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公开(公告)号：CN110133710B
公开(公告)日：2021-02-26
申请号：CN201910333375.2
申请日：2019-04-24
Applicant: 苏州瑞派宁科技有限公司
Abstract: 本发明提供一种信号校正的方法及装置，方法包括以下步骤：选取两种特征能量不同的射源；使用同一闪烁探测器分别测量固定电压下两种所述射源对应的能谱，并分别从所述能谱中获取对应的峰峰值；确定信号处理器所接收的电信号与所述闪烁探测器的硅光电倍增管中被激活的雪崩二极管的数量之间的实际关系；将特征能量和峰峰值参数分别代入公式中求解未知数。装置包括能量比较器、峰值采集器和参数计算器。本发明可实现硅光电倍增管的线性校准，解决了硅光电倍增管对于能量的响应存在非线性偏差的问题，操作简便，校正效果十分理想。
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公开(公告)号：CN111175804A
公开(公告)日：2020-05-19
申请号：CN201911331645.2
申请日：2019-12-21
Applicant: 苏州瑞派宁科技有限公司
Inventor： 姜浩
Abstract: 本发明公开了一种脉冲辐射探测电路及装置，探测电路包括比较器、计数器、处理器、延时开关和模数转换器，比较器的输入端与射线转换器连接并根据脉冲辐射信号产生第二脉冲信号，计数器的输入端与比较器的输出端连接以获取计数数据，处理器的输入端与计数器的输出端连接以处理计数数据，延时开关的输入端与比较器的输出端连接以产生使能信号，模数转换器的输入端分别与射线转换器的输出端以及延时开关的输出端连接并根据使能信号接收脉冲辐射信号以产生脉冲辐射信号的累积值，处理器的输入端分别与延时开关、模数转换器的输出端连接以计算电离辐射的强度。本发明可同时测量强、弱电离辐射，兼具高灵敏度和高量程，反应迅速，测量结果准确。
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公开(公告)号：CN107884805B
公开(公告)日：2019-08-23
申请号：CN201710898897.8
申请日：2017-09-28
Applicant: 苏州瑞派宁科技有限公司
IPC: G01T1/29
Abstract: 本发明提供一种射源定位的方法与装置，包括步骤：S1：在第一位置处测量闪烁晶体阵列的第一计数率组；S2：利用第一计数率组计算射源相对于闪烁晶体阵列的第一相对角度；S3：将闪烁晶体阵列移动至第二位置处；S4：在第二位置处测量闪烁晶体阵列的第二计数率组；S5：利用第二计数率组计算射源相对于闪烁晶体阵列的第二相对角度，第二相对角度的计算方法与步骤S2相同；S6：利用第一相对角度和第二相对角度计算射源的相对位置坐标。该装置包括闪烁晶体阵列、与闪烁晶体阵列耦合的硅光电倍增器阵列、与硅光电倍增器阵列通信连接的多路计数模块、与多路计算模块通信连接的计算模块以及屏幕。本发明能以低成本实现高效率的射源定位。
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公开(公告)号：CN109407139A
公开(公告)日：2019-03-01
申请号：CN201811569961.9
申请日：2018-12-21
Applicant: 苏州瑞派宁科技有限公司
IPC: G01T1/202
Abstract: 本申请实施例公开了一种组合闪烁晶体及包括组合闪烁晶体的辐射探测装置和系统。该组合闪烁晶体可以包括第一闪烁晶体和第二闪烁晶体，所述第二闪烁晶体设置于所述第一闪烁晶体的外部并包裹所述第一闪烁晶体，并且所述第二闪烁晶体上开设有供射线穿过其入射到所述第一闪烁晶体上的开孔，其中，所述第一闪烁晶体的光输出量大于所述第二闪烁晶体的光输出量。通过利用本申请实施例提供的组合闪烁晶体及包括该组合闪烁晶体的辐射探测装置和系统，可以使所测得的能量响应曲线更加平坦，这可以减小吸收剂量率的测量偏差。
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公开(公告)号：CN104614754B
公开(公告)日：2017-08-25
申请号：CN201510038296.0
申请日：2015-01-26
Applicant: 苏州瑞派宁科技有限公司
IPC: G01T1/202
CPC classification number: G01T1/202 , G01T1/1642 , G01T1/2008 , G01T1/2985
Abstract: 一种组合闪烁晶体，包括若干闪烁晶体A及若干闪烁晶体B，闪烁晶体A与闪烁晶体B为性能不尽相同的闪烁晶体，若干闪烁晶体B排列成一个B闪烁晶体模块，若干闪烁晶体A从B闪烁晶体模块的射线入射面外侧包裹B闪烁晶体模块，闪烁晶体A的灵敏度低于闪烁晶体B，闪烁晶体A的光输出高于闪烁晶体B。本发明利用不同闪烁晶体参数差异解决灵敏度和计数率线性度矛盾的问题，通过灵敏度及光输出的差异选择，使得低能射线大量沉积于高光子效率的闪烁晶体A中，高能射线沉积于低光子效率的闪烁晶体B中，避免产生过高光子量造成SiPM饱和，有效解决SiPM配合闪烁晶体使用时动态范围不足的问题，并有效缓解了宽计数率范围和高灵敏度需求的矛盾。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN107247284B
