一种射频电缆组件相位快测辅助装置

    公开(公告)号:CN109031008A

    公开(公告)日:2018-12-18

    申请号:CN201810850051.1

    申请日:2018-07-28

    CPC classification number: G01R31/013

    Abstract: 本发明公开了一种射频电缆组件相位快测辅助装置,包括有管形的外壳、转接件、芯线夹紧头、端面弹性支撑件和弹性导向环,外壳的一端与转接件固定连接,转接件便于通过射频连接器与矢量网络分析仪连接,测试射频电缆组件的相位长度,芯线夹紧头、端面弹性支撑件和弹性导向环均设置于外壳内,射频电缆伸入到外壳通过芯线夹紧头将芯线夹紧,通过端面弹性支撑件和弹性导向环对屏蔽层进行导向和弹性支撑定位。本发明为配相工作带来极大便利,保证了射频电缆组件的装配精度和尺寸一致性,省时、降低成本,且提高了电缆组件的装配质量。

    自动光敏电阻测试分选机
    23.
    发明公开

    公开(公告)号:CN106623007A

    公开(公告)日:2017-05-10

    申请号:CN201611012280.3

    申请日:2016-11-17

    CPC classification number: B07C5/344 B07C5/02 B07C5/368 G01R31/013

    Abstract: 本发明公开了一种自动光敏电阻测试分选机,具有机架和位于机架上的上料机构和直立输送机构,机架上设有环形链条,环形链条的周向外侧依次固定有光敏电阻的夹持料夹,在机架上对应直立输送机构的出料口位置设有气缸,气缸的活塞头部伸出接触动夹头的碰撞部位,拨动动夹头使其张开,实现对光敏电阻的夹持;环形链条的行进通道上设有检测控制箱体,在检测控制箱体内设有光照系统及测试组件,检测控制箱的后续通道的机架上设有取料组件,送料气缸的外侧设有承接不同分档参数光敏电阻的接料盒。本发明采用了自动上料、自动装夹、自动检测和自动分拣送料系统,对光敏电阻测试分档的智能化检测,从根本上解决了手工分档的问题。

    导电滑环的多路绝缘自动检测设备及其检测方法

    公开(公告)号:CN106226634A

    公开(公告)日:2016-12-14

    申请号:CN201610661867.0

    申请日:2016-08-12

    CPC classification number: G01R31/013 G01R27/025

    Abstract: 本发明公开了一种导电滑环的多路绝缘自动检测设备,包括底座、检测平台、绝缘电阻检测仪、连接导线和连接端口,连接导线位于检测平台上方,绝缘电阻检测仪通过连接端口与连接导线连接,底座一侧设有带动检测平台升降的升降机构,连接导线到检测平台之间的竖直距离大于待测导电滑环铜环的直径,每相邻两根连接导线之间的距离与待测导电滑环铜环的厚度相匹配。本发明采用绝缘电阻检测仪、检测平台和连接导线的配合来实现小型导电滑环同时进行多路通路绝缘的全自动检测,解决了产品以手工检测的品质和效率低下问题,可以提高检测效率、降低工人劳动强度,而且不会受到人为主观因素的影响,检测精确可靠,检测品质高,从而提高生产效率和产品质量。

    一种用于晶体快速翻转的装置

    公开(公告)号:CN106093671A

    公开(公告)日:2016-11-09

    申请号:CN201610502341.8

    申请日:2016-06-30

    CPC classification number: G01R31/013

    Abstract: 一种用于晶体快速翻转的装置,包括定位板和驱动装置,所述定位板上设置有定位槽,所述驱动装置连接有翻转传动轴,翻转传动轴由上至下依次连接有一号连动轴、定位板和二号连动轴,二号连动轴上与定位槽对应的地方设置有磁铁,一号连动轴和二号连动轴分别通过滑杆与翻转传动轴相连,翻转传动轴上设置有与滑杆配合的水平孔,滑杆插入水平孔中。本发明结构简单、使用方便、参数测量准确、并能在镭射打标作业之前完成自动翻转。

    一种工字型电感喷码点白点测试一体机

    公开(公告)号:CN105911404A

    公开(公告)日:2016-08-31

    申请号:CN201610330826.3

    申请日:2016-05-18

    CPC classification number: G01R31/013 B07C5/02 B07C5/344 B07C5/362 B41J3/44

    Abstract: 本发明公开了一种工字型电感喷码点白点测试一体机,包括机架,所述机架上设有电感输送装置、电感定位装置、电感测试装置、电感标记装置、喷码装置、分类存储装置,所述电感输送装置向电感定位装置输送电感,所述电感定位装置对电感进行定位,所述电感测试装置用于检测电感的电性能,所述电感标记装置用于对电感做方向标记,所述喷码装置用于对良品电感进行喷码,所述分类存储装置将良品电感和次品电感进行分类存储。本发明将工字型电感的电测试、喷码和点白点作业全部集中在一台机器上自动完成,提升了作业效率,而且可以避免出错。

