公开(公告)号：CN101256791B

公开(公告)日：2011-02-09

申请号：CN200810082217.6

申请日：2008-02-26

Applicant: 三菱电机株式会社

Inventor： 篠田昌久 ,  松原大介 ,  中井贤也 ,  中原宏勲

IPC: G11B7/24 ,  G11B7/135

CPC classification number: G11B7/22 ,  G11B7/1376 ,  G11B7/13925

Abstract: 提供一种光拾波器装置的调节方法和制造方法、及可以使这些方法实现的光拾波器调节用光盘，可以将准直透镜的光轴方向之外的方向的位移对光检测器的检测信号的影响控制在允许范围内。作为解决手段，光拾波器调节用光盘(30)具有：保护基板(31)；和光拾波器调节用的中间深度信息记录层(32mid)，其形成为光盘标准规定的最大深度信息记录层的深度Dmax和最小深度信息记录层的深度Dmin的中间的深度Dmid。光拾波器装置的调节方法如下，光拾波器装置(10)隔着保护基板(31)向光拾波器调节用光盘(30)的中间深度信息记录层(32mid)照射激光L1，并检测反射激光L2，调节装置(20)根据反射激光L2的检测结果，调节光拾波器装置(10)的光检测器(16)的位置。

公开(公告)号：CN101297362A

公开(公告)日：2008-10-29

申请号：CN200680040365.0

申请日：2006-09-19

Applicant: 三菱电机株式会社

Inventor： 松原大介 ,  篠田昌久

IPC: G11B7/135

CPC classification number: G11B7/1356 ,  G11B7/1275 ,  G11B7/1353 ,  G11B2007/0006

Abstract: 本发明构成为，为了对可使用多种波长的光的光介质进行记录和再现，可使用公共的光检测器检测由光介质反射的多个反射光。该光拾取装置具有：第1发光部，其输出具有第1波长的第1光；第2发光部，其输出具有第2波长的第2光；第3发光部，其输出具有第3波长的第3光；光轴调节元件，其可调节从发光部输出且由光记录介质反射的返回光的光轴；以及一个光检测器，其接收通过了光轴调节元件的返回光，第1发光部和第3发光部分别配置成使第1光的光轴和第3光的光轴大致一致，光轴调节元件调节第2光的返回光的光轴，一个光检测器接收第1光的返回光、第2光的返回光以及第3光的返回光。