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公开(公告)号:CN104333383B
公开(公告)日:2018-05-11
申请号:CN201410628188.4
申请日:2014-11-10
申请人: 许继电气股份有限公司 , 许昌许继软件技术有限公司
IPC分类号: H03M1/10
摘要: 本发明涉及一种基于FPGA的A/D实时故障诊断方法,A/D芯片通过FPGA连接CPU;FPGA在采集A/D数据的同时完成A/D故障信息诊断,并记录A/D故障,将A/D故障信息和A/D数据生成一帧报文发送给对端CPU。本发明克服现有CPU软件不能对SV数据有效实时检测的不足,提供了一种基于FPGA的A/D实时故障诊断系统,实时性强,扩展性移植性好,不仅实现在采样源端对SV数据检测,也有助于定位发生故障的A/D芯片的问题所在。
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公开(公告)号:CN202648825U
公开(公告)日:2013-01-02
申请号:CN201220242429.8
申请日:2012-05-25
申请人: 许继集团有限公司 , 许继电气股份有限公司 , 许昌许继软件技术有限公司
IPC分类号: G01K7/18
摘要: 本实用新型涉及一种基于线性光耦的温度测量电路,包括至少一路测温通道,每个测温通道包括一个测量电桥、一个基准电压发生电路、一个隔离电源电路、一个运算放大电路和一个线性光耦模块。本实用新型采用了三线桥式测温电路,该电路靠近PT100,PT100通过等长导线接入桥臂,使得导线电阻得以消除,基准电压产生电路为电桥提供高精度电压源,当PT100的阻抗发生变化时,电桥平衡被打破,输出毫伏级电压,通过一个负反馈比例运算电路,调整相应的阻值,将毫伏级电压转换为期望值,该电压通过线性隔离后输出给处理器进行运算处理。该实用型设计能广泛应用在工业测温领域,使用非常方便。
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公开(公告)号:CN201935986U
公开(公告)日:2011-08-17
申请号:CN201020653140.6
申请日:2010-12-10
申请人: 许继集团有限公司 , 许继电气股份有限公司 , 许昌许继软件技术有限公司
IPC分类号: G01R31/327 , G01R31/02 , G01R15/22
摘要: 本实用新型涉及一种开关量输出的自检电路,解决了难以判断开关量输出是否工作正常的问题。本实用新型的开关量输出的自检电路中,增加了自检单元,由于控制器属弱电器件而继电器属强电器件,所以采用自检光耦元件将弱电器件与强电器件进行隔离。控制器使开出通道导通后,继电器回路连通,自检光耦的原边的光敏二极管发光,副边随之导通,通过监测与副边相连的检测端口的电平,就可以判断继电器电路中的故障情况。增加的自检单元结构简单,很容易实现,能够灵敏地检测输出通道工作是否正常。
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公开(公告)号:CN114035745A
公开(公告)日:2022-02-11
申请号:CN202111224513.7
申请日:2021-10-19
申请人: 许昌许继软件技术有限公司
IPC分类号: G06F3/06
摘要: 本发明公开了一种FLASH数据存储控制方法及装置,包括如下步骤:检测FLASH中存储的非空数据块,获取非空数据块的ECC统计信息;判断ECC统计信息中的纠错次数是否为零;如否,则将非空数据块中存储的数据复制至空闲数据块中;如是,则使非空数据块中存储的数据维持当前存储状态。通过异常数据块数据重写加固操作、数据块发生数据错误的风险评估、系统优先使用低风险的空闲数据块等机制实现ECC纠错能力范围限制的情况下,延长了FLASH中存储的数据的生命周期,提高了FLASH存储数据的稳定性和可靠性,极大保证了采用FLASH存储数据的嵌入式系统稳定性。
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