    使用公共测量器测量不同类型长形条的磁头电阻的方法

    公开(公告)号:CN102213732B

    公开(公告)日:2014-11-19

    申请号:CN201010144633.1

    申请日:2010-03-31

    Inventor: 刘剑

    CPC classification number: G01R31/013 G01R31/2601

    Abstract: 本发明公开了一种使用公共测量器测量不同类型长形条的磁头电阻的方法,包括判断长形条的类型,若为飞米型(femto-type)长形条,则前电性研磨导向触点分别接触探针板的前针脚,后电性研磨导向触点分别接触后针脚;向前针脚施加第一电压,并向后针脚施加不等于第一电压的第二电压。若为分路型(shunting-type)长形条,则将分路型长形条的公共测试触点接触探针板的一个前针脚,磁头的测试触点分别接触余下的前针脚;向与测试触点接触的前针脚施加第三电压,并向与公共测试触点接触的前针脚施加不等于第三电压的第四电压。本发明可缩减机器的停工期及人力资源,并可避免探针板的频繁拆卸及更换,从而避免探针板受损。

    使用公共测量器测量不同类型长形条的磁头电阻的方法

    公开(公告)号:CN102213732A

    公开(公告)日:2011-10-12

    申请号:CN201010144633.1

    申请日:2010-03-31

    Inventor: 刘剑

    CPC classification number: G01R31/013 G01R31/2601

    Abstract: 本发明公开了一种使用公共测量器测量不同类型长形条的磁头电阻的方法,包括判断长形条的类型,若为飞米型(femto-type)长形条,则前电性研磨导向触点分别接触探针板的前针脚,后电性研磨导向触点分别接触后针脚;向前针脚施加第一电压,并向后针脚施加不等于第一电压的第二电压。若为分路型(shunting-type)长形条,则将分路型长形条的公共测试触点接触探针板的一个前针脚,磁头的测试触点分别接触余下的前针脚;向与测试触点接触的前针脚施加第三电压,并向与公共测试触点接触的前针脚施加不等于第三电压的第四电压。本发明可缩减机器的停工期及人力资源,并可避免探针板的频繁拆卸及更换,从而避免探针板受损。

    检验电子芯片元件的检验端子、检验方法及其检验装置

    公开(公告)号:CN1168989C

    公开(公告)日:2004-09-29

    申请号:CN02141510.2

    申请日:2002-08-30

    Inventor: 酒井哲生

    CPC classification number: G01R1/06733 G01R31/013

    Abstract: 一种用于精确测量电子芯片元件的特性并且不会使构成电子芯片元件外部电极的电极内层暴露出来的检验端子、检验方法和使用该方法的检验装置,包括在转盘的存储部分存储电子芯片元件,通过侧护罩中的吸引部分吸引电子芯片元件。检验端子的直线形边缘部分从底部压接于电子芯片元件的外部电极。直线形边缘部分为钝角并接触到外部电极,该边缘部分大致平行于外部电极的纵向方向。

    一种芯片检测用测试装置

    公开(公告)号:CN109375090A

    公开(公告)日:2019-02-22

    申请号:CN201811179315.1

    申请日:2018-10-10

    Applicant: 曾繁洪

    CPC classification number: G01R31/013 G01R31/2851

    Abstract: 本发明涉及芯片检测技术领域,且公开了一种芯片检测用测试装置,包括芯片检测台,所述芯片检测台的顶端固定安装有固定杆,所述芯片检测台的顶端固定安装有支架,所述支架的数量为两个,两个所述支架以芯片检测台的轴心为中心对称分布,两个所述支架的内部均活动连接有滚动转筒。通过芯片放置箱的内部放置有芯片,芯片经液压杆顶端的推板,使得芯片放置箱内部的芯片推至两个衔接板之间,配合传动箱内部的电动机带动转盘的旋转,转盘的外侧面固定连接有转杆与旋转盘外侧面的搭接板相接触,从而使得搭接板进行定时转动,又配合第一传动带带动输送带的旋转,从而实现输送带的定时转动,避免输送带的持续转动,对芯片的检测不够全面。

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