用于管理记录介质的缺陷的方法

    公开(公告)号:CN100520948C

    公开(公告)日:2009-07-29

    申请号:CN200610092281.3

    申请日:2004-02-27

    Abstract: 一种一次写入盘,包括存在于导入区和导出区的至少一个中的缺陷管理区;存在于导入区和导出区的至少一个中的临时缺陷管理区;以及存在于导入区和导出区的至少一个中的驱动器和盘信息区。关于临时缺陷信息和临时缺陷管理信息的位置的信息记录在驱动器和盘信息区中,临时缺陷信息和包括驱动器和盘信息的临时缺陷管理信息被记录在临时缺陷管理区中,并且为了盘完成,最后记录在临时缺陷管理区中的临时缺陷信息和临时缺陷管理信息被记录在缺陷管理区中。

    记录/再现设备和方法以及主机

    公开(公告)号:CN100452221C

    公开(公告)日:2009-01-14

    申请号:CN200510117016.1

    申请日:2005-10-28

    Abstract: 一种信息存储介质、一种使用该信息存储介质的记录/再现设备和一种使用该信息存储介质的记录/再现方法。所述信息存储介质包括数据区域,在该数据区域中,替换信息被管理用于由于记录的数据的缺陷而导致的数据替换或由于数据的更新而导致的通过逻辑覆盖(LOW)的数据替换。所述介质的数据区域包括多于一个R区,并且优先级属性被给予每个R区,从而将被记录在所述介质中的数据能够基于数据的优先级而被记录在每个R区中。因此,通过将介质的用户数据区域分为多个R区并根据将被记录的数据的属性将数据写入每个R区中,介质的用户数据区域能够根据主机的指令而被使用,因此提高了介质使用效率。

    在光学记录介质上记录数据的方法

    公开(公告)号:CN101266822A

    公开(公告)日:2008-09-17

    申请号:CN200810081211.7

    申请日:2004-04-14

    Inventor: 黄盛凞 高祯完

    Abstract: 提供一种在光学记录介质上记录数据的方法,所述光学记录介质包括导入区、数据区、导出区、临时缺陷管理区以及缺陷管理区,所述方法包括:选择缺陷管理开/关模式,所述缺陷管理开/关模式允许记录设备识别在数据被记录到所述记录介质中的同时缺陷管理是否将被执行;将临时盘定义结构记录在设置于导入区或导出区中的临时缺陷管理区中,所述临时盘定义结构包括在缺陷管理开/关模式被选择之后在数据区中分配的备用区的大小的信息。

    光学记录介质、记录/再现设备、和记录/再现方法

    公开(公告)号:CN101261868A

    公开(公告)日:2008-09-10

    申请号:CN200810085437.4

    申请日:2005-01-31

    Inventor: 黄盛凞 高祯完

    Abstract: 本发明提供一种光学记录介质、记录/再现设备、和记录/再现方法。一种信息记录介质,其上,当被创建在信息记录介质的预定区域中的用于替换缺陷块的替换块的备用区被扩大或重新分配时,扩大的或重新分配的备用区中的块的缺陷状态信息被改变并且被写在该信息记录介质上。通过管理扩大的或重新分配的备用区中的块的缺陷状态信息,驱动系统的不必要的操作被消除,因此改善了驱动系统的效率。

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