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公开(公告)号:CN101387983A
公开(公告)日:2009-03-18
申请号:CN200810223632.9
申请日:2008-09-28
申请人: 北大方正集团有限公司 , 北京北大方正电子有限公司
IPC分类号: G06F11/36
CPC分类号: G06F11/2236 , G06F11/277
摘要: 本发明公开了一种自动测试的方法及系统,尤其是公开了一种自动测试栅格图像处理器的方法及系统。现有的手工测试方式中,测试结果的正确性由人眼保证,可靠性不高。而且测试样例手动提交,较为繁琐,并具有较大的随意性,不利于回归测试。本发明所述的方法及系统通过比较待测试栅格图像处理器所生成的位图的摘要码与基准栅格图像处理器所生成的位图的摘要码是否一致,来确认待测试栅格图像处理器输出的位图的正确性,进而确认待测试栅格图像处理器的正确性与稳定性,而且自动提交测试样例。本发明所述的方法及系统相对于人眼判断,提高了测试的精度。而且实现了测试样例的自动提交,节省了人力,提高了效率。
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公开(公告)号:CN1045655A
公开(公告)日:1990-09-26
申请号:CN89108766.4
申请日:1989-11-21
申请人: 约翰弗兰克制造公司
发明人: 约翰·D·波尔斯特拉 , 布鲁斯·T·怀特 , 马歇尔·H·斯科特
IPC分类号: G06F11/22
CPC分类号: G06F11/261 , G06F11/277
摘要: 用于基于微处理器的被测部件的内核的改进的测试设备和方法。该设备和方法可用系统的自动方式对所述内核进行基本上完全的测试而使对UUT的手工探测最少。本方法所实现的测试规程包括测试原语的使用,这些测试原语允许对每一地址和数据总线线路产生特征标记,用以标识由所述设备发现故障的类型和位置。所述使用引导技术的测试方法利用了包括总线测试、数据激励和地址激励的三种原语以优化并行测试和电路和故障诊断。
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