-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN1411787A
公开(公告)日：2003-04-23
申请号：CN02147227.0
申请日：2002-10-18
Applicant: 株式会社东芝
CPC classification number: A61B6/032 , A61B6/027 , A61B6/4014 , A61B6/4488 , A61B6/586
Abstract: 本发明的一种X射线计算断层摄影设备包括：一个第一数据探测系统，包括一个第一X射线管和一个第一X射线探测器；和一个第二数据探测系统，包括一个第二X射线管和一个第二X射线探测器。一个重新构造单元根据由第一和第二数据探测系统的至少一个探测的数据重新构造图像数据。一个监视单元监视第一数据探测系统。在其期间第一数据探测系统是正常的时段中，由第一和第二数据探测系统进行数据获得。在其期间第一数据探测系统有故障的时段中，仅由第二数据探测系统进行数据获得。
-
公开(公告)号：CN1298286C
公开(公告)日：2007-02-07
申请号：CN02147979.8
申请日：2002-10-31
Applicant: 株式会社东芝
IPC: A61B6/03
CPC classification number: A61B6/587 , A61B6/032 , A61B6/4085 , A61B6/542 , A61B6/56
Abstract: 提供对准信息的计算机X射线断层造影设备包括X射线发生器、X射线检测器和控制器。X射线发生器产生X射线。X射线检测器包含沿切片方向的多个检测段，检测由X射线发生器产生的X射线。控制器根据从至少两个检测段获得的检测信息，提供切片方向上X射线发生器和X射线检测器之间的对准信息，其中所述至少两个检测段的每一个都至少被X射线的半影部分覆盖。
-
公开(公告)号：CN1736335A
公开(公告)日：2006-02-22
申请号：CN200510103739.6
申请日：2002-10-18
Applicant: 株式会社东芝
Abstract: 本发明的一种X射线计算断层摄影设备包括：一个第一探测系统，带有一个以第一照射剂量用X射线照射要检查的物体的第一X射线管、和一个探测透过物体的X射线的第一X射线探测器；一个第二探测系统，带有一个以比第一照射剂量高的第二照射剂量用X射线照射物体的第二X射线管、和一个探测透过物体的X射线的第二X射线探测器；及一个运动机构，配置成在物体的本体轴线方向上运动第一和第二数据探测系统的至少一个。
-
公开(公告)号：CN1415274A
公开(公告)日：2003-05-07
申请号：CN02147979.8
申请日：2002-10-31
Applicant: 株式会社东芝
IPC: A61B6/03
CPC classification number: A61B6/587 , A61B6/032 , A61B6/4085 , A61B6/542 , A61B6/56
Abstract: 提供对准信息的计算机X射线断层造影设备包括X射线发生器、X射线检测器和控制器。X射线发生器产生X射线。X射线检测器包含沿切片方向的多个检测段，检测由X射线发生器产生的X射线。控制器根据从至少两个检测段获得的检测信息，提供切片方向上X射线发生器和X射线检测器之间的对准信息，其中所述至少两个检测段的每一个都至少被X射线的半影部分覆盖。
-
公开(公告)号：CN1162617A
公开(公告)日：1997-10-22
申请号：CN97103036.7
申请日：1997-03-14
IPC: C09K11/06
CPC classification number: C09K11/7701 , C09K11/7706 , C09K11/7767 , C09K11/7774
Abstract: 本发明涉及一种荧光体及其制造方法，将含有荧光体母体及赋活剂的荧光体粉用酸洗涤后干燥，将得到的产物作为原料在热等离子体中在荧光体的一部分气化的温度下加热，冷却后再于1200～1700℃下进行热处理，由此使构成荧光体母体的至少1种元素或构成赋活剂的至少1种元素具有沿着从粒子表面向粒子中心方向的浓度分布。
-
-
-
-
Search Results
25
records
(took 0.047 seconds)