公开(公告)日：2023-09-22
申请号：CN201710614096.4
申请日：2017-07-25
Applicant: 苏州瑞派宁科技有限公司
Abstract: 本发明提供一种闪烁探测器的增益校正装置和方法，该装置包括校准射源和至少两路比较器、计数模块、温度传感器和单片微型计算机，每一路比较器均与光电器件通信连接以将不同能量段的模拟电压信号转换为数字脉冲信号；计数模块分别与每一路比较器通信连接并同时测量数字脉冲信号的计数率；温度传感器实测闪烁探测器表面温度数据；单片微型计算机与计数模块通信连接并根据计数率和实测温度数据计算目标增益以及校正电压；高压电源与单片微型计算机连接以接收校正电压，高压电源还与光电器件连接以根据校正电压实现光电器件的增益校正。本发明可根据温度直接调整增益，可避免信息缺失，加快了校准速度，提高了增益校正的效率。
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公开(公告)号：CN109839655B
公开(公告)日：2021-01-01
申请号：CN201910186190.3
申请日：2019-03-12
Applicant: 苏州瑞派宁科技有限公司
Abstract: 本发明提供一种辐射探测装置，包括探测器外壳、探测器、主板和把手，探测器包括相互耦合的闪烁晶体以及光电转换器件，主板与光电转换器件通信连接，主板与探测器均设置于探测器外壳内，把手与探测器外壳连接把手内设置有电池仓，电池仓内放置电池，电池与主板电连接，把手上设置有与电池仓配合的电池仓盖，把手外设置有套筒，电池仓盖位于套筒内且抵触套筒内壁。本发明还包括调节机构以及防护罩。本发明设置多道保险，解决了电池、电池仓盖易脱落的问题，拆卸方便；探测适用范围更广，探测效果更佳，防护罩不易丢失。
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公开(公告)号：CN110133710A
公开(公告)日：2019-08-16
申请号：CN201910333375.2
申请日：2019-04-24
Applicant: 苏州瑞派宁科技有限公司
Abstract: 本发明提供一种信号校正的方法及装置，方法包括以下步骤：选取两种特征能量不同的射源；使用同一闪烁探测器分别测量固定电压下两种所述射源对应的能谱，并分别从所述能谱中获取对应的峰峰值；确定信号处理器所接收的电信号与所述闪烁探测器的硅光电倍增管中被激活的雪崩二极管的数量之间的实际关系；将特征能量和峰峰值参数分别代入公式中求解未知数。装置包括能量比较器、峰值采集器和参数计算器。本发明可实现硅光电倍增管的线性校准，解决了硅光电倍增管对于能量的响应存在非线性偏差的问题，操作简便，校正效果十分理想。
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公开(公告)号：CN104614754A
公开(公告)日：2015-05-13
申请号：CN201510038296.0
申请日：2015-01-26
Applicant: 苏州瑞派宁科技有限公司
IPC: G01T1/202
CPC classification number: G01T1/202 , G01T1/1642 , G01T1/2008 , G01T1/2985
Abstract: 一种组合闪烁晶体，包括若干闪烁晶体A及若干闪烁晶体B，闪烁晶体A与闪烁晶体B为性能不尽相同的闪烁晶体，若干闪烁晶体B排列成一个B闪烁晶体模块，若干闪烁晶体A从B闪烁晶体模块的射线入射面外侧包裹B闪烁晶体模块，闪烁晶体A的灵敏度低于闪烁晶体B，闪烁晶体A的光输出高于闪烁晶体B。本发明利用不同闪烁晶体参数差异解决灵敏度和计数率线性度矛盾的问题，通过灵敏度及光输出的差异选择，使得低能射线大量沉积于高光子效率的闪烁晶体A中，高能射线沉积于低光子效率的闪烁晶体B中，避免产生过高光子量造成SiPM饱和，有效解决SiPM配合闪烁晶体使用时动态范围不足的问题，并有效缓解了宽计数率范围和高灵敏度需求的矛盾。
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公开(公告)号：CN209928027U
公开(公告)日：2020-01-10
申请号：CN201920310130.3
申请日：2019-03-12
Applicant: 苏州瑞派宁科技有限公司
Abstract: 本实用新型提供一种辐射探测装置，包括支架、手部探测单元、足部探测单元和电源，支架具有相对的顶部和底部；手部探测单元设置于支架的顶部，手部探测单元包括两组手部探测器，两组手部探测器分别设置于顶部相对的两侧，每一组手部探测器分别包括两个探测器，每一组手部探测器中的两个探测器之间具有探测空隙；足部探测单元设置于支架的底部，足部探测单元包括两个足部探测器；电源分别与手部探测单元、足部探测单元和工控机连接。本实用新型极大地缩短了辐射检测时长，操作简便。
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