的测试，能够简化测试系统的结构，进而降低测试系统的故障，大幅提高测试效率。
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公开(公告)号：CN110046630A
公开(公告)日：2019-07-23
申请号：CN201810040806.1
申请日：2018-01-16
Applicant: 上海电缆研究所有限公司 , 上海赛克力光电缆有限责任公司
IPC: G06K9/62
Abstract: 本发明提供一种物体的缺损模式识别方法、系统、装置及可读存储介质，物体的缺损模式识别方法包括：对所采集的待识别物体在特定背景板中的图像进行预处理，以获取预处理的待识别物体图像；以该物体的完整模式图像为参照，利用第一预设识别方式和第二预设识别方式识别所述预处理的待识别物体图像，并获取第一识别数据和第二识别数据；评定所述第一识别数据和第二识别数据，以获取用于判别该物体是否缺损的判别数据。本发明能够精确识别电缆表面缺损，提高检测效率、降低成缆错误率，保证了电缆产品的生产质量。
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公开(公告)号：CN104345209B
公开(公告)日：2017-07-14
申请号：CN201310347895.1
申请日：2013-08-09
Applicant: 上海电缆研究所有限公司 , 上海赛克力光电缆有限责任公司 , 上海森首光电科技有限公司
IPC: G01R19/32
Abstract: 本发明提供一种光纤光栅温度自补偿电流传感器，包括悬臂梁和固定在悬臂梁上的第一光纤光栅、第二光纤光栅，所述悬臂梁依次包括固定端、变形部和自由端，所述第一光纤光栅和第二光纤光栅分别位于变形部的上下两侧、且相互串联连接，所述固定端固定在一固定架上，自由端上设有一衔铁，还包括一固定在固定架上的导磁体，所述导磁体呈开口环状，该导磁体中间设有一容许被测导线穿过的空腔，所述导磁体两端之间设有一与空腔连通的缺口，且导磁体两端与衔铁端部之间均设有气隙。该电流传感器通过导磁体感应被测电线中被测电流的大小，克服了现有技术中因电磁铁内部的磁‑电转换或电‑磁转换而产生的误差，进而提高测量精度。
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公开(公告)号：CN104458217B
公开(公告)日：2017-01-11
申请号：CN201410852007.6
申请日：2014-12-31
Applicant: 上海电缆研究所 , 上海赛克力光电缆有限责任公司
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明提供一种同步测试光纤衰减系数和截止波长的测试方法，采用弯曲参考法或多模参考法测试光纤衰减系数和截止波长。弯曲参考法包括以下步骤：测量待测长光纤出纤光功率；截取短光纤；测量短光纤在小圈和大圈状态下的出纤光功率；放开所述小圈，测量短光纤仅在大圈状态下的出纤光功率；计算截止波长和衰减系数。多模参考法包括以下步骤：测量待测长光纤出纤光功率；截取短光纤；测量短光纤的出纤光功率；调用系统中已有的多模光纤输出端处的出纤光功率；拟合短光纤在大圈状态下的传输功率谱，计算截止波长和衰减系数。本发明通过弯曲参考法或多模参考法可实现同步测量光纤衰减系数和截止波长，从而减少测试步骤，缩短测试时间，有效提高测试效率。
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