一种闪存芯片的缺陷检测方法及系统

    公开(公告)号:CN114220475B

    公开(公告)日:2024-10-29

    申请号:CN202111533669.3

    申请日:2021-12-15

    Inventor: 杨柳 王志刚

    Abstract: 本申请公开了一种闪存芯片的缺陷检测方法及系统,按照在相同位线上依次选取不同字线的方式进行扫描读取,对于任一条位线,如果该位线上没有缺陷存储单元,则该位线的输出结果为第一输出结果,只要该位线上有一个缺陷存储单元,则该位线的输出结果就被锁定为第二输出结果,可见,每条位线只需要输出一个输出结果,而不必像现有技术那样,需要将所有的存储单元的存储数据全部输出,因此,与现有技术相比,该方法输出的数据量缩小了几个数量级,而且,每一条位线的输出结果反映了该条位线中是否存在缺陷存储单元,因此,该方法也无需像现有技术那样再对输出数据进行缺陷地址分析,从而大大提高闪存芯片中缺陷的检测速度,减少测试成本。

    一种群体决策能力评估方法及装置

    公开(公告)号:CN110750620B

    公开(公告)日:2022-05-13

    申请号:CN201910823344.5

    申请日:2019-09-02

    Applicant: 清华大学

    Abstract: 本发明实施例提供一种群体决策能力评估方法及装置,所述方法包括:确定每个发言角色的每次发言内容的主题和关联度向量;所述关联度向量是反映所述发言内容与所有发言角色的所有主题关联程度的向量;根据每个发言角色的所有发言内容对应的所有关联度向量、及每个发言角色对应的可量化的群体决策结果,确定每个主题影响群体决策结果的重要程度;根据所有重要程度和关联度向量,计算每个发言角色对应的衡量个体抓取主题能力的第一指标参数,并根据所述第一指标参数对每个发言角色的个体抓取主题能力进行评估。所述装置执行上述方法。本发明实施例提供的群体决策能力评估方法及装置,降低评估成本、提高评估效率。

Patent Agency Ranking